Книга
Материалы V международного научного семинара "Современные методы анализа дифракционных данных"
В книге опубликованы доклады, представленные на семинаре "Современные методы анализа дифракционных данных". Тематика семинара включает рентгеновскую топографию, дифрактометрию, электронную микроскопию, а также актуальные проблемы рентгеновской оптики
В докладе приведены результаты изучения процессов релаксации радиационных дефектов, возникающих при ионной имплантации Si ионами H+, в ходе термической обработки. Измерения проведены методом трехкристальной рентгеновской дифрактометрии (ТРД).
Несмотря на возросший интерес к китайской экспортной живописи XVIII–XIX вв., ее изучение находило свое отражение исключительно в описании истории развития данного вида искусства, его культурной составляющей, в описании разнообразных коллекций, расположенных в музейных, библиотечных и архивных собраниях по всему миру, собирателей этих коллекций, об их интересах и путешествиях в Китай. Тем не менее, художественные техники и материалы, которые применялись китайскими мастерами того периода, также могут стать источником ценной информации о культурном и экономическом взаимодействии двух великих цивилизаций – китайской и западной. В связи с этим отечественные и зарубежные ученые положили начало проведению исследований, включающих современные методы анализа изображений для изучения китайской экспортной живописи. Данные методы включают микроскопию в прямом отраженном и поляризованном свете, электронную микроскопию, а также неразрушающие методы исследования, такие как многоспектральный анализ, оптико-когерентная томография (ОКТ), метод микровыцветания, Рамановская спектроскопия и рентгено-флуоресцентный анализ (РФА).
Работа посвящена применению трековых технологий (с использованием облученных тяжелыми ионами полимерных пленок - матриц) для создания конусовидных наноструктур. Проведено исследование полученных структур на электронном микроскопе. В ходе работы подбирались рехимы получения ростовой реплики, необходимой для получения данных структур, затем подбирался режим осаждения, после чего полученные наноструктуры исследовались на растровом электронном микроскопе. Показано, что геометрические параметры конических пор определяются условиями их травления – температурой и концентрацией.
Методами оптической, трансмиссионной и сканирующей электронной микроскопии исследованы структурные изменения на поверхности и в приповерхностных слоях образцов стали 20Х13 и титанового сплава ПТ-3В после каждого этапа упрочнения за счет сформированного минерального поверхностного слоя. Использованием электроискрового легирования, напрессовки (приложение давления) и ультразвуковой обработки создается совокупный эффект объемного сжатия основного металла и минерала в зоне пластической деформации. Модифицированный таким образом поверхностный слой образца приобретает высокую твердость и износостойкость. Дюрометрические исследования показали, что благодаря применению описанных технологических приемов тввердость поверхности образцов возрастает более чем в два раза. Разработанная технология может быть использована для повышения трибологических свойств поверхностей деталей, узлов и механизмов турбинного, насосного, горного оборудования, подверающихся усиленному изнашиванию в условиях эксплуатации.
Сборник трудов, представленных на XVIII международном симпозиуме "Нанофизика и наноэлектроника" и посвященных актуальным проблемам физики конденсированного состояния, рентгеновской оптики и методам диагностики наноструктур.
Приведены тексты докладов, представленных на рабочем совещании "Рентгеновская оптика - 2010". Тематика совещания включала следующие разделы: рентгеновская кристаллооптика, многослойная оптика для рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазона, технология изготовления элементов рентгеновской оптики, применение рентгеновской оптики для исследоания микро- и наноструктур, рентгеновская литография, рентгеновская микроскопия и томография, новые методы исследования микро- и наноструктур с использованием синхротронных и лабораторных источников рентгеновского излучения.
Приведены основные понятия и определения нанометрологии, сведения об истории развития исследований в нанометровом диапазоне. Рассмотрена классификация нанообъектов, их свойства и параметры. Изложены принципы элементного и структурного анализа нанообъектов и вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий. Особое внимание уделено методам и средствам исследования поверхностей и нанопокрытий. Достаточно подробно рассмотрены конструкция и метрологические характеристики сканирующих туннельных, электронных и атомно-силовых микроскопов.
Пакеты электрополированных образцов поликристаллического алюминия (99,99%) облучали при комнатной температуре протонами с энергией 140 кэв дозами 3. 1016 —1,5-1017 протон/см2. Интенсивность облучения 2÷7-1012 протон/см2·сек. С помощью электронной микроскопии на просвет в облученных образцах обнаружены радиационные повреждения типа дислокационных петель и пузырьков.
Пособие представляет собой лекции по вариационному исчислению. Предлагаемому курсу лекций соответствует сборник задач, который содержится в учебном пособии.
The conferences “Fundamental Problems of High Temperature Superconductivity” (FPS) have become traditional since the first one in 2004. The problem of high-temperature superconductivity remains highly topical: quite regularly, novel HTS materials come on stage (copper oxide high-Tc superconductors in 1986, magnesium diboride in 2001, iron pnictide and iron chalcogenide compounds in 2008, FeSe monolayers in 2012, and sulfur hydrides in 2014–2015). Achieving progressively higher superconducting transition temperatures remains an encouraging motivation for researchers in the field. Up to now, the highest Tc, 203 K, is achieved for H2S(H3S) pressurized at ∼ 2 Mbar. Nevertheless, a commonly accepted approach to the problem of high-temperature superconductivity is still missing.
Конференции ИТНТ-2018 проводится с целью предоставления возможности научных дискуссий и обсуждения результатов фундаментальных и прикладных исследований в области информационных технологий и нанотехнологий, привлечения молодежи в сферу передовых научных исследований, обмена опытом научнообразовательной деятельности при подготовке ИТНТ-специалистов. Тематика Конференции ИТНТ-2018 охватывает широкий круг областей применения информационных технологий в науке и высокотехнологичных отраслях промышленности. Основными направлениями работы Конференции ИТНТ-2018 являются: • Компьютерная оптика и нанофотоника о дифракционная оптика; о планарные оптические структуры; о оптические системы формирования изображений; о гиперспектральные изображающие системы; о нанофотоника; о волоконная оптика; • Обработка изображений и дистанционное зондирование Земли о обработка и анализ данных дистанционного зондирования Земли; о цифровая обработка изображений; о анализ движения; о реконструкция сцены о обработка и анализ данных дистанционного зондирования Земли; о защита мультимедиа и встраивание информации; о геоинформатика; • Математическое моделирование физико-технических процессов и систем о математическое моделирование информационных процессов; о математическое моделирование физических процессов и явлений; о математическое моделирование технических систем • Наука о данных о анализ данных; о машинное обучение; о безопасность, криптография; о высокопроизводительные вычисления. Одним из приоритетных направлений работы Конференции ИТНТ-2018 является образовательный аспект, заключающийся в предоставлении студентам и молодым ученым возможности ознакомиться с новейшими научными достижениями по тематике Конференции, а также с уникальным научным оборудованием и лабораторной базой Самарского университета, используемой для реализации современных научных проектов. В рамках Конференции проводится Молодежная школа, где молодые ученые и студенты получат возможность повысить свой профессиональный уровень и опубликовать свои научные результаты, в том числе в изданиях CEUR Workshop Proceedings (индексируется в Scopus) и Journal of Physics: Conference Series (индексируется в Web of Science).