?
Prediction of High-Temperature Operation (up to +300°C) of Reference Voltage Source Built with Temperature-Tolerant Production Technology
P. 609–613.
Lev M. Sambursky, Dmitry A. Parfenov, Mamed R. Ismail-zade, Alexander S. Boldov, Borislav S. Dubyaga
В книге
IEEE Computer Society, 2018.
Хлынов П. А., Самбурский Л. М., Наноиндустрия 2025 Т. 18 № S11-2 (135) С. 848–854
Учет разброса параметров SPICE-моделей полупроводниковых компонентов при схемотехническом моделировании электронных блоков необходим для более точной оценки пределов их работоспособности в процессе проектирования электронной аппаратуры. Это оказывается особенно важно для аппаратуры, предназначенной для работы в условиях, отличных от нормальных, или тех, к которым предъявляются строгие требования. В данной работе производятся сравнение и анализ различных подходов для ...
Добавлено: 16 сентября 2025 г.
Святодух С. С., Селиверстов С. В., Applied Physics Letters 2023 Vol. 124 No. 12
Добавлено: 12 мая 2024 г.
Романова Д. С., Непомнящий О. В., А. И. Легалов и др., Программная инженерия 2022 Т. 13 № 6 С. 259–271
Рассмотрены проблемы и решения в области обеспечения архитектурной независимости и организации процесса сквозного проектирования цифровых интегральных схем. Представлены метод и язык параллельного программирования для функционально потокового синтеза проектных решений. При реализации метода функционально-потокового синтеза выделены задачи редукции параллелизма и оценки занимаемых ресурсов. Предложен способ свертки (сокращения) параллелизма, базирующийся на введении дополнительного слоя в процесс синтеза. ...
Добавлено: 13 сентября 2022 г.
Dergachev S., Романов А. Ю., Solovyev R., , in: 2021 International Russian Automation Conference (RusAutoCon).: IEEE, 2021. P. 997–1001.
Добавлено: 12 ноября 2021 г.
Lev M. Sambursky, Mamed R. Ismail-zade, Nina V. Blokhina, , in: 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT).: IEEE, 2020. P. 1–7.
Добавлено: 7 мая 2020 г.
Иванов Ф. И., Крук Е. А., Крещук А. А., , in: 2019 XVI International Symposium "Problems of Redundancy in Information and Control Systems" (REDUNDANCY).: IEEE, 2019. P. 133–138.
Добавлено: 17 марта 2020 г.
Альбатша А. М., В кн.: Информационные технологии в науке, бизнесе и образовании: сборник трудов X Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: Московский государственный лингвистический университет, 2018. С. 11–15.
В статье дается краткий обзор современных подходов к защите дизайна (средств технического обеспечения) от различных угроз защите интеллектуальной собственности, таких как обратный инжиниринг, пиратство интеллектуальной собственности, несанкционированное вмешательство. Дается определение понятию «аппаратная (дизайн/хардвер) обфускация», описываются несколько технических решений для аппаратной обфускации на основе анализа опубликованных за последние годы научных изданий и патентов. ...
Добавлено: 6 декабря 2019 г.
Альбатша А. М., В кн.: Передовые инновационные разработки. Перспективы и опыт использования, проблемы внедрения в производство: сборник научных статей по итогам четвертой международной научной конференцииЧ. 2.: Каз.: [б.и.], 2019. С. 90–92.
В статье приводится обзор современных подходов к защите аппаратных средств компьютерных систем, нацеленных на противодействие угрозам безопасности аппаратной интеллектуальной собственности ...
Добавлено: 6 декабря 2019 г.
Петросянц К. О., Исмаил-Заде М. Р., Самбурский Л. М. и др., , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–5.
Добавлено: 8 сентября 2018 г.
Петросянц К. О., Харитонов И. А., Lebedev S. и др., Microelectronics and Reliability 2017 Vol. 79 P. 416–425
Добавлено: 28 февраля 2018 г.
Петросянц К. О., Lebedev S., Самбурский Л. М. и др., , in: 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM). PROCEEDINGS 2017.: Denver: IEEE, 2017. P. 229–234.
Добавлено: 9 июня 2017 г.
Mamed R. Ismail-zade, Aleksandr Y. Romanov, Egor Y. Kuzin и др., , in: Proceedings of the 2017 IEEE Russia Section Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering Conference (2017 ElConRus)* 2.: M.: IEEE, 2017. P. 423–428.
Добавлено: 6 марта 2017 г.
Рассмотрены принципы работы и электрические характеристики биполярных и МОП-транзисторов интегральных схем, базовых элементов цифровой и аналоговой схемотехники, БМК и ПЛМ, микроконтроллеров и микропроцессоров. Описаны методики выполнения лабораторных, расчетных на ЭВМ, курсовых, самостоятельных и др. работ. Пособие предназначено для бакалавров и магистров различных специальностей, изучающих электронику, микроэлектронику и схемотехнику; отдельные разделы могут быть полезными для аспирантов ...
Добавлено: 28 февраля 2017 г.
Петросянц К. О., Харитонов И. А., Гладышева Е. И., , in: Proceedings of 24-th Telecommunications Forum.: Beograd: IEEE Region 8, Telekom Srbija a.d., 2016. P. 1–4.
Добавлено: 25 ноября 2016 г.
Konstantin O. Petrosyants, Sergey V. Lebedev, Самбурский Л. М. и др., , in: Proceedings of the 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (Therminic 2016).: IEEE, 2016. P. 250–254.
Добавлено: 1 ноября 2016 г.
Рассматриваются вопросы моделирования электронных средств в задачах обеспечения внутриаппаратурной электромагнитной совместимости, основные программные средства и их возможности при проектировании печатных плат. Впервые в отечественной литературе детально рассмотрены IBIS-модели интегральных микросхем. Описаны ключевые слова и правила составления спецификации IBIS для интегральных компонентов, даны рекомендации по практическому применению IBIS-моделей, в том числе в составе коммерческих пакетов. Значительное ...
Добавлено: 13 мая 2016 г.
М.: Техносфера, 2016.
В сборник включены тезисы докладов конференции, освещающие актуалные вопросы разаработки, производства и применения отечественных интегральных схем и высокоинтегрированных микроэлектронных модулей. ...
Добавлено: 13 апреля 2016 г.
Иванов И. А., Королев П. С., Полесский С. Н. и др., , in: 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON). Proceedings.: M.: HSE, 2016. P. 1–4.
The paper offers methodology for estimation of durability indices of the modern integrated circuit communication network, which has reports about the conducted tests on non-failure operations and conservability, but has no data for the durability. The paper describes two approaches, which apply for generation of basic data and which allow to receive reliable result, typical ...
Добавлено: 8 апреля 2016 г.
Рябов Н. И., Гладышева Е. И., В кн.: Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XIV научно-технической конференции Москва, 7-9 октября 2015 г.: М.: ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2015. С. 244–247.
Разработано программное обеспечение для анализа задержек в межсоединениях ИС в зависимости от температурных эффектов. Методика численого расчета задержек в межсоединениях позволяет учитывать произвольне распределение температуры в кристаллах. ...
Добавлено: 5 февраля 2016 г.
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.