• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Статья

Алгоритм генерации эффективных воздействий на схему для тестирования электронного средства

Обоснована актуальность решаемой проблемы генерации тестовых воздействий для повышения эффективности контроля и диагностирования электронных средств. В рамках реализации информационной системы диагностического моделирования, предложен алгоритм формирования тестов, предусматривающий анализ электрической схемы в статическом режиме работы, а также в частотной и временной областях. В статическом режиме работы предлагается исследовать характеристику «вход/выход», для которой предусмотрены различные алгоритмы тестирования для линейных и нелинейных участков. В соответствии с алгоритмом формирования тестов в частотной области рассчитываются нули и полюса передаточной функции, в интервалах между которыми выбираются наиболее эффективные частоты тестовых сигналов. В динамическом режиме работы схемы, в соответствии с разработанным алгоритмом, выбираются форма и характеристики воздействий; анализируются предельные допустимые параметры электрорадиоэлементов. Предложена методика отбора эффективных тестовых воздействий по критерию однозначности различения выявляемых дефектов. Описаны технологии проведения диагностического моделирования, при котором анализируются характеристики на выходе схемы или во внутренних её узлах и определяется степень различения дефектов с учетом погрешностей измерений.