Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

17 июня 2026 г.

Биоинформатики НИУ ВШЭ обнаружили 20 опасных мутаций в гене, связанном с легочной артериальной гипертензией

Ученые НИУ ВШЭ совместно с коллегами из российских университетов выяснили, какие мутации в гене ACVRL1 опасны для пациентов с легочной артериальной гипертензией. Они смоделировали, как изменения в гене влияют на связывание АТФ с белком — процесс, от которого зависит передача сигналов, необходимых для работы сосудов. Оказалось, что 20 из 32 вариантов могут нарушать передачу сигнала и провоцировать болезнь. Результаты опубликованы в Journal of Structural Biology.

17 июня 2026 г.

Интеллектуальная робототехника: кадровый голод и масса возможностей

Пока на рынке мало кадров, способных заниматься разработкой интеллектуальных робототехнических систем. Между тем именно к этому идет робототехника. Как учат ее проектированию и каково будущее отрасли, в интервью IQ Media рассказал заведующий Проектно-учебной лабораторией робототехники НИУ ВШЭ Вадим Моргачев.

17 июня 2026 г.

Каким должно быть образование, чтобы готовить кадры для экономики будущего

Эти вопросы обсудят на форуме HR EXPO PRO ЛЮДЕЙ, который состоится 18-19 июня в Москве. В его работе примет участие ректор НИУ ВШЭ Никита Анисимов, федеральные министры, HR-директора компаний, ректоры вузов, эксперты. На форуме будет представлен стенд, посвященный программам ДПО НИУ ВШЭ.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in mind.

Язык: английский

Демонстрационный файл

Ключевые слова: Radiation/EMI Test generation Defect-based Test Electromagnetic Compatibility On-Line Testing Yield Optimization Test generation Defect-based Test Electromagnetic Compatibility Fault Modeling

ПУБЛИКАЦИЯ ПОДГОТОВЛЕНА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ПРОЕКТА:

Моделирование воздействия тепловых и радиационных эффектов на микроэлектронные компоненты (2015)

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Differential mode pulse minimization by using the genetic algorithm in the bus

Rustam R. Gazizov, Gazizov R., Gazizov T. T. и др., IOP Conference Series: Materials Science and Engineering (MSE) 2021 Vol. 1047 Article 012058

Добавлено: 16 декабря 2022 г.

Method of detection of a source of contact,noises at wireless communication in motion

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–5.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Non-contact Method for Assessing the Quality of Assembly of Electronic Devices Based on Registration and Analysis of Contact Radio Interference

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Средства функциональной верификации микропроцессоров

Татарников А. Д., Камкин А. С., Чупилко М. М. и др., Труды Института системного программирования РАН 2014 Т. 26 № 1 С. 149–200

Обеспечение корректности микропроцессоров и другой микроэлектронной аппаратуры является фундаментальной проблемой, для решения которой применяют разнообразные средства функциональной верификации. В отличие от программ, ошибки в которых исправляются сравнительно просто, дефекты в интегральных схемах (конструктивные и производственные) не могут быть устранены. Несмотря на то, что постоянно совершенствуются системы автоматизированного проектирования (САПР), инструменты генерации тестов и методы анализа ...

Добавлено: 11 декабря 2017 г.

Design of test-making tools for the learner corpus

Vinogradova Olga, Gerasimenko Ekaterina, , in: Corpus Linguistics 2017 Abstracts.: [б.и.], 2017. P. 406–410.

Добавлено: 3 июня 2017 г.

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Добавлено: 14 апреля 2016 г.