Исследователи Института искусственного интеллекта и цифровых наук ФКН НИУ ВШЭ разработали подход, который помогает эффективнее подбирать рекомендательные алгоритмы. В нем разные методы попарно соревнуются, а по результатам всех поединков составляется общий рейтинг. Это помогает сократить число алгоритмов, которые нужно проверять при разработке новых сервисов, и сэкономить денежные и временные ресурсы.Исследование было представлено на 32-й конференции ACM SIGKDD Conference on Knowledge Discovery and Data Mining (KDD 2026).
Институт искусственного интеллекта и цифровых наук ФКН НИУ ВШЭ и Сбер представили новую архитектуру для рекомендательных систем: благодаря объединению двух классов моделей алгоритмы лучше угадывают интересы и потребности пользователей. Препринт работы опубликован на сайте arxiv.org и представлен на летнем фестивале «Урбан ML».
Ученые из МИЭМ ВШЭ и Самарского университета создали алгоритм LRF-3D для автоматического обхода неработающих узлов в трехмерных сетях на кристалле. Благодаря своей иерархической организации он превосходит аналоги по быстродействию и точности пути, повышая надежность процессоров для использования в ЦОД, суперкомпьютерах и ИИ-вычислениях. Исходные коды алгоритмов и тестов опубликованы в открытом доступе.
Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.
NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...
The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.
The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in ...