?
Рентгеновская дифракционная томография с применением лабораторных источников для исследования одиночных дислокаций в слабо поглощающем монокристалле кремния
Автометрия. 2019. № 2. С. 28–35.
Суворов Э. В., Золотов Д., Асадчиков В., Бузмаков А., Дьячков И., Кривоносов Ю., Чуховский Ф.
Работа пордолжает цикл исслдедований по развитию метода рентгеновской дифракционной томографии с использованием лабораторного источника. В результате тестирования степени чувствительности рентгеновского дифрактометра получены результатыисследования пространственного расположения одиночной дислокационной полупетли в монокристалле кремния. Проведено их сравнение с экспериментальными данными с высоким пространственным разрешением, полученными на синхротронном источнике излучения ESRF.
Chertenkov V. I., Щур Л. Н., Lobachevskii Journal of Mathematics 2026 Vol. 47 No. 2 P. 720–727
Добавлено: 16 июня 2026 г.
Батурин А. С., Гаврилов В. Р., Иванов А. В. и др., Измерительная техника 2026 Т. 75 № 2 С. 14–28
28 декабря 2025 года Всероссийскому научно-исследовательскому институту оптико-физических измерений (ВНИИОФИ) исполнилось 60 лет. За прошедшие десятилетия институт выполнил значительное количество научных исследований, разработал и поставил потребителям тысячи высокоточных средств оптико-физических измерений (включая эталонное оборудование). В статье представлены наиболее значимые для метрологического обеспечения оптико-физических измерений результаты научно-исследовательских работ, выполненных ВНИИОФИ за период 2016–2025 гг. ...
Добавлено: 15 июня 2026 г.
Минаев В. Л., Измерительная техника 2025 Т. 74 № 2 С. 20–27
Качество формируемого оптической системой изображения определяется её частотно-контрастной характеристикой или коэффициентами передачи модуляции на различных пространственных частотах. Для обеспечения единства измерений коэффициентов передачи модуляции и создания эталонной базы по воспроизведению, хранению и передаче единицы коэффициента передачи модуляции усовершенствован Государственный первичный эталон единиц оптической силы очковой оптики ГЭТ 205-2013 в части воспроизведения единицы коэффициентов передачи модуляции ...
Добавлено: 15 июня 2026 г.
Filippova A. V., Yurchenko N. Y., Smirnov S. A. и др., Journal of Alloys and Compounds 2026 No. 1074 Article 189162
Добавлено: 12 июня 2026 г.
Спонтанное образование скин-слоя в воде с деформацией ОН-полосы КР вкладом компоненты льда 3200 см-1
Першин С. М., Степанов Е. В., Артемова Д. Г. и др., Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики 2026 Т. 123 № 6 С. 383–390
Открыто спонтанное образование в течение 4 ч скин-слоя дистиллированной воды толщиной до 3 мм при комнатной температуре с новыми свойствами. Обнаружены деформация ОН-полосы комбинационного рассеяния вкладом компоненты льда ( 3200 см-1), снижение коэффициента упругого рассеяния и его флуктуаций, а также увеличение на 20 капиллярах. Восстановление слоя после обогащения воздухом в результате перемешивания указывает на стабильность ...
Добавлено: 8 июня 2026 г.
N.S. Artekha, D.R. Shklyar, Physics of Plasmas 2026 Vol. 33 No. 6 Article 062105
Добавлено: 6 июня 2026 г.
Zirnik G., Остовари М. А., Zhukov S. и др., Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2026 Vol. 37 Article 738
Добавлено: 6 июня 2026 г.
Flamarion M. V., Пелиновский Е. Н., Nonlinear Dynamics 2026 Vol. 114 Article 784
Добавлено: 5 июня 2026 г.
Добавлено: 4 июня 2026 г.
Kornbleuth M., Opher M., Drake J. F. и др., Astrophysical Journal 2026 Vol. 1004 No. 1 Article 1
Добавлено: 3 июня 2026 г.
Добавлено: 2 июня 2026 г.
Fortuna A. S., A.I. Kartsev, Gorshenkov M. V. и др., Journal of Alloys and Compounds 2026 Vol. 1070 Article 188711
Добавлено: 2 июня 2026 г.
Dikhtievskaya K., Argunov E., Alexey I. Kartsev и др., The Journal of Physical Chemistry Letters 2026 Vol. 17 No. 17 P. 4999–5004
Добавлено: 2 июня 2026 г.
Duran E. ., Pulgar A., Izquierdo R. и др., Physica Status Solidi (A) Applications and Materials 2026 Vol. 223 No. 7 Article e202500942
Добавлено: 1 июня 2026 г.
Борисов В. Д., Данилов В. Г., Электросвязь 2025 № 12 С. 73–84
Представлены результаты математического моделирования процесса полевой эмиссии из катода малых размеров – одного из основных физических процессов, обеспечивающих работы многих электронных устройств, в частности FED-дисплеев (устройства, работающие на принципе полевой эмиссии), кантилеверов и т.д. Дается краткий обзор текущих результатов в области исследования, обосновывается актуальность задачи, приводятся примеры наиболее вероятного использования результатов решения задачи. Обсуждаются физические ...
Добавлено: 29 мая 2026 г.
Смирнова И. А., Шулаков Е. В., Суворов Э. В., Физика твердого тела 2019 Т. 61 № 8 С. 1499–1504
Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой
дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского
излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования
дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов рас
положенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений
дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей. ...
Добавлено: 21 ноября 2019 г.
Ингачева А. С., Чукалина М. В., Николаев Д. П. и др., , in: International Conference on Machine Vision (ICMV 2016), November 18-20, 2016, Nice, France.: SPIE, 2016.
Добавлено: 15 декабря 2016 г.
Ингачева А. С., Чукалина М. В., Прун В. Е. и др., В кн.: Сборник материалов Седьмого международного научного семинара и Пятой международной молодежной научной школы-семинара "Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики" 24-29 августа 2015 г. В. Новгород.: [б.и.], 2015. С. 244–246.
Artifacts caused by intensely absorbing areas are encountered in computed tomography (CT) and may obscure or simulate pathology in medical applications, hide or mimic the cracks and cavities in the devices at industrial applications. We simulated sinograms with different levels of absorption to demonstrate the artifacts dynamics. If the analysis of the measured data shows ...
Добавлено: 30 ноября 2015 г.
Великий Новгород: Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики, 2011.
В книге опубликованы доклады, представленные на семинаре "Современные методы анализа дифракционных данных". Тематика семинара включает рентгеновскую топографию, дифрактометрию, электронную микроскопию, а также актуальные проблемы рентгеновской оптики ...
Добавлено: 28 марта 2013 г.
Черноголовка: Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 2010.
Приведены тексты докладов, представленных на рабочем совещании "Рентгеновская оптика - 2010". Тематика совещания включала следующие разделы: рентгеновская кристаллооптика, многослойная оптика для рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазона, технология изготовления элементов рентгеновской оптики, применение рентгеновской оптики для исследоания микро- и наноструктур, рентгеновская литография, рентгеновская микроскопия и томография, новые методы исследования микро- и наноструктур с использованием синхротронных и ...
Добавлено: 28 марта 2013 г.
Асадчиков В. Е., Бузмаков А., Золотов Д. А. и др., Мир измерений 2012 № 6 С. 22–31
Статья посвящена перспективам развития методов рентгеновской компьютерной томографии. Авторами был сконструирован и испытан комплекс лабораторных рентгеновских микротомографов на базе рентгеновских дифрактометров. В статье приведены результаты экспериментальных исследований микрообъектов, дефектов структуры кристаллов методом топо-томографии, а также качества вогнутых сферических поверхностей.
Рентгеновская компьютерная томография в настоящее время является одним из основных диагностических методов медицинских исследований. Принцип томографического исследования ...
Добавлено: 13 декабря 2012 г.
Геранин А. С., Бузмаков А., Волков Ю. О. и др., Заводская лаборатория. Диагностика материалов 2011 Т. 77 № 10 С. 41–44
Описано применение различных кристаллов-монохроматоров для рентгеновской микротомографии в лабораторных условиях. Предложены оптимальные схемы взаимного расположения источника, образца и детектора, различающиеся в зависимости от типов монохроматоров. ...
Добавлено: 12 апреля 2012 г.