• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Increasing the Charge Stability of Gate Dielectric Films of MIS Structure by Doping Them with Phosphorus

Inorganic Materials: Applied Research. 2021. Vol. 12. No. 2. P. 517-520.
Andreev D. V., Bondarenko G.G., Andreev V. V., Stolyarov A. A.