• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Построение тестов цифровых схем с использованием обобщенной модели неисправностей и непрерывного подхода к моделированию

Кащеев Н. И., Пономарев Д. М., Подъяблонский Ф. М.

Разрабатываются способы построения тестов цифровых схем с использованием непрерывных моделей дискретных устройств. Представлен алгоритм, позволяющий решить задачу поиска тестовых наборов с помощью непрерывной оптимизации. Кроме того, предложена обобщенная модель неисправности, реализующая единый подход к представлению различных типов неисправностей при генерации тестов. Предложенный подход реализован программно в виде среды для разработки и исследования моделей неисправностей и алгоритмов поиска тестов цифровых схем. В целях апробации построена система автоматической генерации тестов для константных неисправностей комбинационных схем. Приведены результаты работы разработанного программного комплекса для ряда схем набора ISCAS'85, демонстрирующие эффективность используемых алгоритмов и методов.