Моделирование задержек в межсоединениях ИС с учётом температурных эффектов

The problems and solutions in the field of ensuring architectural independence and implementation of digital integrated circuits end-to-end design processes are considered. The paper focuses on the need to find a solution to the problem of program portability during the development of integrated circuits. A review of the main software and tools used to design ...

Added: September 13, 2022

On Joint Satellite, Terrestrial, and Delay Tolerant Networks for Railroad Communications

Tikhonov E., Schneps-Schneppe D., Sneps-Sneppe M., , in: 28th Conference of Open Innovations Association (FRUCT).: [б.и.], 2021. P. 472–481.

The paper explores data delivery delays in next-generation railway communication networks with various configurations of terrestrial and satellite coverage (including mesh and delay-tolerant forwarding). It proposes a rough analytic estimation (with just two parameters: the total number of trains and the average number of their meetings) and computer simulation (based on realistic train schedules). This ...

Added: April 9, 2022

Generation of Hardware Modules for Comparison in Residue Numeral Systems

Dergachev S., Romanov A., Solovyev R., , in: 2021 International Russian Automation Conference (RusAutoCon).: IEEE, 2021. P. 997–1001.

Added: November 12, 2021

On the Lightweight McEliece Cryptosystem for Low-Power Devices

Ivanov F., Krouk E., Kreshchuk A., , in: 2019 XVI International Symposium "Problems of Redundancy in Information and Control Systems" (REDUNDANCY).: IEEE, 2019. P. 133–138.

Added: March 17, 2020

Аппаратная обфускация в задачах защиты интеллектуальной собственности

Альбатша А. М., В кн.: Информационные технологии в науке, бизнесе и образовании: сборник трудов X Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: Московский государственный лингвистический университет, 2018. С. 11–15.

The aim of this study is to give a brief overview of contemporary approaches (i.e., design/hardware obfuscation techniques) to protecting design (hardware) from various security threats - reverse engineering, IP piracy, tampering. The paper explains the notion ‘design obfuscation' and describes several existing technical solutions for design obfuscation as based on the analysis of academic ...

Added: December 6, 2019

Новые средства обеспечения безопасности интеллектуальной собственности

Альбатша А. М., В кн.: Передовые инновационные разработки. Перспективы и опыт использования, проблемы внедрения в производство: сборник научных статей по итогам четвертой международной научной конференцииЧ. 2.: Каз.: [б.и.], 2019. С. 90–92.

The paper presents a brief overview of contemporary approaches to protecting hardware, i.e. design obfuscation techniques, which are meant to counter threats to design IP security ...

Added: December 6, 2019

Международный форум «Микроэлектроника-2019». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, 23-25 сентября 2019 г.

М.: ООО "Спектр", 2019.

В выпуске представлены тезисы докладов конференции «Школа молодых учёных «Микроэлектроника-2019», освещающие актуальные темы по вопросам разработки и применения перспективной элементной базы микроэлектроники, электронных модулей, а также процессов их производства, что послужит обмену актуальной информацией между учёными и специалистами, занимающимися разными направлениями развития электронной компонентной базы. ...

Added: September 30, 2019

Prediction of High-Temperature Operation (up to +300°C) of Reference Voltage Source Built with Temperature-Tolerant Production Technology

Lev M. Sambursky, Dmitry A. Parfenov, Mamed R. Ismail-zade et al., , in: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2018).: IEEE Computer Society, 2018. P. 609–613.

In this work, virtual testing of submicron SOI CMOS reference voltage source integrated circuit was conducted with regard to elevated temperature in the range up to +300°C. Based on simulation results its temperature tolerance figures were estimated. ...

Added: October 30, 2018

Электроника интегральных схем. Лабораторные работы и упражнения. Учебное пособие

Петросянц К. О., Козынко П. А., Рябов Н. И. et al., М.: Солон-Пресс, 2017.

Рассмотрены принципы работы и электрические характеристики биполярных и МОП-транзисторов интегральных схем, базовых элементов цифровой и аналоговой схемотехники, БМК и ПЛМ, микроконтроллеров и микропроцессоров. Описаны методики выполнения лабораторных, расчетных на ЭВМ, курсовых, самостоятельных и др. работ. Пособие предназначено для бакалавров и магистров различных специальностей, изучающих электронику, микроэлектронику и схемотехнику; отдельные разделы могут быть полезными для аспирантов ...

Added: February 28, 2017

Simulation of CMOS IC’s Waveforms Distortions in PCB Traces with Account for Radiation Effects

Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Gladysheva E. I., , in: Proceedings of 24-th Telecommunications Forum.: Beograd: IEEE Region 8, Telekom Srbija a.d., 2016. P. 1–4.

It is shown that it is necessary to take into account the radiation influence on CMOS IC’s characteristics in the process of waveforms distortions analysis in satellite communication PCB traces. The special SPICE models for CMOS transistors with radiation dependent model parameters were used for this purpose. The simulation results showed that total dose results ...

Added: November 25, 2016

Temperature Characterization of Small-Scale SOI MOSFETs in the Extended Range (to 300°C)

Konstantin O. Petrosyants, Sergey V. Lebedev, Sambursky L. M. et al., , in: Proceedings of the 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (Therminic 2016).: IEEE, 2016. P. 250–254.

In this work, results of electrical measurements and their analysis are demonstrated for a small-scale 180-nm SOI CMOS technology in the extended temperature range (up to 300°C). Comparison with high temperature electrical characteristics of 0.5 um technology is drawn. Modified model for SOI MOSFETs, based on BSIMSOI model is developed and model parameters are extracted for SPICE simulation ...

Added: November 1, 2016

Автоматизация инженерной методики прогнозирования долговечности интегральных микросхем иностранного производства

Korolev P., Polesskiy S., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы девятнадцатого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2016. С. 213–215.

The work touches upon the acute problems of carrying out accelerated tests purchased by foreign countries (the United States, Japan, China, etc.) of integrated circuits (IC) and the absence of reliability data from electronic components on the basis of the Reliability Report of data on the parameters of durability. It is proposed to apply the ...

Added: June 2, 2016

IBIS-модели и их применение в задачах ЭМС

Лемешко Н. В., Kechiev L., Zakharova S. S., М.: Грифон, 2016.

Рассматриваются вопросы моделирования электронных средств в задачах обеспечения внутриаппаратурной электромагнитной совместимости, основные программные средства и их возможности при проектировании печатных плат. Впервые в отечественной литературе детально рассмотрены IBIS-модели интегральных микросхем. Описаны ключевые слова и правила составления спецификации IBIS для интегральных компонентов, даны рекомендации по практическому применению IBIS-моделей, в том числе в составе коммерческих пакетов. Значительное ...

Added: May 13, 2016

Сб. трудов Международной конференции "Интегральные схемы и микроэлектронные модули -- проектирование, производство и применение" (Микроэлектроника -- 2015)

М.: Техносфера, 2016.

В сборник включены тезисы докладов конференции, освещающие актуалные вопросы разаработки, производства и применения отечественных интегральных схем и высокоинтегрированных микроэлектронных модулей. ...

Added: April 13, 2016

Estimation of Durability Indices of Integrated Microcircuit Communication Network

Ivanov I., Korolev P., Polesskiy S. et al., , in: 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON). Proceedings.: M.: HSE, 2016. P. 1–4.

The paper offers methodology for estimation of durability indices of the modern integrated circuit communication network, which has reports about the conducted tests on non-failure operations and conservability, but has no data for the durability. The paper describes two approaches, which apply for generation of basic data and which allow to receive reliable result, typical ...

Added: April 8, 2016

Forecasting Dependability Indicators of Spacecraft Onboard Equipment Under Low-Intensity Ionizing Radiation

Zhadnov V. V., Artyukhova M. A., Надежность 2015 No. 1 P. 19–24

The article deals with forecasting the dependability indicators of state-of-the-art spacecraft onboard equipment. The authors demonstrate the applicability of the results of equipment and components testing for resistance to ionizing radiation in forecasting dependability indicators. They prove the applicability of Alfa distribution of time to failure in forecasting CMOS IC reliability and longevity. The paper ...

Added: January 20, 2015