Международная лаборатория атомистического суперкомпьютерного моделирования и многомасштабного анализа НИУ ВШЭ провела масштабную конференцию «Молекулярная динамика». Участники могли услышать всех докладчиков, а сами докладчики — ответить на любое количество содержательных вопросов. О подготовке конференции и дискуссиях «Вышка.Главное» поговорила с заведующим лабораторией Григорием Смирновым и ее главным научным сотрудником Генри Норманом.
Высшая школа экономики стала университетом — участником международной коллаборации BESIII (Beijing Spectrometer III) в области физики высоких энергий. Присоединение к коллаборации стало первым практическим результатом реализации меморандума о сотрудничестве, подписанного в 2025 году между НИУ ВШЭ и Институтом физики высоких энергий (IHEP) в Пекине (КНР).
Ученые Высшей школы экономики презентавали на международной конференции ChinaMM 2026 в Китае исследование о том, как искажения при передаче видео влияют на работу нейросетей. Авторы предложили новый способ проверять устойчивость таких моделей в условиях, близких к реальному использованию видеосервисов.
Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.
NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...
The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...