Анастасия Деева изучает социально-экономические последствия избыточного веса в России. В интервью проекту «Молодые ученые Вышки» она рассказала о том, что красоту невозможно измерить, о желании написать роман, «достоевском» выгорании и работе в отеле, где снималось «Сияние».
Экономисты из НИУ ВШЭ совместно с коллегами из зарубежных университетов изучили движение биржевых цен за почти 100 лет и предложили инвестиционную стратегию, доходность которой почти вдвое могла бы превысить рыночную. Ученые предлагают придерживаться стратегии моментум, когда рынок растет в течение двух лет, и переключаться на стоимостный подход, когда рынок падает. Статья опубликована в ведущем международном журнале Journal of Banking and Finance.
Исследователи НИУ ВШЭ изучили, как трудности в общении детей с аутизмом связаны с работой мозга. Данные показали, что важную роль играют не только языковые сети, но и сети внимания. Чем хуже работали связи, поддерживающие фокус и переключение внимания, тем более выраженными были нарушения в коммуникации. Исследование опубликовано в журнале European Child & Adolescent Psychiatry.
Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.
NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...
The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...