• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Глава

SPICE модели МОПТ, учитывающие эффекты старения

С. 300-307.

Рассмотрены и проанализированы схемотехнические (SPICE) модели МОП-транзисторов для учета эффектов старения (временнОй деградации) их параметров, обусловленных попаданием «горячих» носителей в подзатворный окисел вследствие сильных электрических полей в структурах МОПТ.  Рассмотрены модели, используемые в коммерческих пакетах проектирования схем, предложенные другими авторами и разработанная автором макромодель МОПТ, учитывающая указанные эффекты старения.