• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • A
  • A
  • A
  • A
  • A
Обычная версия сайта
  • RU
  • EN
  • Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
  • Публикации ВШЭ
  • Глава
  • Моделирование задержек в межсоединениях ИС с учётом температурных эффектов
  • RU
  • EN
Расширенный поиск
Высшая школа экономики
Национальный исследовательский университет
Приоритетные направления
  • бизнес-информатика
  • государственное и муниципальное управление
  • гуманитарные науки
  • инженерные науки
  • компьютерно-математическое
  • математика
  • менеджмент
  • право
  • социология
  • экономика
по году
  • 2027
  • 2026
  • 2025
  • 2024
  • 2023
  • 2022
  • 2021
  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016
  • 2015
  • 2014
  • 2013
  • 2012
  • 2011
  • 2010
  • 2009
  • 2008
  • 2007
  • 2006
  • 2005
  • 2004
  • 2003
  • 2002
  • 2001
  • 2000
  • 1999
  • 1998
  • 1997
  • 1996
  • 1995
  • 1994
  • 1993
  • 1992
  • 1991
  • 1990
  • 1989
  • 1988
  • 1987
  • 1986
  • 1985
  • 1984
  • 1983
  • 1982
  • 1981
  • 1980
  • 1979
  • 1978
  • 1977
  • 1976
  • 1975
  • 1974
  • 1973
  • 1972
  • 1971
  • 1970
  • 1969
  • 1968
  • 1967
  • 1966
  • 1965
  • 1964
  • 1963
  • 1958
  • еще
Тематика
Новости
19 мая 2026 г.
Физики НИУ ВШЭ выяснили, что происходит внутри устойчивого вихря
В атмосфере и в океане часто наблюдаются крупные вихри с характерными спиральными рукавами. Физики из НИУ ВШЭ объяснили, как они формируются и почему сохраняют свою структуру. Оказалось, что скорости в точках, расположенных вдоль одной дуги вихря, остаются связанными даже на больших расстояниях. При этом в направлении от центра вихря эта связь быстро ослабевает. Такие различия помогают объяснить образование рукавов и могут улучшить модели атмосферных и океанических течений. Результаты опубликованы в Physical Review Fluids.
18 мая 2026 г.
В Вышке прошла XXX юбилейная научно-техническая конференция имени Е.В. Арменского
Организатором научного события выступает Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова ВШЭ. В этом году главный инженерный студенческий форум проходил 30-й раз и собрал рекордное число участников. Студенты, аспиранты и молодые специалисты из 50 вузов и организаций России представили научно-исследовательские доклады в ИТ-области. Отдельная секция была посвящена научно-исследовательским работам школьников.
15 мая 2026 г.
В НИУ ВШЭ разрабатывают нейросеть для сферы науки и инноваций
Исследователи НИУ ВШЭ учат большие языковые модели понимать русскоязычную научную терминологию, увеличивая при этом их энергоэффективность. Адаптированная модель работает в 2,7 раза быстрее и требует на 73% меньше памяти, чем исходная открытая модель, что позволяет запускать ее на более доступном оборудовании. Программа прошла государственную регистрацию.

 

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации
  • Книги
  • Статьи
  • Главы в книгах
  • Препринты
  • Верификация публикаций
  • Расширенный поиск
  • Правила использования материалов
  • Наука в ВШЭ

?

Моделирование задержек в межсоединениях ИС с учётом температурных эффектов

С. 244–247.
Рябов Н. И., Гладышева Е. И.

Разработано программное обеспечение для анализа задержек в межсоединениях ИС в зависимости от температурных эффектов. Методика численого расчета задержек в межсоединениях позволяет учитывать произвольне распределение температуры в кристаллах.

Язык: русский
Полный текст
Ключевые слова: интегральные микросхемыtime delaystemperature dependenceintegrated circuitsInterconectionsМежсоединениязадержки распространения сигналазависимость от температуры

В книге

Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XIV научно-технической конференции Москва, 7-9 октября 2015 г.
Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XIV научно-технической конференции Москва, 7-9 октября 2015 г.
М.: ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2015.
Похожие публикации
Terahertz phased array antenna based on integrated taper emitters
Святодух С. С., Селиверстов С. В., Applied Physics Letters 2023 Vol. 124 No. 12
Добавлено: 12 мая 2024 г.
Методы редукции параллелизма в процессе высокоуровнего синтеза цифровых интегральных схем
Романова Д. С., Непомнящий О. В., А. И. Легалов и др., Программная инженерия 2022 Т. 13 № 6 С. 259–271
Рассмотрены проблемы и решения в области обеспечения архитектурной независимости и организации процесса сквозного проектирования цифровых интегральных схем. Представлены метод и язык параллельного программирования для функционально потокового синтеза проектных решений. При реализации метода функционально-потокового синтеза выделены задачи редукции параллелизма и оценки занимаемых ресурсов. Предложен способ свертки (сокращения) параллелизма, базирующийся на введении дополнительного слоя в процесс синтеза. ...
Добавлено: 13 сентября 2022 г.
On Joint Satellite, Terrestrial, and Delay Tolerant Networks for Railroad Communications
Тихонов Е. О., Schneps-Schneppe D., Sneps-Sneppe M., , in: 28th Conference of Open Innovations Association (FRUCT).: [б.и.], 2021. P. 472–481.
Добавлено: 9 апреля 2022 г.
Generation of Hardware Modules for Comparison in Residue Numeral Systems
Dergachev S., Романов А. Ю., Solovyev R., , in: 2021 International Russian Automation Conference (RusAutoCon).: IEEE, 2021. P. 997–1001.
Добавлено: 12 ноября 2021 г.
On the Lightweight McEliece Cryptosystem for Low-Power Devices
Иванов Ф. И., Крук Е. А., Крещук А. А., , in: 2019 XVI International Symposium "Problems of Redundancy in Information and Control Systems" (REDUNDANCY).: IEEE, 2019. P. 133–138.
Добавлено: 17 марта 2020 г.
Аппаратная обфускация в задачах защиты интеллектуальной собственности
Альбатша А. М., В кн.: Информационные технологии в науке, бизнесе и образовании: сборник трудов X Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: Московский государственный лингвистический университет, 2018. С. 11–15.
В статье дается краткий обзор современных подходов к защите дизайна (средств технического обеспечения) от различных угроз защите интеллектуальной собственности, таких как обратный инжиниринг, пиратство интеллектуальной собственности, несанкционированное вмешательство. Дается определение понятию «аппаратная (дизайн/хардвер) обфускация», описываются несколько технических решений для аппаратной обфускации на основе анализа опубликованных за последние годы научных изданий и патентов. ...
Добавлено: 6 декабря 2019 г.
Новые средства обеспечения безопасности интеллектуальной собственности
Альбатша А. М., В кн.: Передовые инновационные разработки. Перспективы и опыт использования, проблемы внедрения в производство: сборник научных статей по итогам четвертой международной научной конференцииЧ. 2.: Каз.: [б.и.], 2019. С. 90–92.
В статье приводится обзор современных подходов к защите аппаратных средств компьютерных систем, нацеленных на противодействие угрозам безопасности аппаратной интеллектуальной собственности ...
Добавлено: 6 декабря 2019 г.
Международный форум «Микроэлектроника-2019». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, 23-25 сентября 2019 г.
М.: ООО "Спектр", 2019.
В выпуске представлены тезисы докладов конференции «Школа молодых учёных «Микроэлектроника-2019», освещающие актуальные темы по вопросам разработки и применения перспективной элементной базы микроэлектроники, электронных модулей, а также процессов их производства, что послужит обмену актуальной информацией между учёными и специалистами, занимающимися разными направлениями развития электронной компонентной базы. ...
Добавлено: 30 сентября 2019 г.
Prediction of High-Temperature Operation (up to +300°C) of Reference Voltage Source Built with Temperature-Tolerant Production Technology
Lev M. Sambursky, Dmitry A. Parfenov, Mamed R. Ismail-zade и др., , in: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2018).: IEEE Computer Society, 2018. P. 609–613.
Добавлено: 30 октября 2018 г.
Электроника интегральных схем. Лабораторные работы и упражнения. Учебное пособие
Петросянц К. О., Козынко П. А., Рябов Н. И. и др., М.: Солон-Пресс, 2017.
Рассмотрены принципы работы и электрические характеристики биполярных и МОП-транзисторов интегральных схем, базовых элементов цифровой и аналоговой схемотехники, БМК и ПЛМ, микроконтроллеров и микропроцессоров. Описаны методики выполнения лабораторных, расчетных на ЭВМ, курсовых, самостоятельных и др. работ. Пособие предназначено для бакалавров и магистров различных специальностей, изучающих электронику, микроэлектронику и схемотехнику; отдельные разделы могут быть полезными для аспирантов ...
Добавлено: 28 февраля 2017 г.
Simulation of CMOS IC’s Waveforms Distortions in PCB Traces with Account for Radiation Effects
Петросянц К. О., Харитонов И. А., Гладышева Е. И., , in: Proceedings of 24-th Telecommunications Forum.: Beograd: IEEE Region 8, Telekom Srbija a.d., 2016. P. 1–4.
Добавлено: 25 ноября 2016 г.
Temperature Characterization of Small-Scale SOI MOSFETs in the Extended Range (to 300°C)
Konstantin O. Petrosyants, Sergey V. Lebedev, Самбурский Л. М. и др., , in: Proceedings of the 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (Therminic 2016).: IEEE, 2016. P. 250–254.
Добавлено: 1 ноября 2016 г.
Автоматизация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства
Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы девятнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2016. С. 213–215.
В работе затронуты острые проблемы проведения ускоренных испытаний, закупаемых заграницей (США, Япония, Китай и др.) интегральных микросхем (ИМС) и отсутствия в отчетах по надежности электронных компонентов по итогам проведенных испытаний фирм-производителей (Reliability Report) данных о параметрах долговечности. Предлагается применять разработанную методику прогнозирования долговечности ИМС путем использования Reliability Report и расчетов необходимых параметров. Также приведена блок-схема ...
Добавлено: 2 июня 2016 г.
IBIS-модели и их применение в задачах ЭМС
Лемешко Н. В., Кечиев Л. Н., Захарова С. С., М.: Грифон, 2016.
Рассматриваются вопросы моделирования электронных средств в задачах обеспечения внутриаппаратурной электромагнитной совместимости, основные программные средства и их возможности при проектировании печатных плат. Впервые в отечественной литературе детально рассмотрены IBIS-модели интегральных микросхем. Описаны ключевые слова и правила составления спецификации IBIS для интегральных компонентов, даны рекомендации по практическому применению IBIS-моделей, в том числе в составе коммерческих пакетов. Значительное ...
Добавлено: 13 мая 2016 г.
Сб. трудов Международной конференции "Интегральные схемы и микроэлектронные модули -- проектирование, производство и применение" (Микроэлектроника -- 2015)
М.: Техносфера, 2016.
В сборник включены  тезисы докладов конференции, освещающие актуалные вопросы разаработки, производства и применения отечественных интегральных схем и высокоинтегрированных микроэлектронных модулей. ...
Добавлено: 13 апреля 2016 г.
Estimation of Durability Indices of Integrated Microcircuit Communication Network
Иванов И. А., Королев П. С., Полесский С. Н. и др., , in: 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON). Proceedings.: M.: HSE, 2016. P. 1–4.
The paper offers methodology for estimation of durability indices of the modern integrated circuit communication network, which has reports about the conducted tests on non-failure operations and conservability, but has no data for the durability. The paper describes two approaches, which apply for generation of basic data and which allow to receive reliable result, typical ...
Добавлено: 8 апреля 2016 г.
Forecasting Dependability Indicators of Spacecraft Onboard Equipment Under Low-Intensity Ionizing Radiation
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
  • О ВЫШКЕ
  • Цифры и факты
  • Руководство и структура
  • Устойчивое развитие в НИУ ВШЭ
  • Преподаватели и сотрудники
  • Корпуса и общежития
  • Закупки
  • Обращения граждан в НИУ ВШЭ
  • Фонд целевого капитала
  • Противодействие коррупции
  • Сведения о доходах, расходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера
  • Сведения об образовательной организации
  • Людям с ограниченными возможностями здоровья
  • Единая платежная страница
  • Работа в Вышке
  • ОБРАЗОВАНИЕ
  • Лицей
  • Довузовская подготовка
  • Олимпиады
  • Прием в бакалавриат
  • Вышка+
  • Прием в магистратуру
  • Аспирантура
  • Дополнительное образование
  • Центр развития карьеры
  • Бизнес-инкубатор ВШЭ
  • Образовательные партнерства
  • Обратная связь и взаимодействие с получателями услуг
  • НАУКА
  • Научные подразделения
  • Исследовательские проекты
  • Мониторинги
  • Диссертационные советы
  • Защиты диссертаций
  • Академическое развитие
  • Конкурсы и гранты
  • Внешние научно-информационные ресурсы
  • РЕСУРСЫ
  • Библиотека
  • Издательский дом ВШЭ
  • Книжный магазин «БукВышка»
  • Типография
  • Медиацентр
  • Журналы ВШЭ
  • Публикации
  • http://www.minobrnauki.gov.ru/
    Министерство науки и высшего образования РФ
  • https://edu.gov.ru/
    Министерство просвещения РФ
  • http://www.edu.ru
    Федеральный портал «Российское образование»
  • https://elearning.hse.ru/mooc
    Массовые открытые онлайн-курсы
  • НИУ ВШЭ1993–2026
  • Адреса и контакты
  • Условия использования материалов
  • Политика конфиденциальности
  • Правила применения рекомендательных технологий в НИУ ВШЭ
  • Карта сайта
Редактору