• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • A
  • A
  • A
  • A
  • A
Обычная версия сайта
  • RU
  • EN
  • Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
  • Публикации ВШЭ
  • Глава
  • Термостабилизация элементов в устройствах сканирующей зондовой микроскопии
  • RU
  • EN
Расширенный поиск
Высшая школа экономики
Национальный исследовательский университет
Приоритетные направления
  • бизнес-информатика
  • государственное и муниципальное управление
  • гуманитарные науки
  • инженерные науки
  • компьютерно-математическое
  • математика
  • менеджмент
  • право
  • социология
  • экономика
по году
  • 2027
  • 2026
  • 2025
  • 2024
  • 2023
  • 2022
  • 2021
  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016
  • 2015
  • 2014
  • 2013
  • 2012
  • 2011
  • 2010
  • 2009
  • 2008
  • 2007
  • 2006
  • 2005
  • 2004
  • 2003
  • 2002
  • 2001
  • 2000
  • 1999
  • 1998
  • 1997
  • 1996
  • 1995
  • 1994
  • 1993
  • 1992
  • 1991
  • 1990
  • 1989
  • 1988
  • 1987
  • 1986
  • 1985
  • 1984
  • 1983
  • 1982
  • 1981
  • 1980
  • 1979
  • 1978
  • 1977
  • 1976
  • 1975
  • 1974
  • 1973
  • 1972
  • 1971
  • 1970
  • 1969
  • 1968
  • 1967
  • 1966
  • 1965
  • 1964
  • 1963
  • 1958
  • еще
Тематика
Новости
17 июня 2026 г.
Биоинформатики НИУ ВШЭ обнаружили 20 опасных мутаций в гене, связанном с легочной артериальной гипертензией
Ученые НИУ ВШЭ совместно с коллегами из российских университетов выяснили, какие мутации в гене ACVRL1 опасны для пациентов с легочной артериальной гипертензией. Они смоделировали, как изменения в гене влияют на связывание АТФ с белком — процесс, от которого зависит передача сигналов, необходимых для работы сосудов. Оказалось, что 20 из 32 вариантов могут нарушать передачу сигнала и провоцировать болезнь. Результаты опубликованы в Journal of Structural Biology.
17 июня 2026 г.
Интеллектуальная робототехника: кадровый голод и масса возможностей
Пока на рынке мало кадров, способных заниматься разработкой интеллектуальных робототехнических систем. Между тем именно к этому идет робототехника. Как учат ее проектированию и каково будущее отрасли, в интервью IQ Media рассказал заведующий Проектно-учебной лабораторией робототехники НИУ ВШЭ Вадим Моргачев.
17 июня 2026 г.
Каким должно быть образование, чтобы готовить кадры для экономики будущего
Эти вопросы обсудят на форуме HR EXPO PRO ЛЮДЕЙ, который состоится 18-19 июня в Москве. В его работе примет участие ректор НИУ ВШЭ Никита Анисимов, федеральные министры, HR-директора компаний, ректоры вузов, эксперты. На форуме будет представлен стенд, посвященный программам ДПО НИУ ВШЭ.

 

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации
  • Книги
  • Статьи
  • Главы в книгах
  • Препринты
  • Верификация публикаций
  • Расширенный поиск
  • Правила использования материалов
  • Наука в ВШЭ

?

Термостабилизация элементов в устройствах сканирующей зондовой микроскопии

С. 237–239.
Ефимов И. А., Ивашов Е. Н., Корпачев М. Ю., Костомаров П. С., Лучников П. А.

В настоящей работе рассмотрено одно из решений обеспечения термостабилизации пьезопривода и зонда в системе устройства СЗМ. Предложенный метод позволяет обеспечить теплоотвод от пьезопривода и зонда и, в конечном итоге, реализует их термостабильность.

Язык: русский
Ключевые слова: пьезоприводсканирующая зондовая микроскопиязондтепловая трубатермостабилизация

В книге

INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., Москва
INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., Москва
Ч. 1. , М.: Энергоатомиздат, 2009.
Похожие публикации
Deformation and fracture of crystalline tungsten and fabrication of composite STM probes
Andrei M. Ionov, Chekmazov S., Usov V. и др., Ultramicroscopy 2020 Vol. 218 No. 11 P. 113083
Добавлено: 24 декабря 2020 г.
Сканирующий безапертурный микроскоп ближнего оптического поля - прибор для исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением
Казанцев Д. В., Казанцева Е. А., Кузнецов Е. В. и др., Известия РАН. Серия физическая 2017 Т. 81 № 12 С. 1709–1714
Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ...
Добавлено: 6 декабря 2020 г.
Оптимизация устройства наноперемещений для выполнения технологических операций
Ивашов Е. Н., Федотов К. Д., Дальская Г. Ю., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: Материалы международной научно-технической конференции INTERMATIC-2015Ч. 3: Материалы и технологии.: М.: Редакционно-издательский отдел МИРЭА, 2015. С. 202–205.
Относительно  низкая  производительность  систем  туннельной  микроскопии с одним зондом не имеет особого значения при выполнении сканирования поверхности в научных целях, но ведет к необходимости создать устройство, способное выполнять технологические операции в нескольких областях подложки одновременно с заданной степенью точности. ...
Добавлено: 6 декабря 2015 г.
Решение задачи оптимизации пьезопривода для нанотехнологии
Ивашов Е. Н., Князева М. П., Федотов К. Д. и др., Вестник машиностроения, СТИН 2015 № 8 С. 55–58
Представлено техническое решение пьезопривода для нанотехнологии. Рассмотрены задачи оптимизации методами штрафной функции и Флетчера—Ривза. Оба метода описаны уравнениями и для удобства представлены в матричной форме. ...
Добавлено: 23 сентября 2015 г.
Оптимизационные модели термоэлемента Пельтье и тепловой трубы
Громов И. Ю., Кожевников А. М., Системный администратор 2014 № 7-8 С. 139–143
В статье рассматриваются тепловые модели элемента Пельтье и тепловой трубы, предназначенные для включения в общую тепловую модель конструкции электронной аппаратуры с целью оптимизации параметров системы обеспечения её теплового режима. Модели строятся на основе экспериментальных данных производителя и содержат минимальное количество изменяемых параметров. ...
Добавлено: 6 марта 2015 г.
Применение методов штрафной функции и Флетчера-Ривза в задаче оптимизации пьезоприводов
Ивашов Е. Н., Федотов К. Д., Яговцев В. О., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения / Материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC–2014», 1–5 декабря 2014 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА, 2014. С. 120–123.
Применение пьезоприводов в нанотехнологии позволяет достигать высоких ре-зультатов в плане точности позиционирования зонда, что в свою очередь позволяет достичь высокого качества снимков поверхности подложки или модификации поверх-ности подложки для достижения определенных функциональных результатов. С целью оптимизации конструкции ...
Добавлено: 8 декабря 2014 г.
Оптимизация технического решения пьезопривода для нанотехнологии
Ивашов Е. Н., Федотов К. Д., Яговцев В. О., В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения / Материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC–2014», 1–5 декабря 2014 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА, 2014. С. 116–119.
Оптимизация технического решения пьезоэлектрического сканера состоит в ми-нимизации функции f(x) = f(x1, x2, …, xn), где x определяется явными ограничениями lj≤xj≤uj при j=1, 2, …, n, а также неявными ограничениями gi(x)≤biприi=1, 2, …, m. ...
Добавлено: 8 декабря 2014 г.
Нанофизика и наноэлектроника. Труды XVIII Международного симпозиума (Нижний Новгород. 10-14 марта 2014 г.)
Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2014.
Сборник трудов, представленных на XVIII международном симпозиуме "Нанофизика и наноэлектроника" и посвященных актуальным проблемам физики конденсированного состояния, рентгеновской оптики и методам диагностики наноструктур. ...
Добавлено: 15 марта 2014 г.
Spaser Spectroscopy with Subwavelength Spatial Resolution
Лозовик Ю. Е., Nechepurenko I., Dorofeenko A. и др., Physics Letters A 2014 Vol. 378 No. 9 P. 723–727
Добавлено: 13 января 2014 г.
Поперечные и продольные колебания пьезопривода при формировании квантовых точек
Ивашов Е. Н., Князева М. П., В кн.: INTERMATIC - 2013. Материалы Международной научно-технической конференции "Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения", 2–6 декабря 2013 г., МоскваЧ. 3.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2013. С. 198–204.
Рассмотрено устройство возбуждения кантилевера. Описаны колебания биморфного кантиливера. Показано устройство формирования квантовых точек из газовой среды. ...
Добавлено: 21 декабря 2013 г.
Особенности проектирования многокоординатных пьезоактюаторов
Ивашов Е. Н., Федотов К. Д., Международный журнал экспериментального образования 2013 Т. 2 № 10 С. 346–348
Приведено описание пакетных пьезоактюаторов, формулы для расчета абсолютных и относительных  деформаций пьезоактюаторов в первом и втором приближениях. Показан пример модификации машинных  методов для более точного расчета анизотропных тел, а именно, пьезокерамики. Предложено решение трех- координатного пьезоактюатора, а так же приведено описание его работы. Указаны недостатки пакетных пье- зоактюаторов и методы их устранения. ...
Добавлено: 18 декабря 2013 г.
Надёжность пьезосканеров в зондовой микроскопии
Васин В. А., Ивашов Е. Н., Степанчиков С. В., Надежность 2013 № 1 С. 92–103
Рассмотрены вопросы надёжности систем многофункциональных пьезомодулей, которая зависит от системы автоматического управления пьезосканерами в целом (и отдельными пьезомодулями), а также от надёжности работы самих пьезомодулей, в которых реализуется преобрахование электрической энергии в механичсекую. ...
Добавлено: 13 августа 2013 г.
Изучение приемов эксплуатации сканирующего зондового микроскопа СММ-2000
Львов Б. Г., Бондаренко Г. Г., Николаевский А. В., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Учебно-методическое пособие направлено на практическое изучение основных приемов эксплуатации, настройки и работы на сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000 и проведение инженерного тренинга учащихся. ...
Добавлено: 13 мая 2013 г.
Сканирующая зондовая микроскопия в исследовании поверхностной структуры наноматериалов
Львов Б. Г., Бондаренко Г. Г., Николаевский А. В., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
Содержанием учебно-методического пособия является изучение и практическое освоение основных зондовых методов исследования поверхности электропроводных и диэлектрических наноматериалов, изучение принципов работы сканирующего зондового микроскопа с элементами инженерного тренинга. ...
Добавлено: 13 мая 2013 г.
Устройство перемещения для нанотехнологии
Ивашов Е. Н., Перевозников А. Ю., Демидов Д. В. и др., В кн.: INTERMATIC - 2011. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 14-17 ноября 2011 г., МоскваЧ. 4.: М.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2011. С. 170–172.
В работе рассмотрены принципы построения устройств перемещения для сканирующей зондовой микроскопии, предложено устройство перемещения для нанотехнологии, позволяющее обеспечить взаимную независимость перемещений зонда по координатным осям. ...
Добавлено: 8 февраля 2013 г.
Структура зонда в СЗМ для исследования поверхности диэлектрических подложек
Ефимов И. А., Ивашов Е. Н., Корпачев М. Ю. и др., В кн.: INTERMATIC - 2009. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения», 7 - 11 декабря 2009 г., МоскваЧ. 1.: М.: Энергоатомиздат, 2009. С. 235–236.
В статье рассмотрен ряд ограничений использования СЗМ для исследования поверхностной структуры материалов. Предложено техническое решение позволяющее значительно расширить область применения сканирующих зондовых микроскопов. ...
Добавлено: 8 февраля 2013 г.
Основы нанометрологии
Карцев Е. А., Юрин А. И., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
Приведены основные понятия и определения нанометрологии, сведения об истории развития исследований в нанометровом диапазоне. Рассмотрена классификация нанообъектов, их свойства и параметры. Изложены принципы элементного и структурного анализа нанообъектов и вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий. Особое внимание уделено методам и средствам исследования поверхностей и нанопокрытий. Достаточно подробно рассмотрены конструкция и метрологические характеристики сканирующих туннельных, электронных и атомно-силовых ...
Добавлено: 28 сентября 2012 г.
Исследование пьезоэлектрических микронасосов для медицинской и космической техники
Виноградов А. Н., Духовенский Г. Е., В кн.: Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине. Труды XII межвузовской научной школы молодых специалистов.: М.: Издательство МГУ, 2011. С. 82–87.
В статье приведен обзор существующих малогабаритных насосов с пьезоэлектрическим приводом и дан теоретический анализ двух перспективных моделей для медицинской и космической техники. Сделана оценка производительности устройств и примеры их моделирования в специально разработанной программе для ЭВМ. ...
Добавлено: 20 апреля 2012 г.
Моделирование микропьезонасосов
Виноградов А. Н., Духовенский Г. Е., В кн.: Функциональные наноматериалы для космической техники. Труды 2-й Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: МИЭМ, 2011. С. 244–252.
Рассмотрены модели микромеханических пьезонасосов двух типов: мембранного и перистальтического. Приведены результаты анализа двумерных моделей аналитическим методом. Найдены собственные частоты и формы колебаний. Дана оценка производительности насосов в зависимости от частоты возбуждения. Предложена схема создания бегущей волны деформаций в модели перистальтического насоса. ...
Добавлено: 18 апреля 2012 г.
  • О ВЫШКЕ
  • Цифры и факты
  • Руководство и структура
  • Устойчивое развитие в НИУ ВШЭ
  • Преподаватели и сотрудники
  • Корпуса и общежития
  • Закупки
  • Обращения граждан в НИУ ВШЭ
  • Фонд целевого капитала
  • Противодействие коррупции
  • Сведения о доходах, расходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера
  • Сведения об образовательной организации
  • Людям с ограниченными возможностями здоровья
  • Единая платежная страница
  • Работа в Вышке
  • ОБРАЗОВАНИЕ
  • Лицей
  • Довузовская подготовка
  • Олимпиады
  • Прием в бакалавриат
  • Вышка+
  • Прием в магистратуру
  • Аспирантура
  • Дополнительное образование
  • Центр развития карьеры
  • Бизнес-инкубатор ВШЭ
  • Образовательные партнерства
  • Обратная связь и взаимодействие с получателями услуг
  • НАУКА
  • Научные подразделения
  • Исследовательские проекты
  • Мониторинги
  • Диссертационные советы
  • Защиты диссертаций
  • Академическое развитие
  • Конкурсы и гранты
  • Внешние научно-информационные ресурсы
  • РЕСУРСЫ
  • Библиотека
  • Издательский дом ВШЭ
  • Книжный магазин «БукВышка»
  • Типография
  • Медиацентр
  • Журналы ВШЭ
  • Публикации
  • http://www.minobrnauki.gov.ru/
    Министерство науки и высшего образования РФ
  • https://edu.gov.ru/
    Министерство просвещения РФ
  • http://www.edu.ru
    Федеральный портал «Российское образование»
  • https://elearning.hse.ru/mooc
    Массовые открытые онлайн-курсы
  • НИУ ВШЭ1993–2026
  • Адреса и контакты
  • Условия использования материалов
  • Политика конфиденциальности
  • Правила применения рекомендательных технологий в НИУ ВШЭ
  • Карта сайта
Редактору