?
Ti/Au/n-GaAs planar Schottky diode with a moderately Si-doped matching sublayer
Microelectronic Engineering. 2018. Vol. 195. P. 26–31.
Шураков А. С., Mikhalev P., Михайлов Д. М., Mityashkin V., Третьяков И. В., Kardakova A., Беликов И. И., Kaurova N., Voronov B., Vasil’evskii I., Гольцман Г. Н.
Язык:
английский
Qian X., Deng Y., Щур Л. Н. и др., Physica A: Statistical Mechanics and its Applications 2026 Vol. 696 P. 1–13
Добавлено: 24 мая 2026 г.
Мелентьев П. Н., Калмыков А. С., Гритченко А. С. и др., Успехи физических наук 2024 Т. 194 № 11 С. 1130–1145
Представлен краткий обзор достигнутого уровня оптических методов детектирования единичных молекул в биомедицинских приложениях. Показано, что регистрация флуоресценции единичных молекул красителей, ковалентно связанных с антителами (биомолекулами), совместно с использованием современных методов нанофотоники может быть применена для решения различных задач в биологии и медицине: визуализации биомолекул, токсинов, вирусных частиц, определения ультранизких концентраций аналитов напрямую во взятой пробе, ...
Добавлено: 21 мая 2026 г.
Antsiferov P.S., Stepanov L.V., Matiukhin N. D., Review of Scientific Instruments 2025 Vol. 96 No. 12 Article 123506
Добавлено: 20 мая 2026 г.
Сообщено о разработке системы регистрации спектров на ПЗС-линейке для уникального ВУФ спектрометра, построенного на основе сферической дифракционной решетки с радиусом 6.65 m. Была использована линейка HAMAMATSU S11156-2048-02, которая устанавливалась по касательной к окружности Роуланда с возможностью механического перемещения для сканирования спектра. Были получены спектрограммы в диапазоне длин волн 2130-2270 Angstrem. Описана методика сшивки регистрируемых спектральных ...
Добавлено: 20 мая 2026 г.
Добавлено: 19 мая 2026 г.
Добавлено: 19 мая 2026 г.
Kaveev A. K., Fedorov V. V., Pavlov A. V. и др., Journal of Materials Chemistry C 2026 Vol. 14 No. 7 P. 2697–2705
Добавлено: 19 мая 2026 г.
Павлова Т. В., V.M. Shevlyuga (Шевлюга В. М., Applied Surface Science 2026 Vol. 736 P. 166813–166813
Добавлено: 19 мая 2026 г.
Pasternak D., Romshin A., Khmelnitsky Р. и др., Carbon 2026 Vol. 256 Article 121655
Добавлено: 19 мая 2026 г.
Добавлено: 18 мая 2026 г.
Смирнов А. М., Mantsevich V. N., Saitov S. R. и др., Journal of Applied Physics 2026 Vol. 139 Article 185702
Добавлено: 18 мая 2026 г.
Масютин Д. А., Моисеев Э. И., Комаров С. Д. и др., Письма в Журнал технической физики 2026 Т. 52 № 7 С. 27–30
Исследованы инжекционные полупроводниковые микролазеры с кольцевым резонатором радиусом 15 мкм с несимметричным расположением внутреннего отверстия резонатора. Показано, что асимметрия обеспечивает формирование в диаграмме направленности двух лепестков излучения, разориентированных на 50° относительно оси смещения внутреннего отверстия. Измеренная добротность резонаторов сопоставима с добротностью дисковых резонаторов и находится на уровне ∼ 10^6. ...
Добавлено: 18 мая 2026 г.
Rathish S., Andrey S. Vasenko, Thazhathenair A. и др., The Journal of Physical Chemistry Letters 2026 Vol. 17 No. 18 P. 5386–5394
Добавлено: 16 мая 2026 г.
Дас А., Paul R., Sharma N. и др., Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 2026 Vol. 728 P. 138830
Добавлено: 16 мая 2026 г.
Шураков А. С., Беликов И. И., Anatoliy Prikhodko и др., СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии, Россия 2021 No. 3 P. 34–34
Добавлено: 4 сентября 2023 г.
A Prikhodko, I Belikov, Mikhailov D. и др., Journal of Physics: Conference Series 2021 Vol. 2086 No. 1 Article 012063
Добавлено: 18 мая 2022 г.
Шураков А. С., Mikhailov D., Беликов И. И. и др., Journal of Physics: Conference Series 2020 Vol. 1695 No. 1 Article 012154
Добавлено: 18 мая 2022 г.
Сафин А. Р., Nikitov S., Kirilyuk A. I. и др., Journal of Experimental and Theoretical Physics, Pleiades Publishing 2020 Vol. 131 No. 1 P. 71–82
Добавлено: 26 октября 2021 г.
Скуридин А. А., Yelizarov A., Назаров И. В. и др., , in: SYNCHROINFO 2021. Systems of Signal Synchronization, Generating and Processing in Telecommunications.: IEEE, 2021. P. 1–4.
Добавлено: 1 октября 2021 г.
Shurakov A., Mikhalev P., Mikhailov D. и др., Microelectronic Engineering 2018 Vol. 195 No. 5 P. 26–31
Добавлено: 3 февраля 2020 г.