Рентгеновская топография: вчера, сегодня и перспективы

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2018. № 9. С. 3–22.

Суворов Э. В.

Рентгеновская топография –это совокупность рентгеновских дифракционных методов, позволяю-

щих увидетьизображения дефектов, определить их тип, расположение в объеме кристаллической

структуры или на ее поверхности, измерить их основные характеристики. В обзоре обсуждаются

возможности, ограничения и перспективы методов рентгеновской топографии.

Ключевые слова: синхротронное излучение, synchrotron radiation, X-ray diffraction microscopy, Fujiwara method, Berg–Barrett method, Schulz method, Borrmann method, Lang method, quasi-planar waves, рентгеновская дифракционная микроскопия, метод Фудживара, метод Берга–Барретта, метод Шульца, метод Бормана, метод Ланга, квазиплоские волны.