?
Анализ влияния суммарной поглощенной дозы на характеристики элементной базы КНИ КМОП БИС ОЗУ
С. 90-95.
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., Orekhov E. V., Зимин А. Е., Yatmanov A., Устименко С. Н., Voevodin A., Суховирский Д. М., Тихонов Е. В., Захаров А. Г., Карачкин С. В.
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн. : Электроника, микро- и наноэлектроника. Сборник научных трудов 12-ой Российской научно-технической конференции (г. Суздаль, 28 июня – 2 июля 2010 г.). : М. : НИЯУ МИФИ, 2010. С. 84-89.
В работе представлены результаты применения cредств трехмерного приборно-технологического моделирования для анализа влияния конструктивно-топологических вариантов КНИ МОП-транзисторов на возникающие в них радиационные токи утечки. ...
Added: April 12, 2012
Orekhov E. V., В кн. : Электроника, микро- и наноэлектроника. Сборник научных трудов 14-ой Российской научно-технической конференции. Суздаль 2012 г. : М. : НИЯУ МИФИ, 2012. С. 8-15.
Описана процедура определения параметров улучшенной электрической подсхемы, подключаемой к SPICE модели КНИ МОП транзистора для учета влияния ОЯЧ, из результатов смешанного моделирования с помощью Synopsys TCAD. По сравнению со стандартной подсхемой, содержащей простой генератор тока с двумя экспонентами, описываемая подсхема является более точной, т.к. учитывает рассасывание заряда трека за счет двух механизмов: рекомбинации избыточных носителей ...
Added: April 12, 2012
Artyukhova M. A., В кн. : Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции, 2014. : М. : НИУ ВШЭ, 2014. С. 294-296.
Consider a method evaluation of reliability indicators of the onboard equipment of spacecraft with
exposure to ionizing radiation of outer space. This study (research grant No 14-05-0038) was supported by The
National Research University - Higher School of Economics’ Academic Fund Program in 2014. ...
Added: November 30, 2014
Andreev D. V., Bondarenko G.G., Andreev V. V. et al., Acta Physica Polonica A 2019 Vol. 36 No. 2 P. 263-266
The paper considers an influence of different kinds of radio-frequency plasma treatments onto modification
of MIS structures with a thermal SiO2 film which is aimed at improvement of electro-physical parameters of
the film. It was found that for the modification of MIS structures it is more preferable to utilize the oxygen
plasma radio-frequency plasma treatment performed by a ...
Added: November 5, 2019
Radiation resistance of structural radiation-protective composite material based on magnetite matrix
Yastrebinskii R. N., Bondarenko G., Pavlenko V. I., Inorganic Materials: Applied Research 2016 Vol. 7 No. 5 P. 718-723
The effect of fast electrons with energy of 0.5–6.2 MeV at a fluence of 1018 electrons/cm2 and γ sources of 60Со (Е = 1.25 МeV) at the absorbed dose of 0.1–25 MGy on the radiation-protective composites based on a magnetite matrix used for biological protection of nuclear reactors is calculated and studied experimentally. The depth ...
Added: September 21, 2016
Адонин А. С., Петросянц К. О., М. : Химия, 2016
Книга посвящена интегральным схемам (ИС) со структурой КМОП «кремний на сапфире», которые являются стратегическим важным направлением создания ИС для экстремальных и ответственных применений и одновременно быстро развивающимся перспективным направлением создания больших ИС (БИС) и систем на кристалле (СнК) для мобильных систем связи. В книге рассмотрены следующие вопросы: специфика интегральных схем со структурой КМОП КНС; требования ...
Added: April 5, 2016
Kharitonov I. A., , in : Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’10). : Kharkov : Kharkov national university of radioelectronics, 2010. P. 358-361.
The multi-level methodology for CMOS SOI/SOS IC element parameterization for VLSI radiation hardness prediction by CAD systems is developed. The methodology includes semiconductor technology simulation, CMOS SOI/SOS MOSFET device simulation with radiation effects, irradiated test structures investigation, radiation dependent SPICE model parameter extraction with ICCAP. The measured data of irradiated MOSFET test structures is used ...
Added: April 12, 2012
Zhadnov V. V., В кн. : Изобретения. Полезные модели: Официальный бюллетень Федеральной службы по интеллектуальной собственности (РОСПАТЕНТ). Вып. 33.: М. : Отделение подготовки и выпуска официальной информации Федерального государственного бюджетного учреждения «Федеральный институт промышленной собственности» (ФИПС), 2013.
1. Двусторонняя печатная плата, включающая диэлектрическую подложку из, по меньшей мере, двух слоев стеклоткани, с отверстиями и контактными площадками и сформированную на ней электрическую схему, отличающаяся тем, что диэлектрическая подложка дополнительно снабжена защитным экраном, размещенным между слоями стеклоткани и выполненным из материала, обеспечивающего локальное экранирование для телесных углов до 2 стерадиан.
2. Двусторонняя печатная плата по ...
Added: April 9, 2014
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., В кн. : Электроника, микро- и наноэлектроника: Сборник научных трудов 15-ой Российской научно-технической конференции (г. Суздаль, 25 – 28 июня 2013 г.). : М. : НИЯУ МИФИ, 2013. С. 303-309.
Проведено сравнение SPICE-моделей BSIMSOI‑RAD и EKV‑RAD, предназначенных для КНИ/КНС МОП-транзисторов с учётом радиационных эффектов, по существенным критериям: набору учитываемых эффектов, количеству параметров, способу учёта эффектов плавающей подложки, процедуре экстракции параметров, времени моделирования. Показано, что при совпадающем наборе учитываемых эффектов макромодель EKV‑RAD является предпочтительной. ...
Added: June 10, 2013
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн. : Международная конференция «Микроэлектроника 2015». Сборник тезисов. г.Алушта, Крым, 28 сентября - 3 октября 2015 г. : М. : Техносфера, 2015. С. 239-240.
При решении задачи создания на базе КНИ КМОП технологии высокотемпературных (с предельной рабочей температурой до 300°С) полупроводниковых микросхем для различных применений необходимо использовать методы и средства компьютерного моделирования. К сожалению, существующие в настоящее время SPICE-модели КНИ МОПТ рассчитаны на диапазон рабочих температур до +150°С. В настоящей работе диапазон существующих стандартных моделей КНИ МОПТ расширен до 300°С. ...
Added: February 16, 2016
50584562, Popov D., Bykov D., Russian Microelectronics 2018 Vol. 47 No. 7 P. 487-493
The sub-100-nm CMOS process with a high-κ gate dielectric is one of the key technologies for the
fabrication of digital, analog, and RF VLSI circuits and on-chip systems. The influence of ionizing radiation
on 45-nm MOS transistors with a high-κ dielectric fabricated using the bulk-silicon and SOI technologies is
simulated. Effects induced by the substitution of SiO2 with ...
Added: January 30, 2018
Polesskiy S., Artyukhova M. A., Лебедева Н. А., В кн. : Тезисы докладов 17 научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем «Стойкость-2014»: Научн. техн. сб. 2014. : М. : НИЯУ МИФИ, 2014. С. 163-164.
Рассматривается метод определения вероятности безотказной работы функционального узла аппаратуры космического аппарата за срок активного существования в условиях низкоинтенсивного ионизирующего облучения при анализе надежности усилителя мощности. ...
Added: July 7, 2014
Kharitonov I. A., Гоманилова Н. Б., Petrosyants K. O. et al., В кн. : Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции (2013). : М. : МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013. С. 274-276.
В работе приведены результаты применения комплекса, состоящего из автоматизированных измерительных приборов и программной части, для создания и отладки схемотехнических моделей электронных компонентов с учетом влияния температуры. Приведены примеры применения комплекса для создания схемотехнических моделей биполярных и МОП транзисторов в диапазоне температур от -60оС до +120оС.инфорсма ...
Added: November 11, 2013
Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kharitonov I. A. et al., Russian Microelectronics 2011 Vol. 40 No. 7 P. 457-462
A compact BSIMSOI-RAD macromodel for SOI/SOS CMOS transistors is developed that takes into account the radiation effects. An automated procedure for determination of macromodel parameters is described and shown to be useful for analyzing radiation hardness of CMOS IC fragments depending on the total absorbed dose. The simulation time is estimated. ...
Added: April 12, 2012
Вологдин Э. Н., Lysenko A. P., М. : НИУ ВШЭ, 2018
The main content of the training manual is:
consideration of issues of interaction of the main types of radiation with a solid,
structures of specific point and group radiation defects in silicon, germanium and gallium arsenide are considered,
Theoretical prerequisites for the calculation of the change in the basic electro-physical parameters of semiconductors are considered;
a summary of the ...
Added: March 15, 2018
Petrosyants K. O., Popov D., , in : 2017 International Workshop on Reliability of Micro- and Nano-Electronic Devices in Harsh Environment” (IWRMN-EDHE 2017). : Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, 2017. P. 1-3.
TID response of 45nm high-k bulk and SOI MOSFETs was of simulated. The set of new physical semi-empirical models accounting for TID dependences trap densities, carrier mobilities, carrier lifetime was developed and introduced into TCAD. Acceptable agreement between simulated results and experimental data was achieved. ...
Added: October 16, 2017
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн. : Электроника, микро- и наноэлектроника. Сборник научных трудов 14-ой Российской научно-технической конференции. Суздаль 2012 г. : М. : НИЯУ МИФИ, 2012. С. 8-20.
Описана макромодель EKV-RAD для КНИ/КНС МОП-транзисторов, построенная на базе стандартной модели EKV. Макромодель дополнительно учитывает эффекты плавающей подложки и различных видов радиационного воздействия и легко встраивается в программу SPICE и её разновидности.
Макромодель опробована на конкретных примерах расчёта аналоговых и цифровых узлов радиационно стойких КНИ/КНС КМОП БИС и обеспечивает достаточную для практических применений точность. ...
Added: March 21, 2014
Polesskiy S., Artyukhova M. A., В кн. : Современные проблемы радиоэлектроники: сб. науч. тр. : Красноярск : Сибирский федеральный университет, 2012. С. 233-244.
Рассмотрены пути повышения точности расчетной оценки прогнозируемой радиационной стойкости бортовой аппаратуры космических аппаратов. Также представлена разрабатываемая методика, направленная на обеспечение радиационной стойкости бортовой аппаратуры на ранних стадиях проектирования. ...
Added: November 13, 2012
Polesskiy S., Artyukhova M. A., В кн. : Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы пятнадцатого научно-практического семинара. : М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012. С. 263-267.
Рассматриваются вопросы повышение точности расчетной оценки стойкости на ранних стадиях проектирования за счет использования полей распределения накопленной дозы для печатных узлов. ...
Added: October 26, 2012
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., В кн. : Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XIV научно-технической конференции Москва, 7-9 октября 2015 г. : М. : ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2015. С. 239-243.
В данной работе описаны особенности процедуры измерения электрических характеристик и определения параметров SPICE-моделей биполярных транзисторов различного типа в диапазоне изменения температуры от минус 60 °C до +125 °C, что проиллюстрировано на примере отечественного дискретного биполярного транзистора из состава транзисторной матрицы 1НТ251А. Подробная пошаговая полуавтоматизированная процедура экстракции параметров была реализована с использованием автоматизированного комплекса IC‑CAP. ...
Added: February 16, 2016
Лыткарино МО : [б.и.], 2015
Настоящий научно-технический сборник содержит тезисы докладов 18 Всероссийской технической научно-конференции по радиационной стойкости электронных систем "Стойкость 2015" ...
Added: September 18, 2015