• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Найдена 31 публикация
Сортировка:
по названию
по году
Статья
Novikov L., Voronina E., Chernik V. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2016. Vol. 10. No. 4. P. 829-833.

The results of experimental investigation of the combined action of 500-keV protons and ~20-eV oxygen plasma on thin polyimide films are presented. The samples are irradiated with a proton fluence of 1014–1016 cm–2 and an oxygen plasma fluence of ~1020 cm–2. The transmission and Raman spectra of the films, which are measured at different stages of sample irradiation, are compared. Data on the mass loss of the samples as a result of surface erosion are presented.

Добавлено: 9 октября 2016
Статья
Khasanshin R., Novikov L.S. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2014. Vol. 8. No. 4. P. 698-702.
Добавлено: 2 марта 2015
Статья
Andreev D. V., Bondarenko G.G., Andreev V. V. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2020. Vol. 14. No. 2. P. 260-263.
Добавлено: 26 мая 2020
Статья
Bondarenko G., Gaidar A. I., Petrov V. S. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2015. No. 9. P. 679-683.
Добавлено: 15 сентября 2015
Статья
Verbus V. A., Kozlov V. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2012. Vol. 6. No. 5. P. 726-729.

The effect of spherical quantum objects (scatterers) embedded into semiconductor barriers on the tunnel current flowing through them has been studied. For this purpose, the problem of the scattering of incident and reflected wave functions (damping if their energy is less than the barrier potential) of the electron by the stepwise spherically symmetric scattering potential has been solved.

Добавлено: 24 февраля 2015
Статья
Kolokoltsev V. N., Kulikauskas V. S., Bondarenko G.G. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2017. Vol. 11. No. 1. P. 63-68.
Добавлено: 6 марта 2017
Статья
Novikov L., Voronina E., Chernik V. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2016. Vol. 10. No. 3. P. 617-622.

We present the results of the simulation tests of samples of polymer nanocomposites based on carbon nanotubes for resistance to oxygen plasma in the Earth’s upper atmosphere. Data on the weight loss of the samples, the results of analysis of their surface structure after irradiation, and data on arrays of carbon nanotubes damaged under the effect of oxygen plasma are given. Possible mechanisms of destruction of the nanotubes are discussed.

Добавлено: 17 сентября 2016
Статья
Andreev D. V., Bondarenko G., Stolyarov A. A. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2016. Vol. 10. No. 2. P. 450-454.
Добавлено: 28 мая 2016
Статья
Petukhov V., Kulikauskas V., Novikov L. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2014. Vol. 8. No. 3. P. 440-443.
Добавлено: 2 марта 2015
Статья
Chernykh I., Mamichev D., Grishchenko Y. V. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2011. Vol. 5. No. 5. P. 941-944.
Получены наноструктуры, представляющие собой металлические нанорешетки из золота на кварцевых подложках. С помощью методов АСМ и РЭМ были исследованы структурные характеристики образцов. Изучены их оптические свойства в видимом диапазоне спектра. Показано, что данные наноструктуры характеризуются высокой степенью периодичности, а форма профилей нанонитей близка к прямоугольной. В нанорешетках наблюдалось эффективное возбуждение поверхностных плазмон-поляритонных волн. Оптические эффекты, наблюдающиеся в данных структурах, могут быть использованы для создания на их основе быстродействующих элементов сенсорики и оптоэлектроники.
Добавлено: 12 апреля 2012
Статья
Novikov L., Mileev V., Voronina E. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2009. Vol. 3. No. 2. P. 199-214.
Добавлено: 2 марта 2015
Статья
Bondarenko G., Didyk A. Y., Borovitskaya I. V. et al. Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2017. Vol. 11. No. 3. P. 557-561.
Добавлено: 8 июня 2017
Статья
Сказочкин А. В., Крутоголов Ю. К., Кунакин Ю. И. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1996. № 5. С. 75-82.

В работе исследовано воздействие отжига в парах фосфора и потоке водорода на точечные дефекты в слоях GaP:N, выращенных методом газофазной эпитаксии.

Добавлено: 9 декабря 2013
Статья
Андреев Д. В., Бондаренко Г. Г., Андреев В. В. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 3. С. 53-57.

На основе полученных экспериментальных данных разработана модель процессов изменения заря- дового состояния МДП-структур при одновременном воздействии сильнополевой туннельной ин- жекции электронов и радиационных излучений. Модель учитывает взаимодействие инжектирован- ных электронов с зарядами, возникающими в диэлектрической пленке вследствие радиационной и сильнополевой ионизации. Показано, что при взаимодействии инжектируемых электронов с дыр- ками, захваченными в пленке SiO2, часть дырок может аннигилировать, приводя к образованию по- верхностных состояний на границе раздела с кремнием. Изучено влияние напряженности электри- ческого поля и плотности инжекционного тока в условиях воздействия радиационного излучения на процессы генерации и аннигиляции положительного заряда и создание поверхностных состоя- ний. Исследовано влияние зарядовых процессов, протекающих в диэлектрической пленке МДП-структуры при одновременном воздействии радиационных излучений и сильнополевой ин- жекции электронов, на изменение порогового напряжения МДП-приборов и сенсоров радиацион- ных излучений на их основе.

Добавлено: 17 февраля 2020
Статья
Колокольцев В. Н., Куликаускас В. Н., Бондаренко Г. Г. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2017. № 1. С. 41-46.

Методом резерфордовского обратного рассеяния ионов He+ с энергией 2 МэВ изучены профили распределения элементов C, Cu и W в пленках, напыленных на электроразрядной установке типа “плазменный фокус”. Пленки наносили на стеклянные подложки в плазмообразующем газе Ar. Установлено, что профили распределения элементов существенно зависят от кинетической энер- гии частиц. Частицы, имеющие скорость ~105 м/с, проникают на глубину ~1.5 мкм. Соответствую- щие профили распределения элементов по толщине стекла являются нелинейными. Для каждого элемента существует максимальная глубина залегания слоя под поверхностью стекла. Особенно- стью пленок, получаемых на установке типа “плазменный фокус”, является образование слоев из элементов Cu, W и C под поверхностью стекла и их взаимное перекрытие. Такое расположение сло- ев существенно отличает описываемый метод нанесения пленок от традиционно используемых ме- тодов нанесения при низких скоростях осаждения атомов, а также за счет диффузии. Установлено, что полученные пленки являются диэлектриками.

Добавлено: 17 января 2017
Статья
Бондаренко Г. Г., Дидык А. Ю., Боровицкая И. В. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2017. № 5. С. 86-90.

Сборки из Ta|CD2|Ta, Ta|Ta|CD2|Ta|Ta и Nb|CD2|Nb фольг были облучены 30-ю импульсами аргоновой высокотемпературной плазмы на установке «Плазменный фокус» (ПФ-4). После облучения все образцы фольг были исследованы методом регистрации ядер отдачи водорода и дейтерия (ERDA) с обеих сторон каждой фольги. Обнаружено перераспределение водорода и дейтерия в стопках фольг. Экспериментальные результаты по сверхглубокому проникновению легких газовых примесей: водорода и дейтерия объясняются на основе воздействия на фольги ударных волн и ускоренной диффузии под действием внешней силы

Добавлено: 7 мая 2017
Статья
Бондаренко Г.Г., Бонк О. Г., Кристя В. И. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003. № 4. С. 70-73.

Рассчитан диффузионный перенос вещества, распыляемого с поверхности электрода в тлеющем разряде переменного тока. Получено выражение, описывающее плотность потока распыленного вещества, возвращающегося на распыляемую поверхность. Установлено, что при определенных ус­ловиях поток распыленного вещества, возвращающегося на электрод, практически стационарен при нестационарном его распылении.

 

Добавлено: 25 ноября 2013
Статья
Андреев Д. В., Бондаренко Г. Г., Столяров А. А. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 4. С. 94-99.
Исследовано изменение зарядового состояния МДП-структур с двухслойным подзатворным диэлектриком диоксид кремния–фосфорно-силикатное стекло при их модификации в процессе электронного облучения и инжекции электронов в сильных электрических полях. Тонкая пленка стекла образовывалась в результате легирования фосфором термической пленки SiO2, сформированной на поверхности кремниевой пластины. Установлено, что отрицательный заряд, накаплива- ющийся в тонкой пленке фосфорно-силикатного стекла в процессе туннельной инжекции электронов в сильных электрических полях или при электронном облучении, может быть использован для корректировки пороговых напряжений, повышения зарядовой стабильности и увеличения пробивных напряжений МДП-приборов. Показано, что для получения высокой термополевой стабильности МДП-структур после модификации зарядового состояния в процессе инжекции электронов или электронного облучения их необходимо отжигать при температуре около 200°С. Установлено, что применение двухслойного подзатворного диэлектрика диоксид кремния–фосфорно-силикатное стекло позволяет повысить среднюю величину заряда, инжектированного в диэлектрик до его пробоя, и уменьшить количество дефектных структур.
Добавлено: 1 августа 2016
Статья
Бондаренко Г.Г., Удрис Я. Я. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1999. № 4. С. 70-77.
Добавлено: 4 декабря 2013
Статья
Колокольцев В. Н., Куликаускас В. С., Бондаренко Г. Г. и др. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016.

Методом резерфордовского обратного рассеяния ионов He+ с энергией 2 МэВ изучены профили распределения элементов C, Cu и W в пленках, напыленных на электроразрядной установке типа “плазменный фокус”. Пленки наносили на стеклянные подложки в плазмообразующем газе Ar. Установлено, что профили распределения элементов существенно зависят от кинетической энергии частиц. Частицы, имеющие скорость ~105 м/с, проникают на глубину ~1.5 мкм. Соответствующие профили распределения элементов по толщине стекла являются нелинейными. Для каждого элемента существует максимальная глубина залегания слоя под поверхностью стекла. Особенностью пленок, получаемых на установке типа “плазменный фокус”, является образование слоев из элементов Cu, W и C под поверхностью стекла и их взаимное перекрытие. Такое расположение слоев существенно отличает описываемый метод нанесения пленок от традиционно используемых методов нанесения при низких скоростях осаждения атомов, а также за счет диффузии. Установлено, что полученные пленки являются диэлектриками.

Добавлено: 18 мая 2016
Статья
Новоселова Е. Г., Смирнов И. С., Черных И. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. № 10. С. 1-4.
Добавлено: 6 марта 2012
1 2