Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017)

Piscataway : IEEE, 2017.

Основная цель East-West  Design & Test Symposium (EWDTS) является обмен опытом между учеными и технологиями Восточной и Западной Европы, а также Северной Америки и других частей мира, в области проектирования, дизайна автоматизация и проверки электронных систем. Симпозиум направлен на привлечение ученых, особенно из стран Причерноморского региона, стран Балтии и Центральной Азии. EWDTS'16 охватывает (но не ограничивается) следующие темы:   Аналог, смешанных сигналов и тестирование РЧ Анализ и оптимизация АТГН и высокого уровня TPG Автомобильные надежности и испытания Встроенный Self Test Отладка и диагностика Дефект / Отказоустойчивость и надежность Дизайн верификации и валидации EDA Инструменты для разработки и тестирования Встроенные производительности программного обеспечения Анализ отказов, дефектов и неисправностей Функциональное Безопасное Синтез высокого уровня Высокопроизводительных сетей и систем на чипе Интернет вещей Design & Test Маломощные дизайн Память и процессор испытаний Моделирование и моделирование неисправностей Сеть-на-Chip Design & Test Моделирование и синтез встроенных систем Объектно-ориентированная спецификация и конструкция системы Он-лайн тестирование Электрические проблемы в проектировании и испытании В реальном масштабе времени Embedded Systems Надежность цифровых систем Сканирование методов составления Самовосстановления и Реконфигурируемые Архитектуры Сигнала и обработки информации в радио и технике связи Уровень системы моделирования, моделирование и испытания поколения Система-в-пакете и 3D Design & Test Использование UML для встраиваемых спецификации системы Оптические сигналы в связи и обработки информации CAD и EDA инструменты, методы и алгоритмы Аппаратные средства безопасности и дизайна по безопасности Логика, Схема и система синтеза Место и маршрут Термическая и электростатический анализ SoCs Беспроводные и RFID-систем синтеза

Главы книги

Application of Exhaustive Search, Branch and Bound, Parallel Computing and Monte-Carlo Methods for the Synthesis of Quasi-Optimal Network-on-chip Topologies

Romanov A., Romanova I., Ivannikov A., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 1–6.

На основе интегрального критерия оптимальности топологий сетей на кристалле (СтнК), а также используя матрицы смежности для описания топологий СтнК, метод исчерпывающего поиска и его модификация с помощью методов ветвей и границ и Монте-Карло распространены на синтез квазиоптимальных топологий СтнК. Разработанный алгоритм синтеза квазиоптимальных топологий ScaNoC и реализован на языке программирования высокого уровня, что дало возможность ...

Добавлено: 5 октября 2017 г.

Electro-Thermo-Rad SPICE models for SOI/SOS MOSFETs

Kharitonov I. A., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 1–8.

Добавлено: 29 октября 2017 г.

Generalized Test Automation Method for MOSFET’s Including Characteristics Measurements and Model Parameters Extraction for Aero-Space Applications

Петросянц К. О., Самбурский Л. М., Харитонов И. А. и др., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 504–511.

Добавлено: 29 октября 2017 г.

Parameter Optimization of High-Speed CMOS Operational Amplifiers Based on Dual-Input Stage

Ульянов С. Л., Prokopenko N., Gourary M. M. и др., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 1–4.

Добавлено: 19 февраля 2018 г.

SPICE Models of Nonlinear Capacitors for Simulation of Ferroelectric Circuits

Ульянов С. Л., Gourary M. M., Rusakov S. G. и др., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 113–116.

Добавлено: 19 февраля 2018 г.

Non-invasive monitoring of blood glucose by means of wearable tracking technology

Кащеев Н. И., Козырев О. Р., Лейкин М. В. и др., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 1–4.

Добавлено: 20 февраля 2018 г.

A heuristic to find initial values for stochastic local search in SAT using continuous extensions of Boolean formulas

Кащеев Н. И., Путихин Н. С., , in: Proceedings of XV IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2017).: Piscataway: IEEE, 2017. P. 1–4.

Добавлено: 20 февраля 2018 г.

Ключевые слова: modeling, CAD tools, EDA Tools