?
Взаимодействие программных комплексов NI Multisim и NI Labview как возможность расчета параметров надежности схем электрических принципиальных электронных средств
С. 198–201.
В настоящей работе проведен обзор существующих отечественных и зарубежных автоматизированных программных комплексов расчета показателей надежности схем электрических принципиальных электронных средств. Выявлены их недостатки, связанные с отсутствием возможности взаимодействия с программными комплексами схемотехнического моделирования. В связи с этим, даются рекомендации применения программных комплексов NI Multisim и NI Labview для расчета показателей надежности схем электрических принципиальных электронных средств с целью снижения времени их расчета за счет автоматического переноса рабочих электрических параметров в модели оценки показателей надежности.
Язык:
русский
В книге
Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2017.
Цветков В. Э., Ландер Л. Б., Королев П. С., В кн.: Российский форум «Микроэлектроника 2024». 10-я Научная конференция «ЭКБ и микроэлектронные модули». Сборник тезисов. Научно-технологический университет «Сириус», 23-28 сентября 2024 г.: М.: Техносфера, 2024. С. 1152–1152.
Проведен обзор и анализ существующих и применяемых на практике подходов к оценке надежности систем промышленного Интернета вещей (IIoT). Разработан уточненный многофакторный метод прогнозирования надежности систем IoT. ...
Добавлено: 20 апреля 2025 г.
Цветков В. Э., Ландер Л. Б., В кн.: Межвузовская научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов имени Е.В. Арменского. Москва, 2024.: М.: ООО "Издательский дом Медиа паблишер", 2024. С. 359–361.
Данное исследование посвящено разработке метода оценки надежности системы промышленного интернета вещей (IIoT), который позволит усовершенствовать процессы прогнозирования и контроля надежности устройств, предъявления требований к ним на этапах проектирования и производства. В статье проведен обзор использующихся способов по расчету показателей надежности систем IIoT, проанализированы их недостатки. Более того, разработан собственный метод оценки надежности, позволяющий учесть как ...
Добавлено: 12 ноября 2024 г.
Представлен анализ существующих методов построения сетевой коммуникации с группой и внутри группы беспилотных летательных аппаратов (БПЛА) и существующих методов оценки надёжности системы связи с разными топологиями роя БПЛА. Проанализированы существующие методы оценки надёжности программной части роя дронов и оценки показателей безотказности отдельного БПЛА и роя БПЛА. Приведена единая математическая модель оценки показателей безотказности роя БПЛА, ...
Добавлено: 2 ноября 2024 г.
Иванов И. А., Королев П. С., Полесский С. Н. и др., Физические основы приборостроения 2023 Т. 12 № 3(49) С. 7–17
Предложена методика формирования достоверных макромоделей импульсных источников вторичного электропитания (ИВЭП) для прогнозирования единичного показателя надежности, как интенсивность отказов. Проведен натурный эксперимент функционирования импульсного ИВЭП при различных электрических нагрузках и температуре, по результатам которого выявлен фактор, критично влияющий на надежность импульсных ИВЭП. Этим фактором является температура. Также, разработана макромодель надежности импульсного источника вторичного электропитания, подтвержденная как ...
Добавлено: 24 января 2024 г.
Новиков К. В., В кн.: «Фундаментальные, поисковые, прикладные исследования и инновационные проекты». Сборник трудов Национальной научно-практической конференции.: М.: РТУ МИРЭА, 2022. С. 261–264.
Создание сенсора однофазных замыканий в воздушной линии электропередач с учётом жёстких ограничений по массе, габаритам, потребляемой электроэнергии и взаимному расположению сенсора и фазного провода является нетривиальной задачей. Традиционно для этих целей применяют пояс Роговского, снабжённый либо активным (с высоким энергопотреблением), либо пассивным (уступающим по массогабаритным параметрам) полосовым фильтром. В данной работе предлагается вариант реализации подобного ...
Добавлено: 21 мая 2023 г.
Харитонов И. А., В кн.: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2021 (МЭС-2021)Вып. 2.: ИППМ РАН, 2021. С. 73–80.
Описаны дополнения к стандартным SPICE моделям МОП элементов схем, учитывающие эф-фекты их старения, обусловленные влиянием горячих но-сителей, пробоя диэлектрика и электромиграции. Наборы таких моделей вместе со средствами определения их параметров и средствами SPICE моделирования объ-единены в подсистему SPICE моделирования КМОП схем с учетом факторов старения и оценки параметров надеж-ности и времени бессбойной работы. Приведены примеры ...
Добавлено: 8 июня 2022 г.
Кожухов М. В., Мухаметдинова А. Р., Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) 2021 № 4 С. 81–85
В статье представлена SPICE-модель кремний-германиевого (SiGe) гетеропереходного биполярного транзистора (ГБТ), позволяющая проводить схемотехническое моделирование устройств с учетом влияния горячих носителей заряда на их электрические характеристики. Представленная SPICE‑модель SiGe ГБТ разработана с использованием макромодельного подхода. Ядро представленной макромодели является стандартная SPICE-модель биполярного транзистора (GP, VBIC, HICUM, MEXTRAM), к которой подключены дополнительные элементы, учитывающие влияния эффектов старения при ...
Добавлено: 15 ноября 2021 г.
Звягинцев Д. Е., Елисеева А. В., Куликов Н. А. и др., В кн.: Международный форум «Микроэлектроника-2020». Школа молодых ученых. Сборник тезисов. Республика Крым, г. Ялта, 21-25 сентября 2020 г.: М.: МАКС Пресс, 2020. С. 232–235.
На основании результатов измерений характеристик КМОП ИС в диапазоне дозы до 0.5 Мрад с интенсивностью 0,1 рад/с были рассчитаны изменения концентрации дефектов Nit, Not, идентифицированы параметры SPICE-моделей МОП-транзисторов ИС. Схемотехническое моделирование позволило оценить критическое значение дозы для деградации параметров исследуемых ИС. ...
Добавлено: 5 декабря 2020 г.
Мадера А. Г., Компьютерные исследования и моделирование 2018 Т. 10 № 4 С. 483–494
Статья посвящена эффекту тепловой обратной связи, возникающему при функционировании интегральных микросхем и электронных систем, использующих микросхемы. Тепловая обратная связь обусловливается тем, что потребляемая при функционировании микросхемы мощность нагревает ее и, в силу значительной зависимости ее электрических параметров от температуры, между ее электрическими и тепловыми процессами возникает интерактивное взаимодействие. Воздействие тепловой обратной связи приводит к изменению ...
Добавлено: 6 ноября 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Наноиндустрия 2018 № 82 С. 410–411
В работе рассмотрены проблемы построения алгоритмов моделирования переходного процесса и периодического установившегося режима интегральных схем с помощью методов огибающих. Предложены алгоритмы огибающих на базе применения одношаговых методов высокого порядка для решения обыкновенных дифференциальных уравнений (ОДУ). ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Журнал радиоэлектроники 2018 № 5 С. 5
Обсуждается вычислительный метод расчета нелинейных искажений для радиотехнических интегральных схем в периодическом установившемся режиме в частотной области. Mетод ориентирован на применение в системах автоматизации схемотехнического проектирования. В отличие от методов, базирующихся на рядах Вольтерра, метод не требует вычисления второй и третьей производных в используемых моделях приборов. Применение приведённых вычислительных процедур обеспечивает расчет нелинейных искажений в ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) 2018 № 1 С. 103–108
В работе предлагается вычислительный метод анализа установившегося периодического режима аналоговых интегральных схем. Решение периодической краевой задачи выполняется методом пристрелки-Ньютона, в котором для решения задачи с начальными значениями предлагается применить одношаговые методы численного интегрирования ОДУ, полученные на основе формулы Обрешкова. Приведены примеры анализа периодического установившегося режима. ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Рассадин А. Э. и др., Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) 2018 № 1 С. 83–87
При использовании симуляторов типа SPICE для моделирования сегнетоэлектрических схем возникают трудности из-за отрицательных значений дифференциальной емкостей и наличия плавающих узлов между емкостями. В статье предлагаются модели нелинейных емкостей в виде эквивалентных схем с заданными прямыми или обратными вольт-кулонными характеристиками. Дополнительный “зарядовый” вывод моделей позволяет анализировать и инициализировать заряды емкостей, а также моделировать цепочки емкостей с ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Информационные технологии 2018 Т. 24 № 9 С. 563–572
Показано, что важным направлением совершенствования проекционных методов редуцирования моделей линейных электрических цепей является учет характеристик их схемного окружения. Для решения этой задачи разработан подход к построению редуцированной модели подсхемы линейной цепи на основе метода отбора векторов состояния. Обсуждаются возможности учета нелинейного окружения схемы. Численные эксперименты показали существенное повышение точности и снижение порядка редуцированной модели при ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Информационные технологии 2018 Т. 24 № 7 С. 435–444
Рассмотрены направления совершенствования методов минимаксной оптимизации при решении задач проектирования, включающие: способ задания частных критериев в виде произвольной кусочно-линейной выпуклой функции; использование особенностей задачи и алгоритмов схемотехнического моделирования для ускорения процедур оптимизации; принципы построения алгоритма решения линейной минимаксной задачи на шаге оптимизации с учетом возможной многокритериальности. ...
Добавлено: 12 февраля 2019 г.
Харитонов И. А., В кн.: XVII Всероссийская научно-техническая конференция «Электроника, микро- и наноэлектроника»: 14 - 18 мая 2018 года, г. Суздаль, Россия.: М.: НИИСИ РАН, 2018. С. 82–83.
. ...
Добавлено: 7 ноября 2018 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Прокопенко Н. Н. и др., Журнал радиоэлектроники 2018 № 4 С. 7
Обсуждается применение оптимизационных методов для решения задачи определения параметров аналоговых микросхем (АМ) в процессе их проектирования. Приводятся постановки оптимизационной задачи и методики ее решения для двух классов АМ – быстродействующих операционных усилителей и линейных компенсационных стабилизаторов напряжения с непрерывным регулированием (КСН). Выбор данных классов АМ обусловлен их широким распространением, наличием противоречивых проектных требований, которые влияют ...
Добавлено: 12 июля 2018 г.
Гурарий М. М., Жаров М. М., Русаков С. Г. и др., Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета 2018 № 64 С. 35–45
Рассматривается задача моделирования электронных схем, содержащих помимо традиционных компонентов линейные многополюсные блоки, характеризуемые рациональными и экспоненциально-рациональными передаточными функциями в частотной области. Целью работы является разработка математических методов, программных решений и методических принципов для включения произвольных линейных блоков в число компонентов типовых процедур схемотехнического моделирования. ...
Добавлено: 12 июля 2018 г.
Королев П. С., В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы двадцать первого научно-практического семинара.: М.: Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2018. С. 255–259.
В настоящей работе исследованы виды, методы и способы расчета количественных значений показателей надежности, в частности, безотказности структурно-сложных радиотехнических устройств. Разработан VI-модуль в программном комплексе LabView с возможностью интеграции с программным комплексом схемотехнического моделирования Multisim. VI-модуль позволяет оценивать вероятность безотказной работы резервированных радиотехнических устройств на примере системы электроснабжения космических аппаратов. Описано применение аппаратно-программной платформы NI MyRio ...
Добавлено: 18 мая 2018 г.
Ульянов С. Л., Гурарий М. М., Жаров М. М. и др., В кн.: Международная конференция «Микроэлектроника-2015». Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение. Сборник докладов.: М.: Рекламно-издательский центр "ТЕХНОСФЕРА", 2016. С. 449–461.
В работе рассмотрены проблемы моделирования радиотехнических интегральных схем с нанометровыми проектными нормами. Обсуждается новое поколение методов моделирования, рассмотрены основные проблемы построения таких методов и алгоритмов и предложены способы повышения их вычислительной эффективности, приведен ряд полученных результатов. ...
Добавлено: 19 февраля 2018 г.
Ульянов С. Л., Gourary M. M., Rusakov S. G. и др., Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) 2017 No. 1 P. 39–45
Добавлено: 19 февраля 2018 г.
Ульянов С. Л., Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) 2016 № 1 С. 124–130
Статья посвящена описанию нового
метода построения редуцированной макромодели
линейной динамической системы в виде рациональной
передаточной функции. Метод основан на минимизации
погрешности аппроксимации, заданной интегральным
критерием. Предусмотрена модификация метода,
ориентированная на минимизацию порядка модели при
заданной погрешности. Рассмотрено распространение
метода на случай векторной передаточной функции.
Разработанный вычислительный алгоритм базируется
на методе Гаусса-Ньютона. Приводятся примеры
применения разработанного метода. ...
Добавлено: 19 февраля 2018 г.