?
Пути снижения размерности изображения топологии в УФ – литографическом процессе производства СБИС
С. 66–73.
Ивашов Е. Н., Корпачев М. Ю., Костомаров П. С., Ланцев А. Н., Лучников П. А.
Рассмотрены основные методы снижения минимального характеристического размера в литографической технологии, включающие в себя коррекцию оптического эффекта близости, метод искусственного фазового сдвига, иммерсирования, двойного экспонирования и паттернирования. Рассмотрены также методы отображения коллекции изображений в двухмерное пространство.
Язык:
русский
В книге
Ч. 3: Материалы и технологии. , М.: МГТУ МИРЭА – ИРЭ РАН, 2012.