?
Порометрия наноразмерных пленок рентгеновским методом
С. 211–211.
The report presents the results of x-ray porosimetry of nanoscale films of polymethylphenylsiloxane.
In book
СПб.: ФГБУ "ПИЯФ" НИЦ "Курчатовский институт", 2014.