• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

X-ray topo-tomography studies of linear dislocations in silicon single crystals

Journal of Applied Crystallography. 2018. Vol. 51. No. 6. P. 1616-1622.
Asadchikov V., Buzmakov A., Chukhovskii F., Суворов Э. В., Dyachkova I., Zolotov D., Danilewsky A., Baumbach T., Bode S., Haaga S., Ha¨nschke D., Kabukcuoglu M., Balzer M., Casellee M.