?
Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения
Физика твердого тела. 2019. Т. 61. № 8. С. 1499–1504.
Смирнова И. А., Шулаков Е. В., Суворов Э. В.
Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой
дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского
излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования
дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов рас-
положенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений
дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей.
Singapore: Springer Singapore, 2026.
Добавлено: 12 октября 2026 г.
Goncharov A., Чибисов А. Н., Advanced Theory and Simulations 2023 Vol. 12 No. 13 Article 2200816
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Prokhorenko A., Чибисов А. Н., Gnidenko A. и др., The Journal of Physical Chemistry Letters 2024 Vol. 15 No. 41 P. 10295–10300
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Чибисов А. Н., Chibisova M., Modern Electronic Materials 2025 Vol. 71 P. 99–103
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Tyagi V., Srivastava A., Mangal A. и др., Surfaces and Interfaces 2025 Vol. 73 Article 107591
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Vangapandu E., Agrawal S., Kumar S. и др., Materials Science in Semiconductor Processing 2026 Vol. 211 Article 110752
Добавлено: 10 октября 2026 г.
В данной работе исследуются теоретические пределы обнаружения объектов в изотропных рассеивающих средах с использованием однофотонного лидара. В рамках упрощенной модели мы выводим фундаментальную зависимость между максимальной достижимой дальностью обнаружения и необходимым количеством фотонов в импульсе. Анализируются два различных предельных режима: режим баллистических фотонов, который сохраняет высокое пространственное разрешение, но требует экспоненциального увеличения мощности источника с ...
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Добавлено: 8 октября 2026 г.
Исаев Т. Ф., Шаров А. Н., Журнал вычислительной математики и математической физики 2026 Т. 66 № 1 С. 83–93
Исследуются свойства оптических покрытий на основе использования упрощенного симулятора ошибок в толщинах слоев покрытий при их напылении. Обосновывается возможность такого подхода. Выводятся аналитические оценки среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и степени коррелированности ошибок в толщинах слоев покрытия. Изучается зависимость среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и свойств покрытия от уровня случайных ошибок в слоях. ...
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Осипова А. М., Пилипенко С. В., Novikov D. I. и др., Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology 2026 Vol. 114 Article 063522
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Gribova N. I., Osmanov S. V., Lyashko S. D. и др., Journal of Magnetism and Magnetic Materials 2025 No. 614 P. 1–8
Добавлено: 4 октября 2026 г.
Seleznev G., Fominov Yakov V., Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics 2026 Vol. 114 No. 7 Article 074505
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Углов Т. В., Пахлов П. Н., Бодров Д. А. и др., Journal of High Energy Physics 2026 Vol. 04 Article 101
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Углов Т. В., Пахлов П. Н., Бодров Д. А. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article L051102
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Kovaleva N. N., Chvostova D., Fursova T. N. и др., Journal of Chemical Physics 2025 Vol. 163 No. 19 Article 194711
Добавлено: 18 февраля 2026 г.
Пеетерс Ф. М., Mahdavifar M., Khoeini F., Journal of Applied Physics 2024 Vol. 136 Article 184301
Добавлено: 15 сентября 2025 г.
Tolstov K. Y., Politov B. V., Zhukov V. P. и др., Journal of Alloys and Compounds 2021 Vol. 883 Article 160821
Добавлено: 23 июня 2021 г.
Суворов Э. В., Золотов Д., Асадчиков В. и др., Автометрия 2019 № 2 С. 28–35
Работа пордолжает цикл исслдедований по развитию метода рентгеновской дифракционной томографии с использованием лабораторного источника. В результате тестирования степени чувствительности рентгеновского дифрактометра получены результатыисследования пространственного расположения одиночной дислокационной полупетли в монокристалле кремния. Проведено их сравнение с экспериментальными данными с высоким пространственным разрешением, полученными на синхротронном источнике излучения ESRF. ...
Добавлено: 21 ноября 2019 г.
Великий Новгород: Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики, 2011.
В книге опубликованы доклады, представленные на семинаре "Современные методы анализа дифракционных данных". Тематика семинара включает рентгеновскую топографию, дифрактометрию, электронную микроскопию, а также актуальные проблемы рентгеновской оптики ...
Добавлено: 28 марта 2013 г.