?
Электронная инженерия: теория параметрической чувствительности систем
Систематизированы методы исследования чувствительности выходных электрических, тепловых, механических и других физических характеристик систем к изменениям внутренних параметров этих процессов, моделирование которых может проводиться в области аналитических, структурных, топологических и морфологических представлений. Для полноты системного подхода автором дополнительно проведена разработка ряд новых методов. Показывается эффективность применения функций параметрической чувствительности в процессе проектирования систем с одновременно протекающими в них несколькими взаимосвязанными физическими процессами.
Монография предназначена для научных работников предприятий, занятых в области проектирования высоконадёжных электронных систем. Она также будет полезна для успешно работающих докторантов, аспирантов и студентов, сфера научных интересов которых связана с новыми методами анализа влияния изменений физических параметров на промежуточные и выходные характеристики электронных систем.