Порометрия наноразмерных пленок рентгеновским методом

Е. Г. Новоселова; И. С. Смирнов; И. С. Монахов; Касьянов О. М.

АБВ
АБВ
АБВ

Обычная версия сайта

Приоритетные направления

по году

Тематика

Новости

13 октября 2026 г.

Российские ученые поставили под сомнение установление рекорда в замерах свойств сверхпроводников

Топологические изоляторы проводят ток только по поверхности и поэтому рассматриваются как перспективные материалы для будущей электроники и квантовых технологий. Особый интерес представляет их контакт со сверхпроводниками. Физики из НИУ ВШЭ показали, что недавний эксперимент, в котором в такой гибридной структуре якобы наблюдалось объединение электронных пар на рекордном расстоянии 1,5 мкм, допускает более прозаичное объяснение. По их мнению, тот же сигнал может быть обусловлен обычным прохождением электронов через сверхпроводник. Дискуссия исследователей развернулась на страницах Nature Physics.

12 октября 2026 г.

Устойчивое управление и стоимость бизнеса: экономисты ВШЭ выяснили, как они связаны на российском рынке

На российском рынке устойчивое развитие повышает стоимость бизнеса прежде всего тогда, когда становится частью корпоративной стратегии. К такому выводу пришли исследователи НИУ ВШЭ и их зарубежные коллеги, проанализировав практики управления 152 публичных российских компаний. Статья опубликована в журнале Business Strategy and the Environment.

8 октября 2026 г.

Ученые НИУ ВШЭ выяснили, что рейтинг врача более убедителен для пациентов, чем стаж

Исследователи НИУ ВШЭ изучили, как стаж и рейтинг врачей влияют на доверие пациентов к медицинской информации. Оказалось, что люди считают более убедительным мнение врачей, у которых высокий рейтинг, а на опыт работы обращают меньше внимания. Результаты опубликованы в журнале Frontiers in Human Neuroscience.

Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!

Публикации

?

Порометрия наноразмерных пленок рентгеновским методом

С. 211–211.

Новоселова Е. Г., Смирнов И. С., Монахов И. С., Касьянов О. М.

В докладе описан рентгенорефлектометрический метод определения пористости пленок наноразмерной толщины (10-150 нм) и приведены результаты измерений пленок ПФМС.

Язык: русский

Полный текст

Ключевые слова: наноразмерные пленки porosimetry nanoscale films порометрия

В книге

Тезисы докладов Всероссийского совещания по использованию рассеяния нейтронов и синхротронного излучения в конденсированных средах (РНСИ-КС-2014)

СПб.: ФГБУ "ПИЯФ" НИЦ "Курчатовский институт", 2014.

Технология формирования и диагностика параметров растущих наноразмерных пленок

Смирнов И. С., Новоселова Е. Г., В кн.: Функциональные наноматериалы для космической техники. Труды 2-й Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых.: М.: МИЭМ, 2011. С. 31–38.

Рассмотрены вопросы определения параметров наноразмерных пленок в реальном времени их формирования методом in-situ рентгеновской рефлектометрии ...

Добавлено: 20 февраля 2014 г.

Применение метода in-situ рентгеновской рефлектометрии для определения параметров наноразмерных пленок кремния

Новоселова Е. Г., Смирнов И. С., Егоров А. А. и др., В кн.: IX Международная конференция и VIII Школа молодых ученых «Кремний-2012». Книга тезисов.: СПб.: Научно-образовательный центр нанотехнологий РАН, 2012. С. 304–304.

В докладе приводятся описание созданной экспериментальной установки для напыления наноразмерных пленок различных материалов, а также результаты экспериментов по магнетронному напылению наноразмерных пленок кремния и других материалов на различные подложки. На основе экспериментальных данных выявлены границы применимости метода и требования к процессам напыления и условиям измерения. ...

Добавлено: 13 декабря 2012 г.

Рентгеновская рефлектометрия in situ. Возможности и ограничения

Егоров А. А., Монахов И. С., Новоселова Е. Г. и др., В кн.: Труды ХХII Международной конференции «Радиационная физика твердого тела» (Севастополь, 9-14 июля 2012 г.).: М.: ФГБНУ "НИИ ПМТ", 2012. С. 354–366.

В статье подчеркивается актуальность in situ методов контроля параметров наноразмерных пленок, изложены теоретические основы метода in situ рентгеновской рефлектометрии, обосновывается перспективность данного метода по сравнению с другими широко известными методами. Авторами приведены результаты экспериментов и расчета временных зависимостей параметров (плотности, шероховатости поверхности) наноразмерных пленок углерода, алюминия и титана. На основе этих данных продемонстрированы возможности и указаны ...

Добавлено: 13 декабря 2012 г.