?
The Effect of the Gate Material in MIS Structures on the High-Field Charge Degradation in the Gate Dielectric
Inorganic Materials: Applied Research. 2026. Vol. 17. No. 5. P. 1226–1230.
Исаев Т. Ф., Шаров А. Н., Журнал вычислительной математики и математической физики 2026 Т. 66 № 1 С. 83–93
Исследуются свойства оптических покрытий на основе использования упрощенного симулятора ошибок в толщинах слоев покрытий при их напылении. Обосновывается возможность такого подхода. Выводятся аналитические оценки среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и степени коррелированности ошибок в толщинах слоев покрытия. Изучается зависимость среднеквадратичного значения нормы вектора ошибок и свойств покрытия от уровня случайных ошибок в слоях. ...
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Осипова А. М., Пилипенко С. В., Novikov D. I. и др., Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology 2026 Vol. 114 Article 063522
Добавлено: 5 октября 2026 г.
Gribova N. I., Osmanov S. V., Lyashko S. D. и др., Journal of Magnetism and Magnetic Materials 2025 No. 614 P. 1–8
Добавлено: 4 октября 2026 г.
Seleznev G., Fominov Yakov V., Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics 2026 Vol. 114 No. 7 Article 074505
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Углов Т. В., Пахлов П. Н., Бодров Д. А. и др., Journal of High Energy Physics 2026 Vol. 04 Article 101
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Углов Т. В., Пахлов П. Н., Бодров Д. А. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article L051102
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Aushev Т. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. 136 No. 23 Article 231801
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Пахлова Г. В., Бодров Д. А., Aushev Т. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 052009
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Aushev Т. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 032004
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Aushev Т. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 052006
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Пахлов П. Н., Пахлова Г. В., Бодров Д. А. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 112010
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Aushev Т. и др., Journal of High Energy Physics 2026 Vol. 05 Article 175
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Abumusabh М., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 032017
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Пахлов П. Н., Пахлова Г. В., Бодров Д. А. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. D No. 113 Article 112012
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Лубашевский И. А., Lubashevskiy V., Physica D: Nonlinear Phenomena 2026 Vol. 498 Article 135441
Добавлено: 2 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлов П. Н., Пахлова Г. В. и др., Physical Review Letters 2026 Vol. 137 Article 051805
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Aushev Т., Abumusabh М., Physical Review A: Atomic, Molecular, and Optical physics 2026 No. 136 Article 241901
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Бодров Д. А., Пахлова Г. В., Aushev Т. и др., Physical Review A: Atomic, Molecular, and Optical physics 2026 Vol. D 113 Article 032015
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Остовари М. А., Mehrabi-Kalajahi S., Solizoda I. A. и др., Metals and Materials International 2026 P. 1–9
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Добавлено: 1 октября 2026 г.
Выполнено сравнительное исследование процессов сильнополевой зарядовой
деградации подзатворного диэлектрика структур металл-диэлектрик-полупроводник (МДП)
с алюминиевым и поликремниевым затвором. Зарядовые явления в МДП-структурах
изучали методом сильнополевой инжекции электронов в диэлектрик в режиме возрастания
плотности стрессового инжекционного тока с кратковременными переключениями
в измерительный режим при постоянной низкой плотности инжекционного тока.
Использование данного метода позволило получить новые данные о процессах зарядовой
деградации подзатворного диэлектрика МДП-структур с ...
Добавлено: 21 мая 2026 г.
Andreev D. V., Kornev S. A., G. G. Bondarenko и др., Inorganic Materials: Applied Research 2025 Vol. 16 No. 5 P. 1301–1305
Добавлено: 12 сентября 2025 г.