Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012. Сборник трудов

М. : ИППМ РАН, 2012.

Ответственный редактор: Борискин В. С.

Под общей редакцией: Стемпковский А. Л.

Сборник научных трудов содержит статьи по материалам докладов 5‑й Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012» (Подмосковье, 08–21 октября 2012 г.). Представленные работы выполнены научными сотрудниками и аспирантами РАН, специалистами научно-производственных организаций России, преподавателями, научными сотрудниками, аспирантами и студентами высших учебных заведений.

Сборник предназначен для научных работников, специалистов, аспирантов и студентов, интересующихся проблемами разработки, анализа, тестирования сложных микро- и наноэлектронных систем и соответствующих программных средств.

Материалы сборника достаточно полно отражают современное состояние российской микро- и наноэлектроники, методы с средства разработки микро- и наноэлекронных систем и могут служить важным источником информации для более точного определения перспективных направлений инвестиций в сфере микро- и наноэлектроники.

Статьи сборника прошли рецензирование и одобрены редакционной коллегией сборника, Организационным и Программным комитетами конференции.

Главы книги

Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования

Петросянц К. О., Харитонов И. А., Орехов Е. В. и др., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012. Сборник трудов.: М.: ИППМ РАН, 2012. С. 413–418.

В статье приведены результаты смешанного 3D приборно-схемотехнического моделирования воздействия ОЯЧ на различные области КНИ МОП транзисторов в составе ячейки памяти при масштабировании транзисторов от 0,5 до 0,1 мкм. Показано, что на устойчивость ячейки памяти к воздействию ОЯЧ существенно влияет не только величина критического заряда, но также и место попадания частицы и форма возникающего при этом ...

Добавлено: 2 декабря 2012 г.

Создание IBIS моделей цифровых микросхем с учетом воздействия внешних факторов

Петросянц К. О., Харитонов И. А., Адонин А. С. и др., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012. Сборник трудов.: М.: ИППМ РАН, 2012. С. 187–192.

Отработана методика построения IBIS моделей цифровых микросхем с учетом воздействия факторов температуры и радиации по результатам моделирования их характеристик с использованием SPICE моделей, учитывающих указанные факторы. Модели включены в пакет HyperLynx компании Mentor Graphics для анализа помех и наводок в устройствах на печатных платах. ...

Добавлено: 5 декабря 2012 г.

Конструкции ячеек радиационно-стойких энергонезависимых ОЗУ, интегрированных в КМОП КНИ процесс

Петросянц К. О., Грязнов Е. Г., Мансуров А. Н., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2012. Сборник трудов.: М.: ИППМ РАН, 2012. С. 608–611.

В статье рассмотрены вопросы интеграции матриц памяти энергонезависимых ОЗУ в КМОП КНИ процесс, проведен анализ существующих конструктивно-технологических решений изготовления ячеек памяти, использующих сегнетоэлектрический эффект, магниторезистивный эффект и эффект изменения фазового состояния ...

Добавлено: 21 марта 2013 г.