?
Фотоэмиссия свободных носителей заряда в высокоомный полупроводник при освещении омических контактов
С. 220–222.
Исследовалась фотоэмиссия свободных носителей заряда в высокоомный полупроводник, создаваемая освещением приконтактной области омических контактов к образцу теллурида кадмия. Выявлено, что засветка приконтактной области влияет как на переходное сопротивление контакта, так и на объемную проводимость кристалла за счет повышения концентрации основных носителей заряда. Предложена методика раздельного определения переходного сопротивления контакта и объема образца, пригодная для высокоомных полупроводников.
Язык:
русский
В книге
М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.