Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

31 июля 2026 г.

«Я всегда занимаюсь исследованиями на темы, которые меня по-настоящему волнуют»

Анастасия Деева изучает социально-экономические последствия избыточного веса в России. В интервью проекту «Молодые ученые Вышки» она рассказала о том, что красоту невозможно измерить, о желании написать роман, «достоевском» выгорании и работе в отеле, где снималось «Сияние».

30 июля 2026 г.

Два года роста или падения: как выбрать инвестиционную стратегию

Экономисты из НИУ ВШЭ совместно с коллегами из зарубежных университетов изучили движение биржевых цен за почти 100 лет и предложили инвестиционную стратегию, доходность которой почти вдвое могла бы превысить рыночную. Ученые предлагают придерживаться стратегии моментум, когда рынок растет в течение двух лет, и переключаться на стоимостный подход, когда рынок падает. Статья опубликована в ведущем международном журнале Journal of Banking and Finance.

28 июля 2026 г.

Исследователи ВШЭ показали связь между вниманием и трудностями общения при аутизме

Исследователи НИУ ВШЭ изучили, как трудности в общении детей с аутизмом связаны с работой мозга. Данные показали, что важную роль играют не только языковые сети, но и сети внимания. Чем хуже работали связи, поддерживающие фокус и переключение внимания, тем более выраженными были нарушения в коммуникации. Исследование опубликовано в журнале European Child & Adolescent Psychiatry.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Нью-Йорк : The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Ответственный редактор: T. Balen

Под общей редакцией: M. S. Reorda

The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in mind.

Fault Simulation in Radiation-Hardened SOI CMOS VLSIs using Universal Compact MOSFET Model

Петросянц К. О., Самбурский Л. М., Харитонов И. А. и др., , in: Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016).: NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016. P. 117–122.

The methodology of modeling and simulation of environmentally induced faults in radiation hardened SOI CMOS ICs is presented. For this purpose, the universal compact SPICE SOI MOSFET model with account for TID, dose rate and single event effects is used. First, the model parameters extraction procedure is described in more details taking into consideration radiation ...

Добавлено: 14 апреля 2016 г.

Язык: английский

Демонстрационный файл

Ключевые слова: Radiation/EMI Test generation Defect-based Test Electromagnetic Compatibility On-Line Testing Yield Optimization

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Differential mode pulse minimization by using the genetic algorithm in the bus

Rustam R. Gazizov, Gazizov R., Gazizov T. T. и др., IOP Conference Series: Materials Science and Engineering (MSE) 2021 Vol. 1047 Article 012058

Добавлено: 16 декабря 2022 г.

Method of detection of a source of contact,noises at wireless communication in motion

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–5.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Non-contact Method for Assessing the Quality of Assembly of Electronic Devices Based on Registration and Analysis of Contact Radio Interference

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Средства функциональной верификации микропроцессоров

Татарников А. Д., Камкин А. С., Чупилко М. М. и др., Труды Института системного программирования РАН 2014 Т. 26 № 1 С. 149–200

Обеспечение корректности микропроцессоров и другой микроэлектронной аппаратуры является фундаментальной проблемой, для решения которой применяют разнообразные средства функциональной верификации. В отличие от программ, ошибки в которых исправляются сравнительно просто, дефекты в интегральных схемах (конструктивные и производственные) не могут быть устранены. Несмотря на то, что постоянно совершенствуются системы автоматизированного проектирования (САПР), инструменты генерации тестов и методы анализа ...

Добавлено: 11 декабря 2017 г.

Design of test-making tools for the learner corpus

Vinogradova Olga, Gerasimenko Ekaterina, , in: Corpus Linguistics 2017 Abstracts.: [б.и.], 2017. P. 406–410.

Добавлено: 3 июня 2017 г.

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Добавлено: 14 апреля 2016 г.