• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Книга

Исследование топографии поверхности функциональных наноматериалов методом растровой электронной микроскопии

Бондаренко Г. Г., Гайдар А. И.

Содержанием учебно-методического пособия является изучение метода исследования микроструктуры поверхности материалов – растровой электронной микроскопии, принципа действия растрового электронного микроскопа, а также обсуждение особенностей применения метода для исследования микроструктуры функциональных наноматериалов космической техники.

Исследование топографии поверхности функциональных наноматериалов методом растровой электронной микроскопии