?
Определение параметров SPICE-моделей биполярных транзисторов в диапазоне температуры (–60 °C … +125 °C)
С. 239–243.
Publication based on the results of:
In book
М.: ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2015.
Zharkevich O., Berg A., Reshetnikova O. et al., Fluids 2025 Vol. 10 No. 8 Article 211
This article presents a comprehensive experimental and theoretical study and substantiation of the hydraulic parameters of a prototype multi-gear pump. The proposed pump design, which features one drive gear and four driven gears, aims to address the common disadvantages of traditional gear pumps, including radial force imbalance, uneven flow, high acoustic noise, and increased fluid ...
Added: November 6, 2025
Marfenin N., Vitaly S. Dementyev, Nikolaev E., Hydrobiology (ISSN 2673-9917) Hydrobiology Editorial Office hydrobiology@mdpi.com MDPI, St. Alban-Anlage 66 4052 Basel, Switzerland Tel: +41 61 683 77 34 www.mdpi.com mdpi.com/journal/hydrobiolog 2023 Vol. 2 No. 4 P. 583–601
The temperature of the water surface layer in the Arctic may increase significantly in the coming decades. To what extent will shallow-water fauna be affected by warming? We investigated this issue using an example of one species of colonial hydroid, Dynamena pumila. We judged its reaction to warming via its pulsation activity and the growth ...
Added: December 6, 2023
Марфенин Н. Н., Dementyev V., Николаев Е. В., Russian Journal of Ecosystem Ecology 2023 Т. 8 № 3
It has been experimentally established that larger colonies of Dynamena pumila (Hydrozoa, Cnidaria) grown in the laboratory, including 10–11 young shoots, are less resistant to increases in water temperature to the upper temperature limit of this species (25 °C) than the same smaller colonies with one or two shoots. As the temperature rises, some of ...
Added: December 6, 2023
Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Ismail-zade M. R. et al., Наноиндустрия 2023 Т. 16 № S9-1(119) С. 179–188
The developed hardware-software complex for measuring, device characteristics investigation and determining parameters of SPICE-models for semiconductor devices and VLSI’s components with account for radiation and temperature effects in a wide range is described. ...
Added: May 21, 2023
Petrosyants K. O., Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Математическое моделирование в материаловедении электронных компонентов МММЭК–2021.: М.: МАКС Пресс, 2021. С. 117–120.
The possibilities of determining the SPICE model parameters in an extended temperature range were investigated using the three most common commercial extractors IC-CAP, MBP and BSIMProPlus. Comparative estimates of the efficiency of extractors are given on the example of calculating MOSFETs I–V characteristic taking into account the temperatures up to +300°C. ...
Added: November 5, 2021
Petrosyants K., D.A. Popov, Li B. et al., , in: Proceedings of the 3nd International Conference on Microelectronic Devices and Technologies (MicDAT 2020).: Barcelona: International Frequency Sensor Association (IFSA), 2020. Ch. 15 P. 31–34.
The simulation results received by mixed TCAD-SPICE modeling for linear energy transfer (LET), transient characteristics of voltages and currents in 0.24 um SRAM cells with SOI, DSOI and SELBOX structures in temperature range up to 300 °C were analyzed. It was shown that the fault tolerance of CMOS SOI SRAM cells can be increased when ...
Added: March 23, 2021
Popov D., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2020». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, г. Ялта, 21-25 сентября 2020 г.: М.: МАКС Пресс, 2020. С. 227–229.
A mixed TCAD-SPICE simulation of the heavy ion impact into a SRAM on SOI CMOS transistors was carried out. The dependence of the threshold LET on temperature was investigated for three configurations of 0.24 μm SOI MOSFET: traditional SOI, Selective BOX and Double SOI. The radiation hardness of SRAM on Double SOI MOSFETs is significantly ...
Added: December 5, 2020
Ismail-zade M. R., Известия высших учебных заведений. Электроника 2020 Т. 25 № 1 С. 40–47
The circuit design of electronic devices for harsh operating conditions requires SPICE models of electronic components that take into account the influence of ultra-low and ultra-high ambient temperatures. However, the standard SPICE models of electronics component, available in commercial versions of SPICE-like simulators, provide an adequate accuracy in a limited temperature range (-60 … +150 ...
Added: October 30, 2019
Ismail-zade M. R., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2019». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, 23-25 сентября 2019 г.: М.: ООО "Спектр", 2019. С. 284–292.
The compact SPICE models of MOSFET and JFET field-effect transistors for the temperature range from ultra-low to ultra-high (–200...+300°C) have been improved. The procedure for extracting the SPICE model parameters based on the measurement results or TCAD simulation of a standard set of I-V and C-V characteristics in a wide temperature range has been developed. ...
Added: September 30, 2019
Petrosyants K. O., , in: 24th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (2018).: IEEE, 2018. P. 1–6.
The temperature range of SPICE models of bipolar and MOS transistors is extended from –60°C to +150°C (standard commercial level) to –200°C…+300°C for low/high temperature ICs design. This is done by including additional equations for temperature-dependent parameters, and by connecting additional elements to the device equivalent circuit to take into account the thermal effects. The ...
Added: November 22, 2018
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур. XVII научно-практический семинар с международным участием: сборник трудов.: Н. Новгород: ФГУП «ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова», 2017. С. 76–79.
С помощью разработанного автоматизированного аппаратно-программного комплекса в диапазоне температуры от комнатной до 300°С исследованы характеристики КНИ МОП-транзисторов с размерами 0.6, 0.35, 0.18 мкм, изготовленные ОАО ПИИМЭ и Микрон. Показана работоспособность транзисторов в диапазоне температуры до 300°С. Разработана методика определения параметров SPICE моделей КНИ МОП-транзисторов с учетом их размеров и расширенного диапазона температуры. С использованием методики определены ...
Added: November 20, 2018
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2018». 4-я Международная научная конференция «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Сборник тезисов. Республика Крым, г. Алушта, 01–06 октября 2018 г.: М.: Техносфера, 2018. С. 308–312.
. ...
Added: October 21, 2018
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Popov D., В кн.: Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА: Материалы XV научно-технической конференции, 27-29 сентября 2017.: М., Дубна: ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2017. С. 224–226.
С помощью Synopsys TCAD проводилось моделирование тока стока n-канального КНИ МОП-транзистора при воздействии ионизирующего излучения и повышении температуры от 27°С до 160°С. Показано, что полный ток утечки стока при повышенной температуре существенно выше суммы теплового тока необлученного транзистора и радиационного тока утечки при комнатной температуре. ...
Added: October 18, 2017
Ismail-zade M. R., В кн.: Межвузовская научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов им. Е.В. Арменского.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2017. С. 282–283.
Предлагается модифицированный подход к экстракции параметров SPICE-моделей субмикронных КНИ МОПТ с учетом повышенной температуры (до 300°C), заключающийся в использовании "биннинга". Результатом выполнения процедуры является единый набор параметров, содержащий отдельные секции для транзисторов различных размеров. ...
Added: September 8, 2017
Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2015. С. 262–263.
Представлена структура и состав частей программно-аппаратного комплекса для экстракции параметров SPICE‑моделей МОП‑транзисторов с учётом воздействия стационарного радиационного излучения. Приведены результаты использования разработанного комплекса при формировании SPICE-модели реального МОП-транзистора. Приведена оценка погрешности моделирования статических вольт-амперных характеристик с использованием сформированной модели. ...
Added: September 8, 2017
Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2016. С. 280–281.
Рассмотрены особенности измерения электрических характеристик биполярных и МОП-транзисторов в присутствии тепловых и радиационных эффектов. Описаны характеристики автоматизированного аппаратно-программного комплекса, в основе которого лежит набор измерительных приборов, методик измерений и обработки их результатов для транзисторов различного типа. Приведены примеры использования комплекса для исследования БТ и МОПТ, определения параметров их SPICE-моделей. ...
Added: September 8, 2017
Схемотехническая SPICE-модель биполярного транзистора, учиты-вающая влияние различных видов радиации
Petrosyants K. O., Kozhukhov M., В кн.: Фундоментальная наука и технология - перспективные разработки/ Fundamental science and technology - promising developments IIIТ. 3. Вып. III.: CreateSpace, 2014. С. 23–26.
Представлена SPICE‑макромодели биполярного транзистора, учитывающей изменение входных и выходных характеристик Si БТ и SiGe ГБТ в результате воздействия различных видов радиации. Представлены результаты схемотехнического моделирования, которые совпадают с экспериментальными данными с точностью 10-15%. ...
Added: June 3, 2014
Kharitonov I. A., Гоманилова Н. Б., Petrosyants K. O. et al., В кн.: Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции (2013).: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013. С. 274–276.
В работе приведены результаты применения комплекса, состоящего из автоматизированных измерительных приборов и программной части, для создания и отладки схемотехнических моделей электронных компонентов с учетом влияния температуры. Приведены примеры применения комплекса для создания схемотехнических моделей биполярных и МОП транзисторов в диапазоне температур от -60оС до +120оС.инфорсма ...
Added: November 11, 2013
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., В кн.: Электроника, микро- и наноэлектроника: Сборник научных трудов 15-ой Российской научно-технической конференции (г. Суздаль, 25 – 28 июня 2013 г.).: М.: НИЯУ МИФИ, 2013. С. 303–309.
Проведено сравнение SPICE-моделей BSIMSOI‑RAD и EKV‑RAD, предназначенных для КНИ/КНС МОП-транзисторов с учётом радиационных эффектов, по существенным критериям: набору учитываемых эффектов, количеству параметров, способу учёта эффектов плавающей подложки, процедуре экстракции параметров, времени моделирования. Показано, что при совпадающем наборе учитываемых эффектов макромодель EKV‑RAD является предпочтительной. ...
Added: June 10, 2013
Petrosyants K. O., Кожухов М. В., В кн.: Труды международной научно-практической конференции "International Scientific – Practical Conference" INNOVATIVE INFORMATION TECHNOLOGIES", Prague, 2013, April 22-26Т. 3.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013. С. 320–326.
The effects of neutron and γ-radiation on characteristics of Si BJT and SiGe HBT are investigated. SPICE-macro models taking into account the effects of neutron and γ-radiation are developed. The modeling results are in good agreement with experimental data. ...
Added: April 29, 2013
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Электроника, микро- и наноэлектроника. Сборник научных трудов 12-ой Российской научно-технической конференции (г. Суздаль, 28 июня – 2 июля 2010 г.).: М.: НИЯУ МИФИ, 2010. С. 90–95.
С использованием характеристик облучённых тестовых n– и p–канальных 0.5 мкм КНИ МОП транзисторов разработана библиотека SPICE-моделей для CADENCE на основе модели BSIMSOI, учитывающая фактор суммарной поглощённой дозы. Методами схемотехнического моделирования проанализирована работа схемы БИС ОЗУ 512 кбит, выявлены схемные фрагменты, ограничивающие стойкость всей БИС и проведена их оптимизация для повышения стойкости всей БИС. ...
Added: April 12, 2012