Исследование материалов спинтроники совместной обработкой данных рентгеновской дифракции и рефлектометрии

С. 105–106.

Пруцков Г. В., Лихачев И. А.

В работе описан подход комплексного обсчета данных рентгеновской дифракции и рефлектометрии для структур спинтроники.

Ключевые слова: спинтроника, комплексный подход, обратная задача, рентгеновское излучение, spintronics, X-rays, x-ray diffraction, рентгеновская дифракция, X-ray reflectivity, рентгеновская рефлектотметрия

В книге

Сборник аннотаций национальной молодежной научной школы для молодых ученых, аспирантов и студентов по современным методам исследования наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования" (СИН НАНО 2015), г. Москва, 6 - 10 июля 2015 г.

М.: НИЦ «Курчатовский институт», 2015.