?
Устройство перемещения для нанотехнологии
С. 170–172.
Ивашов Е. Н., Перевозников А. Ю., Демидов Д. В., Голишникова Л. Я.
В работе рассмотрены принципы построения устройств перемещения для сканирующей зондовой микроскопии, предложено устройство перемещения для нанотехнологии, позволяющее обеспечить взаимную независимость перемещений зонда по координатным осям.
В книге
Ч. 4. , М.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2011.
Vilkov E. A., Byshevski-Konopko O. A., Калябин Д. В. и др., Journal of Physics: Condensed Matter 2023 Vol. 35 No. 43 Article 435001
Добавлено: 18 августа 2023 г.
Dai T., Калябин Д. В., Nikitov S., Ultrasonics 2022 Vol. 121 Article 106656
Добавлено: 2 февраля 2022 г.
Казанцев Д. В., Казанцева Е. А., Кузнецов Е. В. и др., Известия РАН. Серия физическая 2017 Т. 81 № 12 С. 1709–1714
Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ...
Добавлено: 6 декабря 2020 г.
Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2014.
Сборник трудов, представленных на XVIII международном симпозиуме "Нанофизика и наноэлектроника" и посвященных актуальным проблемам физики конденсированного состояния, рентгеновской оптики и методам диагностики наноструктур. ...
Добавлено: 15 марта 2014 г.
Лозовик Ю. Е., Nechepurenko I., Dorofeenko A. и др., Physics Letters A 2014 Vol. 378 No. 9 P. 723–727
Добавлено: 13 января 2014 г.
Ивашов Е. Н., Федотов К. Д., Международный журнал экспериментального образования 2013 Т. 2 № 10 С. 346–348
Приведено описание пакетных пьезоактюаторов, формулы для расчета абсолютных и относительных деформаций пьезоактюаторов в первом и втором приближениях. Показан пример модификации машинных методов для более точного расчета анизотропных тел, а именно, пьезокерамики. Предложено решение трех- координатного пьезоактюатора, а так же приведено описание его работы. Указаны недостатки пакетных пье- зоактюаторов и методы их устранения. ...
Добавлено: 18 декабря 2013 г.
Васин В. А., Ивашов Е. Н., Степанчиков С. В., Надежность 2013 № 1 С. 92–103
Рассмотрены вопросы надёжности систем многофункциональных пьезомодулей, которая зависит от системы автоматического управления пьезосканерами в целом (и отдельными пьезомодулями), а также от надёжности работы самих пьезомодулей, в которых реализуется преобрахование электрической энергии в механичсекую. ...
Добавлено: 13 августа 2013 г.
Львов Б. Г., Бондаренко Г. Г., Николаевский А. В., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Содержанием учебно-методического пособия является изучение и практическое освоение основных зондовых методов исследования поверхности электропроводных и диэлектрических наноматериалов, изучение принципов работы сканирующего зондового микроскопа с элементами инженерного тренинга. ...
Добавлено: 13 мая 2013 г.
Ефимов И. А., Ивашов Е. Н., Корпачев М. Ю. и др., В кн.: INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., МоскваЧ. 1.: М.: Энергоатомиздат, 2009. С. 237–239.
В настоящей работе рассмотрено одно из решений обеспечения термостабилизации пьезопривода и зонда в системе устройства СЗМ. Предложенный метод позволяет обеспечить теплоотвод от пьезопривода и зонда и, в конечном итоге, реализует их термостабильность. ...
Добавлено: 8 февраля 2013 г.
Ефимов И. А., Ивашов Е. Н., Корпачев М. Ю. и др., В кн.: INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., МоскваЧ. 1.: М.: Энергоатомиздат, 2009. С. 235–236.
В статье рассмотрен ряд ограничений использования СЗМ для исследования поверхностной структуры материалов. Предложено техническое решение позволяющее значительно расширить область применения сканирующих зондовых микроскопов. ...
Добавлено: 8 февраля 2013 г.
Карцев Е. А., Юрин А. И., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
Приведены основные понятия и определения нанометрологии, сведения об истории развития исследований в нанометровом диапазоне. Рассмотрена классификация нанообъектов, их свойства и параметры. Изложены принципы элементного и структурного анализа нанообъектов и вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий. Особое внимание уделено методам и средствам исследования поверхностей и нанопокрытий. Достаточно подробно рассмотрены конструкция и метрологические характеристики сканирующих туннельных, электронных и атомно-силовых ...
Добавлено: 28 сентября 2012 г.