?
Способ раздельного определения сопротивлений образца высокоомного полупроводника и контактов к образцу
Предложен метод раздельного определения сопротивлений образца-двухполюсника и контактов к нему. Метод применим к образцам высокоомных полупроводниковых материалов: полуизолирующего арсенида галлия, детекторного теллурида кадмия-цинка (КЦТ) и др. Описываемый метод основан на засветке приконтакных областей образца монохроматическим излучением регулируемой интенсивности от светодиодов с энергией кванта, превышающей ширину запрещённой зоны исследуемого материала. Строится зависимость фототока через образец от тока через светодиоды и находится её прямолинейный участок. Экстраполяция его к оси ординат позволяет найти ток отсечки, после чего по известным значениям тока отсечки и напряжения смещения вычисляется значение сопротивления объёма образца. Далее, зная темновое значение тока через образец, можно вычислить суммарное сопротивление контактов образца-двухполюсника. Метод опробован на образце полуизолирующего арсенида галлия n-типа электропроводности. Линейность контактов проверялась по вольтамперным характеристикам. Показано, что сопротивление контактов близко к сопротивлению объёма образца, что подтверждает необходимость учёта влияния контактов при анализе данных электрофизических измерений