Глава
Comparison of Self-heating Effect in SOI MOSFETs with Various Configuration of Buried Oxide
P. 24-28.
Язык:
английский
Полный текст (PDF, 483 Кб)
Публикация подготовлена по результатам проекта:
Комплексное мультифизическое моделирование базовых конструкций и технологий нового поколения микроминиатюрных, микромощных полупроводниковых фото- и бета-вольтаических элементов питания и сенсоров с длительным сроком службы для автономных медицинских и технических систем различного назначения(2019)