?
Приборы сверхвысоких частот и оптического диапазона в вопросах и ответах
Ч. 2: Полупроводниковые приборы СВЧ.
M. :
-, 2012.
Petrosyants K. O., Kozhukhov M., Popov D. et al., Известия высших учебных заведений. Электроника 2024 Т. 29 № 5 С. 640–657
The operational amplifiers (Op-Amps) are widely used in electronic systems operating under conditions of exposure to ionizing radiation; hence the IC designer has a need to carry out circuit modeling considering radiation factors. The main problem of this method of the Op-Amps simulation is that in SPICE-like programs there are no adequate models of bipolar ...
Added: November 6, 2025
Tyarin A., Kureev A., Тронин С. С., В кн.: ИТиС 2023: Сборник трудов 47-й междисциплинарной школы-конференции ИППИ РАН "Информационные технологии и системы 2023"Т. 47.: М.: ИППИ РАН, 2023. С. 324–326.
Реконфигурируемые интеллектуальные поверхности (англ.: Reconfigurable Intelligent Surfaces, RISs) — перспективные устройства, способные увеличить пропускную способность и область покрытия новых и уже существующих беспроводных сетей. Однако, на сегодняшний день большая часть таких устройств представлена в виде прототипов. При внедрении RIS в реальные системы связи необходимо обеспечить ее защиту от воздействия внешней среды. Одним из решений является ...
Added: January 17, 2024
Tyarin A., Тронин С. С., Kureev A. et al., Информационные процессы 2023 Т. 23 № 4 С. 497–506
Reconfigurable Intelligent Surfaces (RISs) are promising devices capable of increasing the bandwidth and coverage area of new and existing wireless networks. Nowadays, most of these devices are presented in the form of prototypes that have no environmental protection and are not adapted for implementation in existing communication systems. However, protective coating may significantly affect the ...
Added: January 17, 2024
Petrosyants K. O., В кн.: Математическое моделирование в материаловедении электронных компонентов МММЭК–2021.: М.: МАКС Пресс, 2021. С. 112–116.
Added: November 30, 2021
Petrosyants K. O., Kozhukhov M., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2020». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, г. Ялта, 21-25 сентября 2020 г.: М.: МАКС Пресс, 2020. С. 394–397.
The unified Si BT/SiGe HBT SPICE-model is presented, which allows performing SPICE simulation of integrated circuits that considering the radiation effect. The results of measurements and modeling of electrical characteristics of bipolar transistors before and after exposure to various radiation types are presented. ...
Added: December 5, 2020
Petrosyants K. O., Kozhukhov M., Popov D., Наноиндустрия 2018 № 82 С. 404–405
The paper considers a new TCAD Rad model for BJTs and MOSFETs for proton radiation. The equations for radiation-dependent parameters (life time, mobility, surface velocity, traps concentration) have been added in Sentaurus TCAD. The simulation results are in good agreement with experimental data. ...
Added: January 30, 2019
Petrosyants K. O., , in: 24th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (2018).: IEEE, 2018. P. 1–6.
The temperature range of SPICE models of bipolar and MOS transistors is extended from –60°C to +150°C (standard commercial level) to –200°C…+300°C for low/high temperature ICs design. This is done by including additional equations for temperature-dependent parameters, and by connecting additional elements to the device equivalent circuit to take into account the thermal effects. The ...
Added: November 22, 2018
Petrosyants K. O., Kozhukhov M., Popov D., Sensors and Transducers 2018 Vol. 227 No. 11 P. 42–50
The special library of radiation damage models for physical parameters and electrical characteristics of bipolar and MOS transistor and sensor structures taking into account neutron, gamma and proton irradiation is developed and built-into Sentaurus Synopsys software tool. For different BJTs/HBTs, MOSFETs and radiation sensors the good agreement to simulated and experimental electrical characteristics is achieved. ...
Added: October 22, 2018
Petrosyants K. O., Ismail-zade M. R., Sambursky L. M. et al., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС-2018)Вып. 3.: М., Зеленоград: ИППМ РАН, 2018. С. 111–117.
A set of modified compact spice models of field effect transistors is presented: with isolated gate (MOSFET) and with pn junction control (JFET) for circuit simulation in a temperature range of -200°C, which is important for space applications. All models are constructed using the approach combining macromodeling based on the standard models available in the ...
Added: October 21, 2018
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2018». 4-я Международная научная конференция «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Сборник тезисов. Республика Крым, г. Алушта, 01–06 октября 2018 г.: М.: Техносфера, 2018. С. 308–312.
. ...
Added: October 21, 2018
Вологдин Э. Н., Lysenko A. P., М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2018.
The main content of the training manual is:
consideration of the issues of the effect of radiation creating structural defects on the main parameters of bipolar transistors,
Consider issues related to the influence of ionization factors on the operation of transistors (radiation transients),
the effect of nuclear reactions and fast annealing on the parameters of transistors is considered;
Classification ...
Added: March 16, 2018
Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2016. С. 280–281.
Рассмотрены особенности измерения электрических характеристик биполярных и МОП-транзисторов в присутствии тепловых и радиационных эффектов. Описаны характеристики автоматизированного аппаратно-программного комплекса, в основе которого лежит набор измерительных приборов, методик измерений и обработки их результатов для транзисторов различного типа. Приведены примеры использования комплекса для исследования БТ и МОПТ, определения параметров их SPICE-моделей. ...
Added: September 8, 2017
Petrosyants K. O., В кн.: Международной форум "Микроэлектроника-2016". 2-я научная конференция "Интегральные схемы и микроэлектронные модули".: М.: Техносфера, 2016. С. 281–283.
Для проектирования радиационно-стойких Би-КМОП БИС разработаны универсальные компактные SPICE-макромодели биполярных и МОП-транзисторов, учитывающие радиационные воздействия гамма-лучей, нейтронов, электронов, протонов, импульсного излучения и отдельных ядерных частиц. ...
Added: October 10, 2016
Petrosyants K. O., В кн.: Международной форум "Микроэлектроника-2016". 2-я научная конференция "Интегральные схемы и микроэлектронные модули".: М.: Техносфера, 2016. С. 18–19.
В настоящей работе рассмотрены две группы моделей (2D/3D приборно-технологические и компактные схемотехнические) для Si, SiGe, GaAs п/п приборов и элементов Би, КМОП, КМОП КНИ/КНС, Би-КМОП-ДМОП БИС, которые учитывают различные виды радиационных и температурных воздействий и встраиваются в известные коммерческие версии TCAD- и SPICE-подобных пакетов программ, что позволяет разработчикам схем распространить их возможности на проектирование БИС ...
Added: October 10, 2016
Fishchuk I. I., Kadasnchuk A., Novikov S. V. et al., Molecular Crystals and Liquid Crystals 2014 Vol. 589 P. 18–28
We report on the influence of the lateral electric field on the charge mobility in organic field-effect transistors (OFET) based on C 60 films with multigrain morphology. The experimental data were quantitatively described using a recent analytical model by accounting for the strong local electric fields in a multigrain transistor channel and for the energy ...
Added: March 4, 2015
К. О. Петросянц, М. В. Кожухов, Смирнов Д. С., Известия высших учебных заведений. Электроника 2013 № 6 С. 85–87
В настоящей работе приводятся экспериментальные результаты влияния изохронного и изотермического отжига на процесс восстановления статического коэффициента усиления h21E биполярного транзистора гигагерцового диапазона, подвергнутого облучению гамма-квантами. Определяются оптимальные значения температуры и времени отжига, обеспечивающие восстановление коэффициента усиления до значений, наблюдаемых у необлученных транзисторов. ...
Added: January 29, 2014
Petrosyants K., Torgovnikov R., Vologdin E. et al., , in: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’11).: Kharkov: Kharkov national university of radioelectronics, 2011. P. 267–270.
The effects of neutron irradiation on both Si bipolar junction transistor (BJT) and SiGe heterojunction transistor (HBT) are investigated using Synopsys TCAD tool. The carrier lifetime degradation under irradiation models are included in the program. For SiGe HBT at fluences as high as 10**15 cm-2 the degradation of peak current gain is less than 40%, ...
Added: April 12, 2012