?
Теория надёжности в электронной инженерии
В монографии излагаются основы теории надёжности электронной инженерии с учётом перспективного вероятностно-физического подхода к анализу и оценке надежности. Монография является результатом научных исследований, поводимых в Национальном исследовательском университете «Высшая школа экономики» (руководитель научной школы – д.т.н., проф. НИУ ВШЭ Кофанов Ю.Н.). Разработана теория планирования испытаний электронных устройств и систем на надежность при сокращенных, безотказных, в том числе ускоренных испытаниях, и даны методы обработки результатов испытаний и оценки показателей надежности. Предлагается эффективная методология оценки статистических характеристик определяющего параметра (процесса деградации) по исследованию единичных образцов электронных изделий путем использования информации принятых репрезентативных объектов (образцов, реализаций). Методология включает в себя методики расчета запасных компонентов и моделирования процессов деградации.
Представленные методы оценки показателей надежности приводят к повышению точности оценок, к уменьшению времени и объемов испытаний и, в общем, к сокращению затрат на обеспечение надежности. В монографии приведено большое количество примеров и задач, подтверждающих работоспособность и эффективность предлагаемых методов. Особое внимание уделено надёжности электронных изделий аэрокосмической инженерии.
Материал монографии входит в учебные программы бакалавров и магистров НИУ ВШЭ по направлению «Конструирование и технология электронных средств». Монография рассчитана также на широкий круг специалистов, работающих в области проектирования, испытаний и эксплуатации изделий электронной инженерии, и может быть полезна специалистам, разрабатывающих высоконадёжные электронные изделия ответственного назначения.
