• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

TCAD Leakage Current Analysis of a 45 nm MOSFET Structure with a High-k Dielectric

Russian Microelectronics. 2016. Vol. 45. No. 7. P. 460-463.
Переводчик: G. Dedkov.