• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

TCAD Simulation of Dose Radiation Effects in Sub-100 nm High-k MOSFET Structures

Russian Microelectronics. 2018. Vol. 47. No. 7.