• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Система фотометрического анализа структурных изображений и ее применение для исследования материалов в условиях усталости

Ермишкин В. А., Мурат Д. П., Подбельский В. В.

В статье описывается методика построения кривых усталости по данным испытаний малой серии плоских образцов в условиях консольного изгиба. Кривая усталости строится по результатам сравнительного анализа локальной поврежденности поверхности исследуемого образца и соответствующих значений действующих напряжений. В основе применяемого подхода лежит совместный анализ изображений фрагментов поверхности исследуемого образца материала и соответствующих этим фрагментам спектров отражения белого света.