Исследование полимер-полимерных интерфейсов методом атомно-силовой микроскопии

?

Исследование полимер-полимерных интерфейсов методом атомно-силовой микроскопии

Известия УНЦ РАН. 2023. Т. 2. С. 5–14.

Корнилов В. М., Карамов Д. Д., Абакумов А. Н., Хусаинов Т. Р., Юсупов А. Р.

Представлены результаты экспериментального исследования полимер-полимерных интерфейсов всубмикронных пленках полидифениленфталида. Методами атомно-силовой микроскопии было установ-лено, что полимерные пленки обладают внутренней структурой, причем структурные элементы имеютформу сфероидов. Свойства полимера и характер наблюдаемых изображений позволили использовать дляописания результатов модель хрупкого разрушения полимера. Предложена модель формирования интер-фейсных слоев на границах раздела между элементами надмолекулярной структуры и между последова-тельно нанесенными слоями полимера. Было установлено, что в области интерфейса формируется пере-ходный слой толщиной порядка 10–20 нм, сформированный боковыми фрагментами молекул полимера.

Язык: русский

Полный текст

DOI

Текст на другом сайте

ПУБЛИКАЦИЯ ПОДГОТОВЛЕНА ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ПРОЕКТА:

Квантовые эффекты в низкоразмерных гибридных наноструктурах (2025)

Nanoscale Welding and Strain-Engineered Photoluminescence of GaN Nanowires

Sharov V., Pavlov A., Eliseyev I. и др., Advanced Optical Materials 2025 Vol. 13 No. 30 Article e01821

Добавлено: 12 ноября 2025 г.

Исследование квазиодномерных проводящих структур в полимерных слоях

Корнилов В. М., Карамов Д. Д., Известия РАН. Серия физическая 2025 Т. 89 № 3 С. 402–407

Представлены результаты экспериментального исследования локального переключения в субмикронных полимерных пленках, следствием которого является возникновение квазиодномерных проводящих структур наноскопических размеров. Участки образца, в которых происходило переключение, были визуализированы методами атомно-силовой микроскопии спроводящим зондом. ...

Добавлено: 28 сентября 2025 г.

Влияние частоты переменного поля на электрофизические свойства полимерных пленок

Корнилов В. М., Карамов Д. Д., Хусаинов Т. Р. и др., Известия УНЦ РАН 2023 Т. 2 С. 20–27

Добавлено: 25 декабря 2023 г.

Model of Growth of Heusler-Alloy Epitaxial Films

Vorotyntsev I. V., A. E. Rassadin, Fomin L. A. и др., Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques 2021 Vol. 15 No. 2 P. 389–395

Добавлено: 11 декабря 2022 г.

Анализ шероховатости поверхности целлюлозно-бумажных материалов прямым и косвенным методами

Михалева М. Г., Втюрина Д. Н., Сарвадий С. ю. и др., Труды БГТУ. Серия 2: Химические технологии, биотехнология, геоэкология 2019 № 1 С. 67–71

В настоящей работе выполнен анализ результатов испытаний по показателю «шероховатость» волокнистых полуфабрикатов и бумаги, предназначенной для выпуска массовых видов продукции (упаковочные материалы, полиграфические издания). Данный показатель измеряли прямым (атомно-силовая микроскопия) и косвенным методами (метод Бендсена). Показано, что применение атомно-силовой микроскопии обеспечивает объективную оценку топографии поверхности целлюлозно-бумажной продукции различного назначения и не имеет ограничений по сравнению ...

Добавлено: 21 октября 2020 г.

Identification of montmorillonite particle edge orientations by atomic-force microscopy

Kraevsky S. V., Tournassat C., Vayer M. и др., Applied Clay Science 2020 Vol. 186 Article 105442

Statistical information on the edge surface area and edge crystallographic orientation of clay nanoparticle surfaces is essential for proper accounting of the protonation-deprotonation reactions as a part of mechanistic surface complexation models. A combination of atomic-force microscopy (AFM) measurements and molecular dynamics computer simulations made it possible to quantify the relative contributions of the most ...

Добавлено: 26 февраля 2020 г.

Magnetic anisotropy of polycrystalline high-temperature ferromagnetic MnxSi1−x (x≈0.5) alloy films

Drovosekov A. B., Kreines N. M., Savitsky A. O. и др., / Series cond-mat "arxiv.org". 2015.

Добавлено: 17 июня 2016 г.

Сканирующая зондовая микроскопия в исследовании поверхностной структуры наноматериалов

Львов Б. Г., Бондаренко Г. Г., Николаевский А. В., М.: Московский государственный институт электроники и математики, 2010.

Содержанием учебно-методического пособия является изучение и практическое освоение основных зондовых методов исследования поверхности электропроводных и диэлектрических наноматериалов, изучение принципов работы сканирующего зондового микроскопа с элементами инженерного тренинга. ...

Добавлено: 13 мая 2013 г.

Ordered Gold Nanostructures on Saphire Surfaces: Fabrication and Optical Investigations

Муслимов А. Э., Буташин А. В., Коновко А. А. и др., Crystallography reports 2012 Vol. 57 No. 3 P. 415–420

В статье показаны возможности использования упорядоченных наноразмерных массивов островков золота на сапфировых подложках с нанорельефом определенной ориентации. Описание морфологии структур выполнено на основе данных атомно-силовой микроскопии. Изучение угловой зависимости коэффициента отражения в видимом диапазоне длин волн электромагнитного излучения выявило некоторые особенности, которые, вероятно, вызваны поверхностным плазмонно-поляритонным возбуждением на границе раздела вакуум-золото под воздействием p-поляризованного излучения. ...

Добавлено: 13 декабря 2012 г.