• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Книга

Цифровая обработка и анализ изображений поверхностных наноструктур в сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000

М.: МИЭМ, 2011.
Бондаренко Г. Г., Львов Б. Г., Николаевский А. В.

Содержанием учебно-методического пособия является изучение методов улучшения качества изображений, полученных в сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000 в различных режимах - СТМ (сканирующей туннельной микроскопии ) и АСМ (атомно-силовой микроскопии), способов удаления искажений результатов сканирования, обработки и количественного анализа изображений.

Цифровая обработка и анализ изображений поверхностных наноструктур в сканирующем зондовом микроскопе СММ-2000