• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Simulation of charge processes in dielectric films of MIS structures at simultaneous influence by ionization and high-field injection of electrons

Procedia Manufacturing. 2019. Vol. 37. P. 279-285.
Andreev D. V., Bondarenko G.G., Andreev V. V., Stolyarov A. A.