?
Рентгеновская дифракционная томография с применением лабораторных источников для исследования одиночных дислокаций в слабо поглощающем монокристалле кремния
Автометрия. 2019. № 2. С. 28–35.
Суворов Э. В., Золотов Д., Асадчиков В., Бузмаков А., Дьячков И., Кривоносов Ю., Чуховский Ф.
Работа пордолжает цикл исслдедований по развитию метода рентгеновской дифракционной томографии с использованием лабораторного источника. В результате тестирования степени чувствительности рентгеновского дифрактометра получены результатыисследования пространственного расположения одиночной дислокационной полупетли в монокристалле кремния. Проведено их сравнение с экспериментальными данными с высоким пространственным разрешением, полученными на синхротронном источнике излучения ESRF.
Дмитриев А. В., Корнилов В. В., Batienkov R., Lecture Notes in Civil Engineering 2026 Vol. 886 P. 249–255
Добавлено: 13 октября 2026 г.
Дмитриев А. В., Shulman I., Лебедев А. А., Studies in Computational Intelligence 2026 Vol. 1265 P. 266–273
Добавлено: 13 октября 2026 г.
Добавлено: 13 октября 2026 г.
Makarov D. M., Каликин Н. Н., Fashchevsky K. A. и др., Electrochimica Acta 2026 Vol. 579 Article 150159
Добавлено: 13 октября 2026 г.
В данной работе проведено сравнение точности дальнометрии лидарных архитектур прямого времени пролёта (dToF) и вне прямой видимости (NLOS), обе из которых используют сверхпроводящий нанопроволочный детектор одиночных фотонов (SNSPD). Обе системы работают на длине волны 1550 нм с импульсным лазером длительностью 50 пс и методом коррелированного во времени счёта одиночных фотонов (TCSPC). Конфигурация dToF обеспечила точность около 100 мкм ...
Добавлено: 12 октября 2026 г.
Singapore: Springer, 2026.
Добавлено: 12 октября 2026 г.
Goncharov A., Чибисов А. Н., Advanced Theory and Simulations 2023 Vol. 12 No. 13 Article 2200816
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Добавлено: 11 октября 2026 г.
Смирнова И. А., Шулаков Е. В., Суворов Э. В., Физика твердого тела 2019 Т. 61 № 8 С. 1499–1504
Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой
дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского
излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования
дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов рас
положенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений
дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей. ...
Добавлено: 21 ноября 2019 г.
Ингачева А. С., Чукалина М. В., Николаев Д. П. и др., , in: International Conference on Machine Vision (ICMV 2016), November 18-20, 2016, Nice, France.: SPIE, 2016.
Добавлено: 15 декабря 2016 г.
Ингачева А. С., Чукалина М. В., Прун В. Е. и др., В кн.: Сборник материалов Седьмого международного научного семинара и Пятой международной молодежной научной школы-семинара "Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики" 24-29 августа 2015 г. В. Новгород.: [б.и.], 2015. С. 244–246.
Artifacts caused by intensely absorbing areas are encountered in computed tomography (CT) and may obscure or simulate pathology in medical applications, hide or mimic the cracks and cavities in the devices at industrial applications. We simulated sinograms with different levels of absorption to demonstrate the artifacts dynamics. If the analysis of the measured data shows ...
Добавлено: 30 ноября 2015 г.
Великий Новгород: Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики, 2011.
В книге опубликованы доклады, представленные на семинаре "Современные методы анализа дифракционных данных". Тематика семинара включает рентгеновскую топографию, дифрактометрию, электронную микроскопию, а также актуальные проблемы рентгеновской оптики ...
Добавлено: 28 марта 2013 г.
Черноголовка: Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 2010.
Приведены тексты докладов, представленных на рабочем совещании "Рентгеновская оптика - 2010". Тематика совещания включала следующие разделы: рентгеновская кристаллооптика, многослойная оптика для рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазона, технология изготовления элементов рентгеновской оптики, применение рентгеновской оптики для исследоания микро- и наноструктур, рентгеновская литография, рентгеновская микроскопия и томография, новые методы исследования микро- и наноструктур с использованием синхротронных и ...
Добавлено: 28 марта 2013 г.
Асадчиков В. Е., Бузмаков А., Золотов Д. А. и др., Мир измерений 2012 № 6 С. 22–31
Статья посвящена перспективам развития методов рентгеновской компьютерной томографии. Авторами был сконструирован и испытан комплекс лабораторных рентгеновских микротомографов на базе рентгеновских дифрактометров. В статье приведены результаты экспериментальных исследований микрообъектов, дефектов структуры кристаллов методом топо-томографии, а также качества вогнутых сферических поверхностей.
Рентгеновская компьютерная томография в настоящее время является одним из основных диагностических методов медицинских исследований. Принцип томографического исследования ...
Добавлено: 13 декабря 2012 г.
Геранин А. С., Бузмаков А., Волков Ю. О. и др., Заводская лаборатория. Диагностика материалов 2011 Т. 77 № 10 С. 41–44
Описано применение различных кристаллов-монохроматоров для рентгеновской микротомографии в лабораторных условиях. Предложены оптимальные схемы взаимного расположения источника, образца и детектора, различающиеся в зависимости от типов монохроматоров. ...
Добавлено: 12 апреля 2012 г.