Ученые НИУ ВШЭ совместно с коллегами из российских университетов выяснили, какие мутации в гене ACVRL1 опасны для пациентов с легочной артериальной гипертензией. Они смоделировали, как изменения в гене влияют на связывание АТФ с белком — процесс, от которого зависит передача сигналов, необходимых для работы сосудов. Оказалось, что 20 из 32 вариантов могут нарушать передачу сигнала и провоцировать болезнь. Результаты опубликованы в Journal of Structural Biology.
Пока на рынке мало кадров, способных заниматься разработкой интеллектуальных робототехнических систем. Между тем именно к этому идет робототехника. Как учат ее проектированию и каково будущее отрасли, в интервью IQ Media рассказал заведующий Проектно-учебной лабораторией робототехники НИУ ВШЭ Вадим Моргачев.
Эти вопросы обсудят на форуме HR EXPO PRO ЛЮДЕЙ, который состоится 18-19 июня в Москве. В его работе примет участие ректор НИУ ВШЭ Никита Анисимов, федеральные министры, HR-директора компаний, ректоры вузов, эксперты. На форуме будет представлен стенд, посвященный программам ДПО НИУ ВШЭ.
Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.
NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...
The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...