• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • A
  • A
  • A
  • A
  • A
Обычная версия сайта
  • RU
  • EN
  • HSE University
  • Publications
  • Book chapter
  • Определение параметров SPICE и IBIS моделей ЭКБ для учета эффектов радиационных воздействий на основании результатов измерения их характеристик
  • RU
  • EN
Расширенный поиск
Высшая школа экономики
Национальный исследовательский университет
Priority areas
  • business informatics
  • economics
  • engineering science
  • humanitarian
  • IT and mathematics
  • law
  • management
  • mathematics
  • sociology
  • state and public administration
by year
  • 2027
  • 2026
  • 2025
  • 2024
  • 2023
  • 2022
  • 2021
  • 2020
  • 2019
  • 2018
  • 2017
  • 2016
  • 2015
  • 2014
  • 2013
  • 2012
  • 2011
  • 2010
  • 2009
  • 2008
  • 2007
  • 2006
  • 2005
  • 2004
  • 2003
  • 2002
  • 2001
  • 2000
  • 1999
  • 1998
  • 1997
  • 1996
  • 1995
  • 1994
  • 1993
  • 1992
  • 1991
  • 1990
  • 1989
  • 1988
  • 1987
  • 1986
  • 1985
  • 1984
  • 1983
  • 1982
  • 1981
  • 1980
  • 1979
  • 1978
  • 1977
  • 1976
  • 1975
  • 1974
  • 1973
  • 1972
  • 1971
  • 1970
  • 1969
  • 1968
  • 1967
  • 1966
  • 1965
  • 1964
  • 1963
  • 1958
  • More
Subject
News
June 11, 2026
Doctoral Student at HSE University Reveals Hidden Layout of Ancient Parion
İdil Malgil, a researcher at HSE University, conducted a UAV-based LiDAR survey of the ancient Roman city of Parion in present-day Turkey. The high density of the scans allowed the team to detect subtle terrain features concealed beneath the ground and vegetation. The survey revealed traces of entire neighbourhoods, terraced structures, and walls that had remained invisible during routine excavations and could not be identified through aerial photography. The findings have been published in Ancient Civilizations from Scythia to Siberia.
June 11, 2026
Mathematicians from Nizhny Novgorod and Shanghai Study System Stability
Mathematicians at HSE University–Nizhny Novgorod, in collaboration with colleagues from Tongji University in Shanghai, are investigating the fundamental causes of structural stability in systems and the mechanisms underlying its disruption. In this interview with the HSE News Service, Prof. Olga Pochinka, Head of the International Laboratory of Dynamical Systems and Applications at HSE University–Nizhny Novgorod and leader of the project ‘Qualitative Theory of Systems of Ordinary and Partial Differential Equations,’ discusses the project, which is being implemented as part of HSE University's International Academic Cooperation programme.
June 11, 2026
Neurolinguists Assist in Awake Surgery on 11-Year-Old Patient with Epilepsy
Researchers at the HSE Centre for Language and Brain took part in a rare awake neurosurgical procedure performed on an 11-year-old patient with drug-resistant epilepsy. Working alongside surgeons at the Voyno-Yasenetsky Centre of Specialised Medical Care for Children in Solntsevo, they monitored the resection of a portion of the left temporal lobe, where the epileptic focus had been identified.

 

Have you spotted a typo?
Highlight it, click Ctrl+Enter and send us a message. Thank you for your help!

Publications
  • Books
  • Articles
  • Chapters of books
  • Working papers
  • Report a publication
  • Research at HSE

?

Определение параметров SPICE и IBIS моделей ЭКБ для учета эффектов радиационных воздействий на основании результатов измерения их характеристик

С. 109–110.
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., Мокеев А. С.
Language: Russian
Full text
Keywords: электронные компонентыэкстракция параметровIBIS-моделирадаиационое воздействиеSPICE_моделиИзмерение характеристик
Publication based on the results of:
Моделирование воздействия тепловых и радиационных эффектов на микроэлектронные компоненты (2015)

In book

Тезисы докладов 18 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем "Стойкость 2015". Научно-технический сборник
Тезисы докладов 18 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем "Стойкость 2015". Научно-технический сборник
Лыткарино МО: [б.и.], 2015.
Similar publications
Метод априорного анализа тепловых процессов электронных блоков космической аппаратуры
Kofanov Y. N., Мелех Н. А., Sotnikova S., Авиакосмическое приборостроение 2018 № 8 С. 25–34
Разработан метод априорного анализа тепловой нагрузки электронных компонентов, вызванных тепловыми процессами, протекающими в печатных узлах электронных блоков космических аппаратов. Метод позволяет разработчику проводить исследования тепловых режимов на этапах эскизного и технического проектирования и получать значения тепловых нагрузок на электронных компонентах печатных узлов до изготовления опытного образца. В случае перегрузки конкретного электронного компонента (или компонентов) разработчик ...
Added: October 29, 2018
SPICE моделирование КМОП ИС для экстремальных применений с помощью компактных «электро-термо-рад» моделей
Kharitonov I. A., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС-2018)Вып. 3.: М., Зеленоград: ИППМ РАН, 2018. С. 103–110.
Using published MOSFETs characteristic degradation after TID irradiation in various thermal ambient parameters of “electro-thermo-rad” SPICE models were defined. Two examples were considered: radiation hardened 2 µm CMOS technology of Sandia National Laboratory and 130 nm CMOS technology. Models were verified using SRAM sell simulation (for 2 µm technology) and voltage reference, ring oscillator and ...
Added: October 23, 2018
Принципы разработки библиотек SPICE-моделей электронных компонентов для ответственных применений отечественного производства
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2018». 4-я Международная научная конференция «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Сборник тезисов. Республика Крым, г. Алушта, 01–06 октября 2018 г.: М.: Техносфера, 2018. С. 308–312.
. ...
Added: October 21, 2018
Подсистема схемотехнического проектирования КМОП БИС с учётом совместного влияния радиационных и тепловых эффектов
Kharitonov I. A., В кн.: XVI Всероссийская научно-техническая конференция «Электроника, микро- и наноэлектроника»: 3 - 7 июля 2017 года, г. Суздаль, Россия.: М.: НИИСИ РАН, 2017. С. 64–65.
. ...
Added: September 13, 2017
Подход к экстракции параметров SPICE-моделей субмикронных КНИ МОПТ с учетом повышенной температуры (до 300°C)
Ismail-zade M. R., В кн.: Межвузовская научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов им. Е.В. Арменского.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2017. С. 282–283.
Предлагается модифицированный подход к экстракции параметров SPICE-моделей субмикронных КНИ МОПТ с учетом повышенной температуры (до 300°C), заключающийся в использовании "биннинга". Результатом выполнения процедуры является единый набор параметров, содержащий отдельные секции для транзисторов различных размеров. ...
Added: September 8, 2017
Программно-аппаратный комплекс для экстракции параметров SPICE-моделей МОП-транзисторов с учётом воздействия стационарного радиационного излучения
Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2015. С. 262–263.
Представлена структура и состав частей программно-аппаратного комплекса для экстракции параметров SPICE‑моделей МОП‑транзисторов с учётом воздействия стационарного радиационного излучения. Приведены ре­зультаты использования разработанного комплекса при формировании SPICE-модели реального МОП-транзисто­ра. Приведена оценка погрешности моделирования статических вольт-амперных характеристик с использованием сформированной модели. ...
Added: September 8, 2017
Измерение электрических характеристик и определение параметров моделей биполярных и МОП-транзисторов с учетом тепловых и радиационных эффектов
Ismail-zade M. R., Sambursky L. M., В кн.: Научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского. Материалы конференции.: М.: МИЭМ НИУ ВШЭ, 2016. С. 280–281.
Рассмотрены особенности измерения электрических характеристик биполярных и МОП-транзисторов в присутствии тепловых и радиационных эффектов. Описаны характеристики автоматизированного аппаратно-програм­много комплекса, в основе которого лежит набор измерительных приборов, методик измерений и обработки их результатов для транзисторов различного типа. Приведены примеры использования комплекса для исследования БТ и МОПТ, определения параметров их SPICE-моделей. ...
Added: September 8, 2017
Диагностирование печатных узлов на основе автоматизированного метода бесконтактного контроля температурных полей
Kofanov Y. N., Linetskiy B., Sotnikova S., Вестник компьютерных и информационных технологий 2016 № 10 С. 24–29
Предложен метод бесконтактного контроля температурных полей печатных узлов с использованием тепловизора и специального компьютерного обеспечения. Выявлены дефектные печатные узлы при автоматизированном сравнении измеренных температур электронных компонентов с предварительно вычисленными границами допусков на них. Для нахождения границ допусков применено статистическое компьютерное моделирование по методу Монте-Карло с имитацией разбросов по нормальному закону распределения электрических параметров электронных компонентов, ...
Added: December 16, 2016
Идентификация внутренних параметров электронных компонентов электронных средств при импортозамещении
Kofanov Y. N., Sotnikova S., В кн.: Системные проблемы высокой надежности, математического моделирования и инновационных технологий изделий ответственного назначения (ИННОВАТИКА - 2015). Материалы Международной конференции и Российской научной школы.: М.: ОАО «Концерн «Моринформистема–Агат», 2015. С. 116–117.
Предлагается метод идентификации внутренних параметров инновационных электронных компонентов, разработанных по программе импортозамещения. ...
Added: December 22, 2015
Особенность проектирования современных конструкций приборов радиоэлектронной аппаратуры
Хохорин М., Чупилин А. В., Lvov B. G. et al., В кн.: Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции, 2014.: М.: НИУ ВШЭ, 2014. С. 340–342.
The peculiarity of the design of modern structures of the devices of electronic equipment Khokhorin M.A, Copelin A.V., L’vov B.G., Abrameshin A.E. Considered the basic principles of design of devices of electronic equipment. The indicated factors for the development of optimal design. This work was supported by RFBR (grant No 14-07-00414) ...
Added: June 3, 2015
SOI/SOS MOSFET Universal Compact SPICE Model with Account for Radiation Effects
Konstantin O. Petrosyants, Kharitonov I. A., Sambursky L. M., , in: EUROSOI-ULIS2015 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon January 26-28, 2015 - Bologna, Italy.: Bologna: IEEE, 2015. P. 305–308.
Universal SPICE model for submicron SOI/SOS MOSFETs based on BSIMSOI and EKV-SOI platforms with account for total ionizing dose-induced effects (TID), pulsed radiation effects, single events is presented. A special subcircuit consisting of parasitic transistors for sidewall and backgate leakage currents and other elements is connected to the standard SPICE model. In addition, the radiation-dependent parameters are described by physically based mathematical ...
Added: March 12, 2015
Макромодель EKV-RAD для КНИ/КНС МОП-транзисторов, учитывающая радиационные эффекты
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., В кн.: Электроника, микро- и наноэлектроника. Сборник научных трудов 14-ой Российской научно-технической конференции. Суздаль 2012 г.: М.: НИЯУ МИФИ, 2012. С. 8–20.
Описана макромодель EKV-RAD для КНИ/КНС МОП-транзисторов, построенная на базе стандартной модели EKV. Макромодель дополнительно учитывает эффекты плавающей подложки и различных видов радиационного воздействия и легко встраивается в программу SPICE и её разновидности. Макромодель опробована на конкретных примерах расчёта аналоговых и цифровых узлов радиационно стойких КНИ/КНС КМОП БИС и обеспечивает достаточную для практических применений точность. ...
Added: March 21, 2014
Моделирование тепловых режимов электронных компонентов
К. О. Петросянц, В кн.: Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XII Научно-технической конференции.: М.: МНТОРЭС им. А. С. Попова, 2013. С. 229–232.
В работе рассматривается многоуровневая подсистема теплового моделирования электронных компонентов,которая является в известной степени аналогом европейской системы THERMINATOR. Рассмотренная подсистема используется в практических работах по тепловому моделированию электронных компонентов различного уровня, разрабатываемых и выпускаемых отечественной промышленностью. ...
Added: January 23, 2014
Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., Advanced Materials Research 2013 Vol. 718–720 P. 750–755
Hardware-software subsystem designed for MOSFETs characteristic measurement and SPICE model parameter extraction taking into account radiation effects is presented. Parts of the system are described. The macromodel approach is used to account for radiation effects in MOSFET modeling. Particularities of the account for radiation effects in MOSFETs within the measurement and model parameter extraction procedures ...
Added: January 23, 2014
Electronic components thermal regimes investigation by IR thermography
Petrosyants K., Kharitonov I. A., Kozynko P. et al., , in: Proceedings of the 12-the International Workshop on Advanced Infrared Technology and Applications.: Turin: Politecnico di Torino, 2013. P. 185–189.
Software-hardware subsystem for IR temperature control and measurement has been developed for the different types of electronic components: semiconductor devices, chips, PCBs, units. IR measuring part includes: Flir ThermoVision A40 infrared camera with 17 mkm macro lens, Quantum Focus Instruments Corp InfraScope, precision positioning system and set of thermocouples. Software part for IR data processing ...
Added: January 9, 2014
Cравнительный анализ SPICE-моделей КНИ/КНС МОП-транзисторов для учёта радиационных эффектов
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M., В кн.: Электроника, микро- и наноэлектроника: Сборник научных трудов 15-ой Российской научно-технической конференции (г. Суздаль, 25 – 28 июня 2013 г.).: М.: НИЯУ МИФИ, 2013. С. 303–309.
Проведено сравнение SPICE-моделей BSIMSOI‑RAD и EKV‑RAD, предназначенных для КНИ/КНС МОП-транзисторов с учётом радиационных эффектов, по существенным критериям: набору учитываемых эффектов, количеству параметров, способу учёта эффектов плавающей подложки, процедуре экстракции параметров, времени моделирования. Показано, что при совпадающем наборе учитываемых эффектов макромодель EKV‑RAD является предпочтительной. ...
Added: June 10, 2013
Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры космических аппаратов при проектировании
Artyukhova M. A., Polesskiy S., Zhadnov V. V. et al., Компоненты и технологии 2010 № 9 С. 93–98
Рассматриваются вопросы повышения достоверности и точности оценки радиационной стойкости радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов расчетными методами и проблемы оценки стойкости, связанные с применением в аппаратуре электронных компонентов иностранного производства, а также приводятся пути решения этих проблем. ...
Added: January 25, 2013
Информационная технология обеспечения надежности сложных электронных средств военного и специального назначения
Zhadnov V. V., Polesskiy S., Tihmenev A. N. et al., Компоненты и технологии 2011 № 6 С. 168–174
В статье рассмотрены вопросы создания и внедрения информационной технологии обеспечения надежности сложных электронных средств (ЭС) военного и специального назначения. Основу технологии составляют процессы расчетной оценки характеристик и показателей надежности составных частей (СЧ) для всех уровней разукрупнения, начиная от электрорадио изделий (ЭРИ) и компонентов компьютерной техники (ККТ), электронных модулей первого уровня (ЭМ1) и заканчивая ЭС в ...
Added: January 25, 2013
Информационная технология обеспечения надежности сложных электронных средств военного и специального назначения
Zhadnov V. V., Polesskiy S., Kulygin V. et al., В кн.: Надёжность и качество - 2011: Труды международного симпозиума: в 2-х т.Т. 1.: Пенза: Издательство ПГУ, 2011. С. 31–37.
Рассмотрены вопросы создания и внедрения информационной технологии обеспечения надежности сложных электронных средств (ЭС) военного и специального назначения. Основу технологии составляют процессы расчетной оценки характеристик и показателей надежности составных частей (СЧ) для всех уровней разукрупнения, начиная от электрорадио изделий (ЭРИ) и компонентов компьютерной техники (ККТ), электронных модулей первого уровня (ЭМ1) и заканчивая ЭС в целом, включая ...
Added: January 25, 2013
Simulation of Total Dose Influence on Analog-Digital SOI/SOS CMOS Circuits with EKV-RAD macromodel
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Sambursky L. M. et al., , in: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’12).: Kharkov: Kharkov national university of radioelectronics, 2012. P. 60–65.
An EKV-RAD macromodel for SOI/SOS MOSFET with account for radiation effects is developed using a subcircuit approach. As an addition to the standard version of the EKV model 1) radiation dependencies of parameters VTO, GAMMA, KP, E0 are introduced and 2) additional circuit elements to account for floating-body effects and radiation-induced leakage currents under static ...
Added: January 22, 2013
Создание IBIS моделей цифровых микросхем с учетом воздействия внешних факторов
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Adonin A. et al., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012. Сборник трудов.: М.: ИППМ РАН, 2012. С. 187–192.
Отработана методика построения IBIS моделей цифровых микросхем с учетом воздействия факторов температуры и радиации по результатам моделирования их характеристик с использованием SPICE моделей, учитывающих указанные факторы. Модели включены в пакет HyperLynx компании Mentor Graphics для анализа помех и наводок в устройствах на печатных платах. ...
Added: December 5, 2012
Компактная макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора, учитывающая радиационные эффекты
Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kharitonov I. A. et al., Известия высших учебных заведений. Электроника 2011 № 1 (87) С. 20–28
Разработана компактная макромодель BSIMSOI-RAD для КНИ/КНС КМОП-транзисторов, учитывающая факторы радиационного воздействия. Описана автоматизированная процедура определения параметров макромодели, показаны возможности ее использования для анализа радиационной стойкости схемных фрагментов КМОП БИС в зависимости от суммарной поглощенной дозы. Приведены оценки затрат времени на моделирование. ...
Added: April 19, 2012
  • About
  • About
  • Key Figures & Facts
  • Sustainability at HSE University
  • Faculties & Departments
  • International Partnerships
  • Faculty & Staff
  • HSE Buildings
  • HSE University for Persons with Disabilities
  • Public Enquiries
  • Studies
  • Admissions
  • Programme Catalogue
  • Undergraduate
  • Graduate
  • Exchange Programmes
  • Summer University
  • Summer Schools
  • Semester in Moscow
  • Business Internship
  • Research
  • International Laboratories
  • Research Centres
  • Research Projects
  • Monitoring Studies
  • Conferences & Seminars
  • Academic Jobs
  • Yasin (April) International Academic Conference on Economic and Social Development
  • Media & Resources
  • Publications by staff
  • HSE Journals
  • Publishing House
  • iq.hse.ru: commentary by HSE experts
  • Library
  • Economic & Social Data Archive
  • Video
  • HSE Repository of Socio-Economic Information
  • HSE1993–2026
  • Contacts
  • Copyright
  • Privacy Policy
  • Site Map
Edit