Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

20 октября 2026 г.

«Наши работы можно назвать исследованиями на переднем крае науки»

Международная лаборатория кластерной геометрии, действующая на факультете математики НИУ ВШЭ, занимается формированием новой научной дисциплины, соединяющей в себе знания из различных областей математики. Выполненные в ней работы вызывают большой интерес, в том числе у зарубежных коллег. Лаборатория изучает семейства кривых и разрабатывает методы, применяемые в исследованиях физического микромира. Новостная служба «Вышка.Главное» побеседовала с заведующим лабораторией профессором Сергеем Ландо.

20 октября 2026 г.

За гранью возможного: в Вышке прошел финал IX сезона «Научных боев»

В конце сентября в Центре культур НИУ ВШЭ прошел финал IX сезона «Научных боев» с заглавной темой «За гранью возможного». Исследователи представили четыре работы. На каждое выступление отводилось по десять минут, после чего участники отвечали на вопросы жюри и зрителей. Спикеры искали границы между человеком и искусственным интеллектом, цифровой платформой и ее пользователями, государством и социальной инфраструктурой, а также между тем, как общество определяет человека, и тем, как он определяет себя сам.

15 октября 2026 г.

Ученые НИУ ВШЭ выяснили, куда смотрят дети и взрослые при чтении

Исследователи Центра языка и мозга НИУ ВШЭ совместно с зарубежными коллегами показали, что в конце первого класса у детей уже сформирован один из важных навыков движений глаз при чтении. Они, как и взрослые, быстро адаптируют длину саккад — быстрых скачков взгляда — к длине слов в предложениях. При этом место, куда приземляется взгляд, у детей смещено к началу слова, в отличие от взрослых, которые смотрят в середину слова. Чем выше беглость чтения, тем ближе эта позиция к центру. Результаты исследования опубликованы в Journal of Experimental Child Psychology.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Нью-Йорк : The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Ответственный редактор: T. Balen

Под общей редакцией: M. S. Reorda

The IEEE Latin-American Test Symposium (LATS, previously Latin-American Test Workshop - LATW) is a recongnized forum for test and fault tolerance professionals and technologists from all over the world, in particular from Latin America, to present and discuss various aspects of system, board, and component testing and fault-tolerance with design, manufacturing and field considerations in mind.

Fault Simulation in Radiation-Hardened SOI CMOS VLSIs using Universal Compact MOSFET Model

Петросянц К. О., Самбурский Л. М., Харитонов И. А. и др., , in: Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016).: NY: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016. P. 117–122.

The methodology of modeling and simulation of environmentally induced faults in radiation hardened SOI CMOS ICs is presented. For this purpose, the universal compact SPICE SOI MOSFET model with account for TID, dose rate and single event effects is used. First, the model parameters extraction procedure is described in more details taking into consideration radiation ...

Добавлено: 14 апреля 2016 г.

Язык: английский

Демонстрационный файл

Ключевые слова: Radiation/EMI Test generation Defect-based Test Electromagnetic Compatibility On-Line Testing Yield Optimization

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

Differential mode pulse minimization by using the genetic algorithm in the bus

Rustam R. Gazizov, Gazizov R., Gazizov T. T. и др., IOP Conference Series: Materials Science and Engineering (MSE) 2021 Vol. 1047 Article 012058

Добавлено: 16 декабря 2022 г.

Method of detection of a source of contact,noises at wireless communication in motion

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–5.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Non-contact Method for Assessing the Quality of Assembly of Electronic Devices Based on Registration and Analysis of Contact Radio Interference

Nikolay N. Grachev, Sergey N. Safonov, , in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings.: M.: IEEE, 2018. P. 1–4.

Добавлено: 31 мая 2018 г.

Средства функциональной верификации микропроцессоров

Татарников А. Д., Камкин А. С., Чупилко М. М. и др., Труды Института системного программирования РАН 2014 Т. 26 № 1 С. 149–200

Обеспечение корректности микропроцессоров и другой микроэлектронной аппаратуры является фундаментальной проблемой, для решения которой применяют разнообразные средства функциональной верификации. В отличие от программ, ошибки в которых исправляются сравнительно просто, дефекты в интегральных схемах (конструктивные и производственные) не могут быть устранены. Несмотря на то, что постоянно совершенствуются системы автоматизированного проектирования (САПР), инструменты генерации тестов и методы анализа ...

Добавлено: 11 декабря 2017 г.

Design of test-making tools for the learner corpus

Vinogradova Olga, Gerasimenko Ekaterina, , in: Corpus Linguistics 2017 Abstracts.: [б.и.], 2017. P. 406–410.

Добавлено: 3 июня 2017 г.

Proceedings of the IEEE Latin-American Test Symposium (LATS-2016)

The Institute of Electrical and Electronics Engineering, Inc., 2016.

Добавлено: 14 апреля 2016 г.