• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • A
  • A
  • A
  • A
  • A
Обычная версия сайта
  • RU
  • EN
  • Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
  • Публикации ВШЭ
  • Глава
  • Реализация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства в виде автоматизированной системы для авиационного оборудования
  • RU
  • EN
Расширенный поиск
Высшая школа экономики
Национальный исследовательский университет
Приоритетные направления
  • бизнес-информатика
  • государственное и муниципальное управление
  • гуманитарные науки
  • инженерные науки
  • компьютерно-математическое
  • математика
  • менеджмент
  • право
  • социология
  • экономика
по году
  • 2027
  • 2026
  • 2025
  • 2024
  • 2023
  • 2022
  • 2021
  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016
  • 2015
  • 2014
  • 2013
  • 2012
  • 2011
  • 2010
  • 2009
  • 2008
  • 2007
  • 2006
  • 2005
  • 2004
  • 2003
  • 2002
  • 2001
  • 2000
  • 1999
  • 1998
  • 1997
  • 1996
  • 1995
  • 1994
  • 1993
  • 1992
  • 1991
  • 1990
  • 1989
  • 1988
  • 1987
  • 1986
  • 1985
  • 1984
  • 1983
  • 1982
  • 1981
  • 1980
  • 1979
  • 1978
  • 1977
  • 1976
  • 1975
  • 1974
  • 1973
  • 1972
  • 1971
  • 1970
  • 1969
  • 1968
  • 1967
  • 1966
  • 1965
  • 1964
  • 1963
  • 1958
  • еще
Тематика
Новости
15 июля 2026 г.
«Наука всемирна, она не знает границ»
Разработанные ординарным профессором, директором Международного центра анализа и выбора решений НИУ ВШЭ Фуадом Алескеровым и его коллегами методы сетевого анализа в библиометрии позволили определить особенности появления, взаимного влияния и цитирования публикаций в научных журналах. Частое цитирование разными изданиями одного или нескольких исследований означает высокое качество работы, а перекрестные ссылки внутри ограниченного круга журналов повышают вероятность формирования сети хищнических изданий.
16 июля 2026 г.
Российские ученые создали открытую базу данных для изучения концентрации внимания
Команда российских исследователей при участии ученых НИУ ВШЭ в Санкт-Петербурге разработала первую открытую мультимодальную базу данных с записями активности мозга, работы сердца и видеонаблюдения, которая поможет ученым понять, что происходит с мозгом человека во время глубокой концентрации. В будущем эта разработка позволит ускорить создание нейроинтерфейсов, технологий реабилитации и систем искусственного интеллекта. Статья опубликована в журнале Scientific Data.
15 июля 2026 г.
«Тело саботирует мозг»: ученые НИУ ВШЭ - Санкт-Петербург объяснили физиологическую природу компульсивного переедания
Исследователи НИУ ВШЭ — Санкт-Петербург совместно с экспертами Тюменского государственного медицинского университета доказали, что при расстройствах пищевого поведения (РПП) организм теряет способность адаптироваться к стрессу. Попытки пациентов взять себя в руки при переедании часто не приносят результата: нервная система перестает реагировать на команды мозга.

 

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации
  • Книги
  • Статьи
  • Главы в книгах
  • Препринты
  • Верификация публикаций
  • Расширенный поиск
  • Правила использования материалов
  • Наука в ВШЭ

?

Реализация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства в виде автоматизированной системы для авиационного оборудования

С. 1–6.
Королев П. С.

В работе описана инженерная методика оценки показателей долговечности ИМС иностранного производства, а также говорится, что автоматизация инженерной методики для оценки показателей долговечности современных интегральных микросхем иностранного производства с помощью использования Reliability Report фирм-производителей позволит не только, зная показатели безотказности и сохраняемости определить показатели долговечности с учетом известной модели эксплуатации. Она позволяет добиться повышения достоверности рассчитываемых показателей долговечности (средний ресурс, гамма-процентный ресурс, минимальная наработка) без проведения ускоренных испытаний повторно уже в России (осуществления входного контроля) с целью прохождения сертификации и сокращения времени расчета.

Язык: русский
Полный текст
Ключевые слова: интегральная микросхемапоказатели долговечности
ПУБЛИКАЦИЯ ПОДГОТОВЛЕНА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ПРОЕКТА:
Разработка методов и методик прогнозирования долговечности электронных средств на всех этапах жизненного цикла (2015)

В книге

Материалы XIII Всероссийской научно-технической конференции "Научные чтения по авиации, посвященные памяти Н.Е. Жуковского"
Издательский дом ВВИА им. проф. Н.Е.Жуковского, 2016.
Похожие публикации
Кластерный анализ процессов в полупроводниковом производстве
Стукач О. В., Ершов И. А., Динамика систем, механизмов и машин 2016 Т. 2 № 1 С. 178–181
В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении ...
Добавлено: 8 января 2019 г.
Оценка надёжности электронных измерительных приборов при воздействиях электростатических разрядов
Жаднов В. В., Мир измерений 2016 № 4 С. 8–11
В статье рассматриваются вопросы оценки надёжности электронных измерительных приборов при проектировании. Приводится описание моделей интенсивностей отказов КМОП ИС, учитывающих влияние ЭСР, и показано, что для электронных измерительных приборов, содержащих относительно небольшое количество таких микросхем, применение стандартизованной модели интенсивностей отказов, учитывающей влияние ЭСР, может привести к существенным погрешностям в расчётах надёжности. В качестве альтернативы предложена модель, ...
Добавлено: 13 октября 2016 г.
Применение методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства авиационного оборудования
Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: XLII Международная молодёжная научная конференция "Гагаринские чтения – 2016". Сборник тезисов докладовТ. 1.: [б.и.], 2016. С. 307–308.
В настоящее время авиационное оборудование оснащено современной электронной компонентной базой (ЭКБ). Практически каждая электронная система управления, встроенная в это оборудование не может обойтись без интегральных микросхем (ИМС). В большинстве случаев, российские компании для проектирования таких систем прибегают к ИМС иностранного производства (Китай, США, Япония и др.). ...
Добавлено: 2 июня 2016 г.
Особенности прогнозирования показателей типа «ресурс» для интегральных микросхем иностранного производства
Жаднов В. В., Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: X международная отраслевая научно-техническая конференция «Технологии информационного общества»: Сборник трудов.: М.: ИД Медиа Паблишер, 2016. С. 180–181.
Рассмотрены особенности прогнозирования показателей долговечности современных ИС ИП по справочным данным. ...
Добавлено: 31 марта 2016 г.
Forecasting Dependability Indicators of Spacecraft Onboard Equipment Under Low-Intensity Ionizing Radiation
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Прогнозирование показателей надежности бортовой аппаратуры космических аппаратов при воздействии ионизирующих излучений низкой интенсивности
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 № 1 С. 13–18
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Метод расчетной оценки показателей надежности бортовой аппаратуры космических аппаратов
Жаднов В. В., Артюхова М. А., В кн.: Труды Международного симпозиума "НАДЕЖНОСТЬ и КАЧЕСТВО" : в 2 т.Т. 2.: Пенза: ПГУ, 2014. С. 260–264.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфа-распределения времени наработки на отказ для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 3 июня 2014 г.
Прогнозирование показателей надежности КМОП ИС при воздействии ионизирующих излучений космического пространства низкой интенсивности
Жаднов В. В., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы семнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2014. С. 15–21.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современных интегральных схем иностранного производства, применяемых в радиоэлектронных средствах космических аппаратов. Показана возможность применения вероятностно-физических моделей отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных средств космических аппаратов. Приведены методы оценки показателей безотказности и долговечности современных интегральных микросхем. ...
Добавлено: 12 апреля 2014 г.
Исследование термограмм интегральных микросхем планарного исполнения
Увайсов С. У., Сегень А. В., Пятницкая Г. А., В кн.: Материалы Международной конференции и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, математического моделирования и информационных технологий».: Сочи: [б.и.], 1998. С. 71–73.
Добавлено: 8 февраля 2014 г.
Комплексное прогнозирование надежности цифровых электронных модулей на стадии проектирования с учетом физической составляющей отказа
Абрамешин А. Е., Полесский С. Н., Технологии электромагнитной совместимости 2012 № 4 (43) С. 51–57
Обеспечение высокой надежности цифровых электронных модулей требует использования специальной электронно-компонентной базы и методов проектирования, учитывающих конечные условия их эксплуатации. Статья посвящена всестороннему рассмотрению потенциальных проблем, возникающих в процессе проектирования, и методов их решения. Решения вопросов по обеспечению требуемого уровня надежности цифровых электронных модулей может занимать от одного до шести месяцев, что приводит к срыву сдачи ...
Добавлено: 23 февраля 2013 г.
  • О ВЫШКЕ
  • Цифры и факты
  • Руководство и структура
  • Устойчивое развитие в НИУ ВШЭ
  • Преподаватели и сотрудники
  • Корпуса и общежития
  • Закупки
  • Обращения граждан в НИУ ВШЭ
  • Фонд целевого капитала
  • Противодействие коррупции
  • Сведения о доходах, расходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера
  • Сведения об образовательной организации
  • Людям с ограниченными возможностями здоровья
  • Единая платежная страница
  • Работа в Вышке
  • ОБРАЗОВАНИЕ
  • Лицей
  • Довузовская подготовка
  • Олимпиады
  • Прием в бакалавриат
  • Вышка+
  • Прием в магистратуру
  • Аспирантура
  • Дополнительное образование
  • Центр развития карьеры
  • Бизнес-инкубатор ВШЭ
  • Образовательные партнерства
  • Обратная связь и взаимодействие с получателями услуг
  • НАУКА
  • Научные подразделения
  • Исследовательские проекты
  • Мониторинги
  • Диссертационные советы
  • Защиты диссертаций
  • Академическое развитие
  • Конкурсы и гранты
  • Внешние научно-информационные ресурсы
  • РЕСУРСЫ
  • Библиотека
  • Издательский дом ВШЭ
  • Книжный магазин «БукВышка»
  • Типография
  • Медиацентр
  • Журналы ВШЭ
  • Публикации
  • http://www.minobrnauki.gov.ru/
    Министерство науки и высшего образования РФ
  • https://edu.gov.ru/
    Министерство просвещения РФ
  • https://elearning.hse.ru/mooc
    Массовые открытые онлайн-курсы
  • НИУ ВШЭ1993–2026
  • Адреса и контакты
  • Условия использования материалов
  • Политика конфиденциальности
  • Правила применения рекомендательных технологий в НИУ ВШЭ
  • Карта сайта
Редактору