?
Calculation of The Absorbed Dose of Electron Radiation in Polymer Cases of Microelectronic Devices, Considering the Factor of Its Accumulation
Проведено компьютерное моделирование глубинного хода
поглощенной дозы в зависимости от энергии электронного облучения
действующего в диапазоне 30-60 кэВ, и проведены
расчеты коэффициента накопления дозы в этих
условиях для полиэтилентерефталата,
полиметилметакрилата, полистирола и
полиэтилена низкой плотности, как модельных полимеров
корпусов микроэлектронных устройств. Показано, что значения энергии электронов, соответствующие
максимальному коэффициенту накопления дозы, зависят от плотности полимера.
Проведенные исследования позволяют с большой
точностью определять проводимость пластиковых корпусов микроэлектронных
устройств в условиях электронного облучения, что представляет
особый интерес для исключения физической возможности
возникновения электростатических разрядов, приводящих к отказам
бортовой электроники космических аппаратов.