?
Сканирующий безапертурный микроскоп ближнего оптического поля - прибор для исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением
Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ей в пространство световыми волнами. Таким образом, образованная иглой наноантенна повышает эффективность оптического взаимодействия нано-объектов с «электромагнитным эфиром» на 4-5 порядков. Представлены результаты сканирования полупроводниковых и полимерных структур, демонстрирующие способность ASNOM давать контрастные изображения оптических свойств объектов (поглощения, отражения и термического расширения) с разрешающей способностью в 10-50нм независимо от длины волны