?
Исследование термограмм интегральных микросхем планарного исполнения
С. 71–73.
Увайсов С. У., Сегень А. В., Пятницкая Г. А.
Язык:
русский
Стукач О. В., Ершов И. А., Динамика систем, механизмов и машин 2016 Т. 2 № 1 С. 178–181
В статье обсуждается проблема моделирования процессов в электронной промышленности как целостной системы. Дается простая методика применения кластерного анализа процессов в полупроводниковом производстве. Приводятся результаты математического моделирования реальных данных с предприятия полупроводниковой индустрии Томска. В качестве независимой переменной выступает процент выхода годных изделий, остальные переменные представляют собой технологические параметры и результаты промежуточного контроля на всем протяжении ...
Добавлено: 8 января 2019 г.
Жаднов В. В., Мир измерений 2016 № 4 С. 8–11
В статье рассматриваются вопросы оценки надёжности электронных измерительных приборов при проектировании. Приводится описание моделей интенсивностей отказов КМОП ИС, учитывающих влияние ЭСР, и показано, что для электронных измерительных приборов, содержащих относительно небольшое количество таких микросхем, применение стандартизованной модели интенсивностей отказов, учитывающей влияние ЭСР, может привести к существенным погрешностям в расчётах надёжности. В качестве альтернативы предложена модель, ...
Добавлено: 13 октября 2016 г.
Королев П. С., В кн.: Материалы XIII Всероссийской научно-технической конференции "Научные чтения по авиации, посвященные памяти Н.Е. Жуковского".: Издательский дом ВВИА им. проф. Н.Е.Жуковского, 2016. С. 1–6.
В работе описана инженерная методика оценки показателей долговечности ИМС иностранного производства, а также говорится, что автоматизация инженерной методики для оценки показателей долговечности современных интегральных микросхем иностранного производства с помощью использования Reliability Report фирм-производителей позволит не только, зная показатели безотказности и сохраняемости определить показатели долговечности с учетом известной модели эксплуатации. Она позволяет добиться повышения достоверности рассчитываемых ...
Добавлено: 8 июня 2016 г.
Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: XLII Международная молодёжная научная конференция "Гагаринские чтения – 2016". Сборник тезисов докладовТ. 1.: [б.и.], 2016. С. 307–308.
В настоящее время авиационное оборудование оснащено современной электронной компонентной базой (ЭКБ). Практически каждая электронная система управления, встроенная в это оборудование не может обойтись без интегральных микросхем (ИМС). В большинстве случаев, российские компании для проектирования таких систем прибегают к ИМС иностранного производства (Китай, США, Япония и др.). ...
Добавлено: 2 июня 2016 г.
Жаднов В. В., Королев П. С., Полесский С. Н., В кн.: X международная отраслевая научно-техническая конференция «Технологии информационного общества»: Сборник трудов.: М.: ИД Медиа Паблишер, 2016. С. 180–181.
Рассмотрены особенности прогнозирования показателей долговечности современных ИС ИП по справочным данным. ...
Добавлено: 31 марта 2016 г.
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Жаднов В. В., Артюхова М. А., Надежность 2015 № 1 С. 13–18
В статье рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфараспределения времени наработки до отказа для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 20 января 2015 г.
Жаднов В. В., Артюхова М. А., В кн.: Труды Международного симпозиума "НАДЕЖНОСТЬ и КАЧЕСТВО" : в 2 т.Т. 2.: Пенза: ПГУ, 2014. С. 260–264.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современной бортовой аппаратуры космических аппаратов. Показана целесообразность использования результатов испытаний аппаратуры и ее элементов на стойкость к воздействию ионизирующих излучений для прогнозирования показателей надежности. Обоснована возможность применения альфа-распределения времени наработки на отказ для прогнозирования показателей безотказности и долговечности КМОП ИС. Приведены расчетные соотношения для оценки вероятности безотказной работы, ...
Добавлено: 3 июня 2014 г.
Жаднов В. В., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы семнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2014. С. 15–21.
В докладе рассматриваются вопросы прогнозирования показателей надежности современных интегральных схем иностранного производства, применяемых в радиоэлектронных средствах космических аппаратов. Показана возможность применения вероятностно-физических моделей отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных средств космических аппаратов. Приведены методы оценки показателей безотказности и долговечности современных интегральных микросхем. ...
Добавлено: 12 апреля 2014 г.
Абрамешин А. Е., Полесский С. Н., Технологии электромагнитной совместимости 2012 № 4 (43) С. 51–57
Обеспечение высокой надежности цифровых электронных модулей требует использования специальной электронно-компонентной базы и методов проектирования, учитывающих конечные условия их эксплуатации. Статья посвящена всестороннему рассмотрению потенциальных проблем, возникающих в процессе проектирования, и методов их решения. Решения вопросов по обеспечению требуемого уровня надежности цифровых электронных модулей может занимать от одного до шести месяцев, что приводит к срыву сдачи ...
Добавлено: 23 февраля 2013 г.