Исследование топографии поверхности функциональных наноматериалов методом растровой электронной микроскопии

М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.

Бондаренко Г. Г., Гайдар А. И.

Содержанием учебно-методического пособия является изучение метода исследования микроструктуры поверхности материалов – растровой электронной микроскопии, принципа действия растрового электронного микроскопа, а также обсуждение особенностей применения метода для исследования микроструктуры функциональных наноматериалов космической техники.

Ключевые слова: растровая электронная микроскопия, космическая техника, топография поверхности, микроструктура, функциональные наноматериалы