• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • A
  • A
  • A
  • A
  • A
Обычная версия сайта
  • RU
  • EN
  • Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
  • Публикации ВШЭ
  • Глава
  • Реализация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства в виде автоматизированной системы для авиационного оборудования
  • RU
  • EN
Расширенный поиск
Высшая школа экономики
Национальный исследовательский университет
Приоритетные направления
  • бизнес-информатика
  • государственное и муниципальное управление
  • гуманитарные науки
  • инженерные науки
  • компьютерно-математическое
  • математика
  • менеджмент
  • право
  • социология
  • экономика
по году
  • 2027
  • 2026
  • 2025
  • 2024
  • 2023
  • 2022
  • 2021
  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016
  • 2015
  • 2014
  • 2013
  • 2012
  • 2011
  • 2010
  • 2009
  • 2008
  • 2007
  • 2006
  • 2005
  • 2004
  • 2003
  • 2002
  • 2001
  • 2000
  • 1999
  • 1998
  • 1997
  • 1996
  • 1995
  • 1994
  • 1993
  • 1992
  • 1991
  • 1990
  • 1989
  • 1988
  • 1987
  • 1986
  • 1985
  • 1984
  • 1983
  • 1982
  • 1981
  • 1980
  • 1979
  • 1978
  • 1977
  • 1976
  • 1975
  • 1974
  • 1973
  • 1972
  • 1971
  • 1970
  • 1969
  • 1968
  • 1967
  • 1966
  • 1965
  • 1964
  • 1963
  • 1958
  • еще
Тематика
Новости
26 мая 2026 г.
Гибкость рынка труда как новая норма: ее формы и адаптация работников
Гибкий рынок труда, который наблюдается сегодня, — не временная тактика или вынужденная мера, а системный ответ на ряд вызовов. Как меняется карьера, какие формы гибкости встречаются и как работникам адаптироваться к ним, в колонке для IQ Медиа размышляет директор Института занятости и профессий НИУ ВШЭ Федор Прокопов.
25 мая 2026 г.
Биологи ВШЭ получили «молекулярный отпечаток» преэклампсии
Исследователи НИУ ВШЭ использовали новый способ моделирования состояния гипоксии в клетках плаценты при беременности, осложненной преэклампсией, и обнаружили молекулярные маркеры кислородного голодания тканей. Гипоксия — один из ключевых механизмов преэклампсии, полученные результаты важны для более точной и своевременной диагностики заболевания, а также для разработки эффективных методов лечения. Работа опубликована в журнале Placenta.
22 мая 2026 г.
Лаборатория живых смыслов: как проект НИУ ВШЭ и СахГУ переосмысляет труд
Проект «Зеркальные лаборатории» НИУ ВШЭ — Пермь и Сахалинского государственного университета (СахГУ) изучает, как культура, среда и технологии формируют и меняют трудовые смыслы. Исследование объединяет индивидуальный опыт, профессиональные нормы, городские проблемы, творческие практики и цифровые условия труда. Руководитель Лаборатории междисциплинарных исследований по антропологии труда НИУ ВШЭ в Перми Лилия Пантелеева рассказала о работе проекта.

 

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации
  • Книги
  • Статьи
  • Главы в книгах
  • Препринты
  • Верификация публикаций
  • Расширенный поиск
  • Правила использования материалов
  • Наука в ВШЭ

?

Реализация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства в виде автоматизированной системы для авиационного оборудования

С. 1–6.
Королев П. С.

В работе описана инженерная методика оценки показателей долговечности ИМС иностранного производства, а также говорится, что автоматизация инженерной методики для оценки показателей долговечности современных интегральных микросхем иностранного производства с помощью использования Reliability Report фирм-производителей позволит не только, зная показатели безотказности и сохраняемости определить показатели долговечности с учетом известной модели эксплуатации. Она позволяет добиться повышения достоверности рассчитываемых показателей долговечности (средний ресурс, гамма-процентный ресурс, минимальная наработка) без проведения ускоренных испытаний повторно уже в России (осуществления входного контроля) с целью прохождения сертификации и сокращения времени расчета.

Язык: русский
Полный текст
Ключевые слова: интегральная микросхемапоказатели долговечности
ПУБЛИКАЦИЯ ПОДГОТОВЛЕНА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ПРОЕКТА:
Разработка методов и методик прогнозирования долговечности электронных средств на всех этапах жизненного цикла (2015)

В книге

Материалы XIII Всероссийской научно-технической конференции "Научные чтения по авиации, посвященные памяти Н.Е. Жуковского"
Издательский дом ВВИА им. проф. Н.Е.Жуковского, 2016.
Похожие публикации
Кластерный анализ процессов в полупроводниковом производстве
Стукач О. В., Ершов И. А., Динамика систем, механизмов и машин 2016 Т. 2 № 1 С. 178–181
В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении ...
Добавлено: 8 января 2019 г.
Оценка надёжности электронных измерительных приборов при воздействиях электростатических разрядов
Жаднов В. В., Мир измерений 2016 № 4 С. 8–11
В статье рассматриваются вопросы оценки надёжности электронных измерительных приборов при проектировании. Приводится описание моделей интенсивностей отказов КМОП ИС, учитывающих влияние ЭСР, и показано, что для электронных измерительных приборов, содержащих относительно небольшое количество таких микросхем, применение стандартизованной модели интенсивностей отказов, учитывающей влияние ЭСР, может привести к существенным погрешностям в расчётах надёжности. В качестве альтернативы предложена модель, ...
Добавлено: 13 октября 2016 г.
Применение методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства авиационного оборудования
Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: XLII Международная молодёжная научная конференция "Гагаринские чтения – 2016". Сборник тезисов докладовТ. 1.: [б.и.], 2016. С. 307–308.
В настоящее время авиационное оборудование оснащено современной электронной компонентной базой (ЭКБ). Практически каждая электронная система управления, встроенная в это оборудование не может обойтись без интегральных микросхем (ИМС). В большинстве случаев, российские компании для проектирования таких систем прибегают к ИМС иностранного производства (Китай, США, Япония и др.). ...
Добавлено: 2 июня 2016 г.
Особенности прогнозирования показателей типа «ресурс» для интегральных микросхем иностранного производства
Жаднов В. В., Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: X международная отраслевая научно-техническая конференция «Технологии информационного общества»: Сборник трудов.: М.: ИД Медиа Паблишер, 2016. С. 180–181.
Рассмотрены особенности прогнозирования показателей долговечности современных ИС ИП по справочным данным. ...
Добавлено: 31 марта 2016 г.
Forecasting Dependability Indicators of Spacecraft Onboard Equipment Under Low-Intensity Ionizing Radiation
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Прогнозирование показателей надежности бортовой аппаратуры космических аппаратов при воздействии ионизирующих излучений низкой интенсивности
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 № 1 С. 13–18
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Метод расчетной оценки показателей надежности бортовой аппаратуры космических аппаратов
Жаднов В. В., Артюхова М. А., В кн.: Труды Международного симпозиума "НАДЕЖНОСТЬ и КАЧЕСТВО" : в 2 т.Т. 2.: Пенза: ПГУ, 2014. С. 260–264.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфа-распределения времени наработки на отказ для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 3 июня 2014 г.
Прогнозирование показателей надежности КМОП ИС при воздействии ионизирующих излучений космического пространства низкой интенсивности
Жаднов В. В., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы семнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2014. С. 15–21.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современных интегральных схем иностранного производства, применяемых в радиоэлектронных средствах космических аппаратов. Показана возможность применения вероятностно-физических моделей отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных средств космических аппаратов. Приведены методы оценки показателей безотказности и долговечности современных интегральных микросхем. ...
Добавлено: 12 апреля 2014 г.
Исследование термограмм интегральных микросхем планарного исполнения
Увайсов С. У., Сегень А. В., Пятницкая Г. А., В кн.: Материалы Международной конференции и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий».: Сочи: [б.и.], 1998. С. 71–73.
Добавлено: 8 февраля 2014 г.
Комплексное прогнозирование надежности цифровых электронных модулей на стадии проектирования с учетом физической составляющей отказа
Абрамешин А. Е., Полесский С. Н., Технологии электромагнитной совместимости 2012 № 4 (43) С. 51–57
Обеспечение высокой надежности цифровых электронных модулей требует использования специальной электронно-компонентной базы и методов проектирования, учитывающих конечные условия их эксплуатации. Статья посвящена всестороннему рассмотрению потенциальных проблем, возникающих в процессе проектирования, и методов их решения. Решения вопросов по обеспечению требуемого уровня надежности цифровых электронных модулей может занимать от одного до шести месяцев, что приводит к срыву сдачи ...
Добавлено: 23 февраля 2013 г.
  • О ВЫШКЕ
  • Цифры и факты
  • Руководство и структура
  • Устойчивое развитие в НИУ ВШЭ
  • Преподаватели и сотрудники
  • Корпуса и общежития
  • Закупки
  • Обращения граждан в НИУ ВШЭ
  • Фонд целевого капитала
  • Противодействие коррупции
  • Сведения о доходах, расходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера
  • Сведения об образовательной организации
  • Людям с ограниченными возможностями здоровья
  • Единая платежная страница
  • Работа в Вышке
  • ОБРАЗОВАНИЕ
  • Лицей
  • Довузовская подготовка
  • Олимпиады
  • Прием в бакалавриат
  • Вышка+
  • Прием в магистратуру
  • Аспирантура
  • Дополнительное образование
  • Центр развития карьеры
  • Бизнес-инкубатор ВШЭ
  • Образовательные партнерства
  • Обратная связь и взаимодействие с получателями услуг
  • НАУКА
  • Научные подразделения
  • Исследовательские проекты
  • Мониторинги
  • Диссертационные советы
  • Защиты диссертаций
  • Академическое развитие
  • Конкурсы и гранты
  • Внешние научно-информационные ресурсы
  • РЕСУРСЫ
  • Библиотека
  • Издательский дом ВШЭ
  • Книжный магазин «БукВышка»
  • Типография
  • Медиацентр
  • Журналы ВШЭ
  • Публикации
  • http://www.minobrnauki.gov.ru/
    Министерство науки и высшего образования РФ
  • https://edu.gov.ru/
    Министерство просвещения РФ
  • http://www.edu.ru
    Федеральный портал «Российское образование»
  • https://elearning.hse.ru/mooc
    Массовые открытые онлайн-курсы
  • НИУ ВШЭ1993–2026
  • Адреса и контакты
  • Условия использования материалов
  • Политика конфиденциальности
  • Правила применения рекомендательных технологий в НИУ ВШЭ
  • Карта сайта
Редактору