?
Исследование характеристик и разработка моделей цифровых микросхем серии IN74AC04 с учетом низкоинтенсивного облучения
Гл. 2. С. 10–16.
In book
Лыткарино МО: АО "НИИП", 2020.
Звягинцев Д. Е., Елисеева А. В., Куликов Н. А. et al., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2020». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, г. Ялта, 21-25 сентября 2020 г.: М.: МАКС Пресс, 2020. С. 232–235.
Based on the results of measuring the characteristics of CMOS ICs in the dose range up to 0.5 Mrad with an intensity of 0.1 rad/s, the changes in the concentration of defects Nit, Not were calculated, and the parameters of SPICE models of MOS transistors IC were identified. Circuitry modeling made it possible to estimate ...
Added: December 5, 2020
Petrosyants K. O., Наноиндустрия 2018 № 82 С. 402–403
The paper presents a library of radiation and electrothermal BJT and MOSFET VLSI SPICE models. The library contains models for MOSFET, SOI/SOS MOSFET, Si BJT, SeGe HBT taking into account self-heating, high (up to +300°C) and low (up to –200°C) temperatures, the influence of radiation (neutrons, electrons, γ- and X-ray, protons, pulsed radiation, single particles). ...
Added: January 30, 2019
Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Kozhukhov M. et al., , in: 2017 International Workshop on Reliability of Micro- and Nano-Electronic Devices in Harsh Environment” (IWRMN-EDHE 2017).: Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, 2017. P. 1–3.
An efficient approach to simulation of various types of radiation effects in bipolar and MOSFET IC’s using non-specialized SPICE simulators is realized using the developed compact SPICE models of Si BJT’s, SiGe HBT’s, SOI/SOS MOSFET’s and verified in real projects of extremal electronics R&D. ...
Added: October 16, 2017
Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kharitonov I. A. et al., В кн.: Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА. Материалы XIV научно-технической конференции Москва, 7-9 октября 2015 г.: М.: ОАО НПП «ПУЛЬСАР», 2015. С. 239–243.
В данной работе предлагаются уточненные, но достаточно простые SPICE модели импульсных фототоков для диодов и биполярных транзисторов. Модели имеют единую структуру, учитывают электрическое смещение на p-n-переходе, особенности формы отклика конкретного полупроводникового прибора. Параметры моделей определяются из результатов испытаний на моделирующих установках. ...
Added: February 16, 2016