Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических плёнок Pb(111)

Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2017. Т. 106. С. 476–482.

Уставщиков С. С., Путилов А. В., Аладышкин А. Ю.

Методами низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены спектры дифференциальной туннельной проводимости для ультратонких пленок свинца, выращенных на монокристаллах кремния Si(111)7 × 7, с толщиной от 9 до 50 монослоев свинца. Для таких систем характерно существование локальных максимумов туннельной проводимости, причем положение максимумов дифференциальной проводимости определяется спектром размерно–квантованных состояний электронов в металлическом слое и, следовательно, локальной толщиной слоя. Показано, что особенности микроструктуры подложек, такие как ступени моноатомной высоты, дефекты структуры и инородные включения, покрытые слоем свинца, могут быть визуализированы методом модуляционной сканирующей туннельной спектроскопии.

Ключевые слова: тонкие пленки, квантовый размерный эффект, сканирующая туннельная спектроскопия