• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Книга

Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017)

Piscataway: IEEE, 2017.

Основная цель East-West  Design & Test Symposium (EWDTS) является обмен опытом между учеными и технологиями Восточной и Западной Европы, а также Северной Америки и других частей мира, в области проектирования, дизайна автоматизация и проверки электронных систем. Симпозиум направлен на привлечение ученых, особенно из стран Причерноморского региона, стран Балтии и Центральной Азии. EWDTS'16 охватывает (но не ограничивается) следующие темы:   Аналог, смешанных сигналов и тестирование РЧ Анализ и оптимизация АТГН и высокого уровня TPG Автомобильные надежности и испытания Встроенный Self Test Отладка и диагностика Дефект / Отказоустойчивость и надежность Дизайн верификации и валидации EDA Инструменты для разработки и тестирования Встроенные производительности программного обеспечения Анализ отказов, дефектов и неисправностей Функциональное Безопасное Синтез высокого уровня Высокопроизводительных сетей и систем на чипе Интернет вещей Design & Test Маломощные дизайн Память и процессор испытаний Моделирование и моделирование неисправностей Сеть-на-Chip Design & Test Моделирование и синтез встроенных систем Объектно-ориентированная спецификация и конструкция системы Он-лайн тестирование Электрические проблемы в проектировании и испытании В реальном масштабе времени Embedded Systems Надежность цифровых систем Сканирование методов составления Самовосстановления и Реконфигурируемые Архитектуры Сигнала и обработки информации в радио и технике связи Уровень системы моделирования, моделирование и испытания поколения Система-в-пакете и 3D Design & Test Использование UML для встраиваемых спецификации системы Оптические сигналы в связи и обработки информации CAD и EDA инструменты, методы и алгоритмы Аппаратные средства безопасности и дизайна по безопасности Логика, Схема и система синтеза Место и маршрут Термическая и электростатический анализ SoCs Беспроводные и RFID-систем синтеза

Главы книги
Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017)