Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

22 мая 2026 г.

Лаборатория живых смыслов: как проект НИУ ВШЭ и СахГУ переосмысляет труд

Проект «Зеркальные лаборатории» НИУ ВШЭ — Пермь и Сахалинского государственного университета (СахГУ) изучает, как культура, среда и технологии формируют и меняют трудовые смыслы. Исследование объединяет индивидуальный опыт, профессиональные нормы, городские проблемы, творческие практики и цифровые условия труда. Руководитель Лаборатории междисциплинарных исследований по антропологии труда НИУ ВШЭ в Перми Лилия Пантелеева рассказала о работе проекта.

21 мая 2026 г.

«Пик глупости» и «долина отчаяния»: экономисты НИУ ВШЭ предложили объяснение эффекта Даннинга - Крюгера

Эффект Даннинга — Крюгера, который описывает резкий всплеск уверенности в своих силах у новичков и такое же стремительное ее падение при наборе опыта, объясняется особенностями процесса обучения и набора новых знаний. К такому выводу пришли сотрудник факультета экономических наук НИУ ВШЭ Андрей Ворчик вместе с независимым исследователем Муратом Мамышевым. Они разработали математическую модель процесса обучения и показали, как формируется и изменяется субъективная уверенность по мере накопления знаний и как преподаватель может уменьшить «долину отчаяния» для ученика.

20 мая 2026 г.

«Еж» против «родственника»: ученые измерили, как мозг реагирует на неожиданные слова в живой речи

Российские нейрофизиологи с участием исследователей из НИУ ВШЭ показали, что изучать восприятие живой речи можно с помощью вызванных потенциалов. Они доказали, что метод применим не только к отдельным словам, но и к непрерывной речи. Оказалось, что слова, сильно отличающиеся по смыслу от предыдущего контекста, мозг обрабатывает дольше, а служебные слова анализирует в два этапа: сначала определяет их грамматическую роль, а затем на этой основе предсказывает следующее слово. Исследование опубликовано в журнале Frontiers in Human Neuroscience.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Нью-Йорк : The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Ответственный редактор: T. Balen

Под общей редакцией: M. S. Reorda

The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in mind.

Fault Simulation in Radiation-Hardened SOI CMOS VLSIs using Universal Compact MOSFET Model

Петросянц К. О., Самбурский Л. М., Харитонов И. А. и др., , in: Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016).: NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016. P. 117–122.

The methodology of modeling and simulation of environmentally induced faults in radiation hardened SOI CMOS ICs is presented. For this purpose, the universal compact SPICE SOI MOSFET model with account for TID, dose rate and single event effects is used. First, the model parameters extraction procedure is described in more details taking into consideration radiation ...

Добавлено: 14 апреля 2016 г.

Язык: английский

Демонстрационный файл

Ключевые слова: Radiation/EMI Test generation Defect-based Test Electromagnetic Compatibility On-Line Testing Yield Optimization

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Differential mode pulse minimization by using the genetic algorithm in the bus

Rustam R. Gazizov, Gazizov R., Gazizov T. T. и др., IOP Conference Series: Materials Science and Engineering (MSE) 2021 Vol. 1047 Article 012058

Добавлено: 16 декабря 2022 г.

Method of detection of a source of contact,noises at wireless communication in motion

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–5.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Non-contact Method for Assessing the Quality of Assembly of Electronic Devices Based on Registration and Analysis of Contact Radio Interference

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Средства функциональной верификации микропроцессоров

Татарников А. Д., Камкин А. С., Чупилко М. М. и др., Труды Института системного программирования РАН 2014 Т. 26 № 1 С. 149–200

Обеспечение корректности микропроцессоров и другой микроэлектронной аппаратуры является фундаментальной проблемой, для решения которой применяют разнообразные средства функциональной верификации. В отличие от программ, ошибки в которых исправляются сравнительно просто, дефекты в интегральных схемах (конструктивные и производственные) не могут быть устранены. Несмотря на то, что постоянно совершенствуются системы автоматизированного проектирования (САПР), инструменты генерации тестов и методы анализа ...

Добавлено: 11 декабря 2017 г.

Design of test-making tools for the learner corpus

Vinogradova Olga, Gerasimenko Ekaterina, , in: Corpus Linguistics 2017 Abstracts.: [б.и.], 2017. P. 406–410.

Добавлено: 3 июня 2017 г.

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Добавлено: 14 апреля 2016 г.