Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения

Физика твердого тела. 2019. Т. 61. № 8. С. 1499–1504.

Смирнова И. А., Шулаков Е. В., Суворов Э. В.

Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой

дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского

излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования

дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов рас-

положенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений

дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей.

Ключевые слова: дефекты кристаллической структуры, рентгеновская топография, X-ray topography, crystal structure defects, defect diffraction contrast, Tagaki equations, дифракционный контраст дефектов, уравнение Такаги